拉曼光谱遥测技术主要用于在安全距离之下对一些危险品、违禁品、变质食品等进行现场快 速检测。早期拉曼光谱遥测技术大多采用可见光或近红外激光拉曼光谱技术，为了避免环境光影响， 常在实验室或夜间进行。近年来，因日盲紫外激光的拉曼光谱检测具有共振效应强、不受环境光干 扰、人眼相对安全等诸多特性逐渐开始被广泛应用。本文在分析自然环境下远程拉曼光谱遥测技术 基础原理上，归纳了国内外可见光或近红外激光拉曼光谱遥测技术和国内外紫外激光拉曼光谱遥测 技术的研究进展和现状，分析了远程紫外激光拉曼光谱应用在反恐、禁毒和食品安全等领域的优势， 最后总结了自然环境下拉曼光谱遥测技术的研究难点和发展趋势。

本体异质结（BHJ）是有机光电探测器（OPD）最有意义的结构之一，它可以通过在溶剂中混入供体和受体并借助溶胶-凝胶方法来实现。BHJ已经被证明是调节有机半导体激子扩散长度的一种有效方法，而制备具有这种结构的有机光电探测器是一项非常重要的工作。因此，使用共轭聚合物供体聚（3-己基噻吩）（P3HT）和富勒烯衍生物受体［6，6］-苯C₆₁-丁酸甲酯（PC₆₁BM）形成活性层制备二元BHJ OPD，从而提高MgZnO紫外光电探测器的性能。结果表明，OPD的响应度可达0.721 A/W，与MgZnO紫外光电探测器相比提高了约3.9倍。此外，OPD具有更出色的检测能力、更好的响应度和更高的光暗电流比。

紫外拉曼光谱具有拉曼散射强度高、 易于荧光光谱分离、 受环境干扰影响小以及人眼安全性高等特性, 所用的紫外拉曼光谱仪采用波长266 nm激光器, 拉曼和荧光光谱会有部分重叠, 增加了准确获取拉曼光谱特征信息的难度, 进一步影响样品的辨识。 因此, 需要在分析拉曼光谱之前进行基线校正来消除荧光干扰。 根据紫外拉曼+荧光混合光谱中, 荧光光谱具有逐渐增加且接近分段线性递增的特点, 利用分段线性函数拟合荧光光谱基线是一种较简捷的方法, 于是针对传统分段线性拟合基线校正方法基线点定义过度依赖操作人员、 自动化水平较低等问题, 研究了一种改进的紫外拉曼光谱分段线性拟合基线校正方法: (1)首先求原始信号经不同次平滑迭代后的光谱数据。 由于波峰相对于基线是高频信号, 在多次平滑过程中, 波峰附近的光谱强度逐渐下降且变化较大, 基线部分逐渐上升且相对变化很小, 经不同次迭代平滑的光谱波峰和基线点处的光谱强度标准差SD差异较大。 (2)然后通过对光谱强度偏差的比较确定准有效基线点位置。 通过适当设定的阈值SD0提取出准有效基线点位置; (3)再利用线性迭代拟合法提取并修正过校正基线点。 准有效基线点将整个拉曼光谱分割成N个特征峰区间, 分别连接特征峰区间两端点得到一条直线, 若特征峰全部在直线以上表明不存在过校正, 否则区间端点向其峰方向移动并再次直线连接, 重复以上过程, 直到特征峰全部在直线以上, 得到有效基线点; (4)最后逐段直线连接所有相邻有效基线点得到整个光谱的基线。 原始光谱减去基线就是基线校正后的拉曼光谱。 通过对模拟和实际测量的紫外混合光谱的基线校正处理实验表明: 该方法能自动确定基线点位置, 且较传统方法能获得更好的基线校正效果, 为下一步的光谱分析提供更准确的光谱信息。

远距离检测主要用于人类不宜或不易接触的物品检测, 紫外拉曼光谱法是一种比较有效的远距离危险物品检测方法, 在反恐、禁毒和食品安全等领域具有广泛的应用前景。本文在分析远程拉曼光谱检测技术基本原理的基础上, 总结了紫外拉曼光谱检测技术的优势, 对远程紫外拉曼光谱检测技术的现状进行综合分析。从激光器发射、光学接收系统、光谱接收、光谱处理等方面分析了不同模块关键技术及研究现状, 分析了远程紫外拉曼光谱检测技术的研究难点和发展趋势。

为改善无边框液晶模组L0漏光, 本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究, 筛选出预固化温度＆时间、PI膜厚、TFT ＆ CT面摩擦强度、TFT ＆ CT摩擦布共7个影响因子; 选择面板翘曲度为噪声因子, 通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲, 并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合, 以此分别选取翘曲为1.8~2.1 μm及6.4~8.0 μm的面板作为噪声因子高低水平。按L8设计田口实验, 采用Jump14运行试验结果, 结果显示, 预固化温度设置为140 ℃, 预固化时间设置为130 s, PI膜厚设置为75 nm, TFT面摩擦强度设置为14 mm, CF 面摩擦强度设置为15.5 mm, 其他参数维持量产条件, S/N可得到最大值-2.63。该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04。特别地, 在漏光高发的翘曲区域, 即6.4~8.0 μm时, L0漏光均值从3.07下降到1.7, 预测漏光程度大于level 3的不良率从6.2%下降到0.2%。

介绍了背光源顶白不良，探讨了顶白的形成机理。研究发现表面光滑反射片对导光板网点间留白区域的挤压是产生顶白的根本原因。由此提出通过改善背板局部凸起高度和增加反射片粗糙度来改善顶白。结果表明：顶白发生率随背板局部凸起高度降低和反射片表面粗糙度增加而明显降低。控制模具凸棱厚度可调整回压量，进而降低背板局部凸起高度。模具凸棱厚度为0.05 mm时，背板局部凸起高度均值由无回压时的0.21 mm降低至0.11 mm，加速试验条件下对应顶白发生率由50%降低至18.7%；涂布不同大小粒子可调整反射片表面粗糙度。当反射片涂布Bead粒子径为40 μm，对应粗糙度为6.29 μm时，并搭配段差回压后背板，改善后背光源在加速试验条件下无顶白发生。同时，经光学、老化及振动测试，改善后背光源未发现其它相关不良。

调制传递函数(MTF)是评价CCD相机成像系统质量的重要参数，它能真实地反映相机拍摄时的空间频率与图像对比度的关系。CCD相机的MTF测试中最关键的是靶标的选择，它决定了整个系统的测量精度和操作过程的复杂程度。理想的靶标函数是正弦函数，但制作光出射度随正弦波规律变化的分辨率板是非常困难的，因此利用明暗相间、相互平行的黑白条纹分辨率板来代替正弦波分辨率板，提出了测量MTF的方法。重点对CCD相机在奈奎斯特频率处的MTF测试结果进行了分析与评价。

采用金属有机气相外延的方法制备高质量氮化镓薄膜。采用真空热蒸发的方法蒸镀一层金膜,通过传统紫外曝光及湿法腐蚀的方法,制备得到具有金属半导体金属(MSM)结构的紫外光电探测器。通过对器件进行不同温度不同时间的热退火处理,使器件的性能得到了改善。在3 V偏压下,器件的暗电流仅为200 pA,响应度的峰值出现在362 nm处,其对应的探测率为1.2×1011cm·Hz1/2/W。对器件性能影响的形成机理进行了深入分析,主要归因于热处理将Au原子引入到薄膜中。

最小标准模型(MSM)结构的光电探测器主要分为光导型和肖特基型两种。制备得到了肖特基型的氮化镓(GaN) MSM结构紫外光电探测器,采用这种结构的器件主要是因为其暗电流低、响应时间快、响应度大、寄生电容小等优点。MSM形状的叉指电极是通过传统的紫外光刻和湿法刻蚀得到的,并采用Au作为金属电极。得到的肖特基型GaN紫外光电探测器的暗电流在1 V偏压下为3.5 nA,器件在1 V偏压下的最大响应度值出现在362 nm处,大小为0.12 A/W,器件的上升时间小于10 ns,下降时间为210 ns。并对器件响应时间的影响因素进行了深入的分析。