作者单位
摘要
1 华中科技大学武汉光电国家研究中心,湖北 武汉 430074
2 华中科技大学信息存储系统教育部重点实验室,湖北 武汉 430074
3 深圳华中科技大学研究院,广东 深圳 518057
光学数据存储技术虽然在存储寿命和功耗上具有显著优势,但在应对大数据纵深发展趋势时,目前的一些光存储技术在容量和密度方面面临严峻的挑战。相比于其他光存储技术,双光束超分辨光学数据存储技术在光学大数据存储产业化方面展现了明显的容量和密度优势。本文针对双光束超分辨光存储技术,全面介绍了该技术在光存储技术产业化应用中亟待解决的核心关键问题,并着重讨论了解决这些问题所需要采用的基本方法。
光存储 双光束超分辨光存储 超高密度 超分辨伺服定位 optical data storage dual-beam super-resolution ultra-high high density super-resolution positioning 
光电工程
2019, 46(3): 1
Author Affiliations
Abstract
1 Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China
2 Key Laboratory of Information Storage Systems, Ministry of Education, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China
3 Shenzhen Research Institute of Huazhong University of Science and Technology, Shenzhen 518057, China
Fractional density of states (FDOS) hinders the accurate measuring of the overall spontaneous emission (SE) control ability of a three-dimensional (3D) photonic crystal (PC) with the current widely used SE decay lifetime measurement systems. Based on analyzing the FDOS property of a 3D PC from theory and simulation, the excitation focal spot position averaged FDOS with a distribution broadening parameter was proposed to accurately reflect the overall SE control ability of the 3D PC. Experimental work was done to confirm that our proposal is effective, which can contribute to comprehensively characterizing the SE control performance of photonic devices with quantified parameters.
160.5298 Photonic crystals 
Chinese Optics Letters
2019, 17(4): 041601

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