计算机控制光学元件面形修复（Computer Control Optics Surfacing, CCOS）需要通过计算驻留时间，反复迭代，从而得到更小的误差。因为干涉测试过程中边缘面形测试的条件限制，只能得到更小孔径的误差分布图，所以面形的预测性延拓是磁流变抛光、离子束抛光等加工方式的基础技术。基于面形误差的相似性和边缘误差的连续性为出发点，开发了采用基于Zernike拟合和Laplace方程配合的方法进行光学元件面形误差边缘延拓技术。开展了相关理论分析，设计相关算法并实现了延拓过程，延拓结果符合面形相似形和连续性的加工要求，采用直接法和残余误差计算方法对延拓结果进行评估，结果证明了延拓方法的有效性。