针对当前液晶显示器前壳缝隙开口处的填充材料工艺设计复杂的问题，选取高导电性的金属粒子填充层作为导电面层，碳布层作为屏蔽面层，柔性硅橡胶作为中间基体层，设计一种层状结构导电橡胶。通过结构设计实现了导电橡胶低硬度和高导电性的协同。结果表明，当硅橡胶的硬度为35，体积电阻率为0.01 Ω·cm时可满足显示器产品的密封、防水和电磁屏蔽应用要求。

在TFT-LCD面板缺陷检测中，检测对象背景复杂、缺陷细微且种类繁多，而工业生产实时性要求高，传统的缺陷分类算法往往难以兼顾精度和速度要求，无法适用于实际生产应用。为均衡TFT-LCD面板缺陷分类的准确率和速率，提出一种基于Swin Transformer的轻量化深度学习图像分类模型。首先对模型每层输入的特征图进行Token融合以减少模型计算量，从而提高模型的轻量化水平。其次引入深度可分离卷积模块以帮助模型增加卷积归纳偏置，从而缓解模型对海量数据的依赖问题。最后使用知识蒸馏方法来克服模型轻量化导致的检测精度下降问题。在自制TFT-LCD面板缺陷分类数据集上的实验表明，本文提出的改进模型相比基线模型，FLOPs计算量降低了2.6 G，速度指标提升了17%，而Top-1 Acc精度仅损失1.3%，且与其他图像分类主流模型相比，在自制数据集和公开数据集上都具有更均衡的精度和速度。

Indium-tin-zinc oxide (ITZO) thin-film transistor (TFT) technology holds promise for achieving high mobility and offers significant opportunities for commercialization. This paper provides a review of progress made in improving the mobility of ITZO TFTs. This paper begins by describing the development and current status of metal-oxide TFTs, and then goes on to explain the advantages of selecting ITZO as the TFT channel layer. The evaluation criteria for TFTs are subsequently introduced, and the reasons and significance of enhancing mobility are clarified. This paper then explores the development of high-mobility ITZO TFTs from five perspectives: active layer optimization, gate dielectric optimization, electrode optimization, interface optimization, and device structure optimization. Finally, a summary and outlook of the research field are presented.

TFT的低功耗特性能够减少电子设备的能量消耗，从而达到节省能源、延长电池寿命、降低使用设备温度、提高显示质量的目的。因此，低功耗TFT在电子设备的设计和制造中具有十分重要的作用。TFT基板的结构有很多种类，通常可分为一般型、高温多晶硅型、低温多晶硅型、金属氧化物半导体型和柔性材料基板型。本文对现有的TFT基板显示器件的低功耗研究进行总结分析，主要包括两大方面：对TFT基板本身驱动进行优化；对TFT基板外设驱动进行优化。本文对两大方面的低功耗研究进行了综述，并对近年来国内外TFT低功耗方法研究进行详细介绍。根据所介绍的方法的特点与其尚未攻克的困境，对TFT基板显示设备低功耗驱动的未来发展进行了展望。

大尺寸薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD）显示器为节省黑色矩阵（Black Matrix，BM）制程降低面板成本，使用黑色膜柱（Black Photo Spacer，BPS）技术替代BM和PS（Photo Spacer）制程，同时为兼顾对组精度提升的需求，采用BOA（BPS on Array）技术，将BPS转移至阵列基板侧。原BM制程是第一道制作，而新的BPS制程则位于阵列最后一道制程。BPS曝光成型需使用阵列前制程的金属标（Metal Mark）进行精准对位，实现精细化图案。BPS的透过率低，致使CCD摄像机透过BPS抓取前制程的金属标进行对位非常困难。针对该技术难题，对曝光设备抓标的原理进行了分析，通过调整材料颜料组成，获取了不同透过率BPS材料。将不同透过率的BPS材料进行曝光成型，研究曝光对位过程对材料透过率的最低要求，同时遮光度尽可能大。实验结果表明，NSK曝光机对位灯源波长位于780~1 000 nm红外区域，在该波段BPS材料透过率低于23%时会导致对位失败。通过使用有机-无机混合颜料组成取代有机混合颜料，在红外波段可获得接近90%的透过率，满足对位需求。同时固化成型后可获得1.2/μm光学密度，满足BPS产品遮光特性需求。以此制作的BPS面板光学指标满足产品规格。

针对双屏显示产品Gamma曲线分离现象，通过实物解析、电学实验、工艺过程数据及调整工艺条件等实验进行验证，并结合大量验证数据进行机理研究。通过实物测量可知上下屏的液晶盒盒厚及像素电极CD存在差异，因此导致上下屏的透过率不同，进而造成上下屏Gamma差异。通过工艺调查验证得出液晶盒盒厚及像素电极CD差异是受到设备硬件影响导致涂胶起涂位置均一性差造成的；最终通过上下屏间封框胶封闭、最适化膜厚导入及波动范围内像素电极CD增大等工艺改善，将Gamma曲线分离不良彻底改善（不良发生率12%），提高了产品画面显示品质。

研究了6世代线生产的A产品边角白点不良问题。首先针对不良进行实物分析，然后利用Minitab软件的二元逻辑回归方法进行了数据分析，最后通过不同的工艺试验条件对不良进行改善。实验结果表明：不良区域封框胶被金属走线遮挡，遮挡比例是边角白点不良的重要影响因素；TOF‑SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）进一步分析发现不良区有更高含量的封框胶成分（丙烯酸类、双酚A类）。封框胶被金属走线遮挡，造成该区域封框胶固化不完全，导致封框胶成分析出溶入液晶，继而影响液晶正常偏转，产生边角白点不良。通过调整边角处的封框胶画法，可以有效降低不良率。实验改善了边角白点不良，为A产品的顺利量产打下了坚实基础。

分析了IGZO⁃TFT器件的基本特性及电性不稳定性影响因素。对有源保护层薄膜性能与TFT电学特性的依存关系给出了合理解释，并通过实验验证优化了有源保护层制备手法，解决了因有源保护层SiO₂致密性引起的TFT开关阈值电压左向偏移显示不良问题；同时还基于IGZO⁃TFT总结了PECVD SiO₂薄膜特性与沉积各重要因素间的关系。