针对土壤遮挡时根系图像信息不全的问题, 提出一种热红外成像根系表型检测方法, 结合Criminisi改进算法实现根系图像信息的增强和修复, 并研究玉米根系表型与种子活力之间的关系。 首先, 设计一种适应于玉米根系构型的环形双层石英培养装置迫使玉米根系贴壁生长, 分别将老化0, 1, 3和6 d的玉米种子种植在环形培养装置中。 基于水和土壤比热容具有显著差异的特点, 利用水对玉米苗根茎进行滴灌, 并通过热空气对培养装置中的玉米根系进行短时热激励, 再用红外热像仪采集根系红外热像, 利用土壤与根土间隙水流温度的差异实现土壤遮挡处根系的热成像。 其次, 对预处理后的根系热像, 进行端点和最佳匹配对判定, 并利用Criminisi改进算法对红外热像中的断根连接, 实现根系热红外图像的修补。 最后, 利用以上方法分别对不同老化天数的玉米种子幼苗进行根系表型检测验证。 结果表明, 所提出的热红外成像方法可有助于土壤遮挡处根系的表型图像信息增强, 比彩色图像提取的根系表型参数精度提高约0.5%~10%。 玉米种子老化1d后其根系表型参数总根长（RTL）和总根数（RTN）未见明显差异, 但老化3d和6d的种子其根系表型参数具有显著差异, RTL减少20%～35%, RTN减少10%～55%, 反映了玉米种子长时间老化后其活力存在显著下降。 不同老化天数的玉米根系表型参数RTL和RTN均与老化天数呈显著负相关, 可作为种子活力的重要指标参数, 其中, 种子根系RTN参数对老化更为敏感, 更能够直观反映种子的活力水平, 老化1和3 d的种子发根与未老化种子相比均推迟1 d; 老化6 d的种子其发根则推迟2 d, 且后续根系发育一直迟缓。 所提的基于热红外成像的根系表型检测结合Criminisi改进算法的根系表型检测方法, 可用于作物根系表型高通量无损检测, 具有广阔的应用前景。

将热红外成像技术和低空遥感技术相结合, 基于冠层和叶片两个尺度对菌核病侵染油菜的过程进行检测研究。 从冠层尺度分析, 首先获取整株样本的温度值（平均温度与最大温差）, 并采集其生理指数（气孔导度、 CO2浓度、 蒸腾速率及光合速率）。 然后, 将染病样本与健康样本的温度值进行判别分析, 并对其进行单因素方差分析。 从结果可知, 平均温度和最大温差值都可以对染病样本与健康样本进行区分, 且最大温差相较平均温度结果较明显。 同时单因素方差分析也显示, 最大温差三次检测中均存在显著性差异。 对获取的生理指数进行分析, 发现染病样本与健康样本之间可以通过生理指数进行明显区分。 另外, 将生理指数与叶片温度进行相关性分析, 结果表明二氧化碳浓度与叶片温度之间的三次检测均存在显著性差异。 基于叶片尺度, 首先从单一叶片来看健康区域和染病区域的温度差异, 可以明显区分出染病区域和健康区域的温度差异。 然后, 提取健康区域与染病区域的的温度值（最大温度、 最小温度、 平均温度以及最大温差）对进行对比分析, 并对其进行单因素方差分析。 结果表明, 以上四个温度指标均可以区分叶片的染病区域和健康区域。 但根据单因素方差分析结果可知, 与冠层尺度相同, 最大温差三次检测中均存在显著性差异, 可以实现对油菜菌核病的早期识别。

高灵敏度热红外成像系统的灵敏度是最重要的指标。经过简单非均匀性校正的红外图像已不能满足高灵敏度场合的需要，需要后续对红外图像条纹噪声进行处理，以提高红外图像的灵敏度水平。为了进一步提高热红外成像系统的应用效果，全面分析了系统的图像噪声模型，提出并实施了一种基于硬件系统的条纹噪声去除方法，通过一套自行研制的制冷型热红外成像系统的实测数据实际验证了提出方法的实际效果，由非均匀性噪声引起的 NETD从 26 mK降到 19 mK。

长波红外(8?12.5 m)焦平面的性能在很多方面弱于中短波红外器件，其非均匀性及盲元状况较严重。本课题首次在国内引进了法国Sofradir公司的320×256像元HgCdTe长波红外焦平面探测器MARS VLW RM4，其波长响应范围为7.7 ?12 m。基于一套高帧频低噪声信息获取系统，经过动态范围标定，实现了一套动态范围为250?330 K、噪声等效温差(Noise Equivalent Temperature Difference, NETD)小于50 mK的热红外成像系统。针对焦平面各像元的响应特性，研究了适用于热红外成像系统的非均匀性及盲元校正方法，提出了基于辐射定标的非均匀性校正和盲元检测。经实验验证，其校正效果优于两点定标法，且易于工程实现，基于辐射定标的结果可实现精确的温度反演。

非制冷红外热像仪在**和民用领域具有广阔的应用前景。在空间或**应用中,环境温度变化对系统成像质量影响很大。红外光学系统对温度变化非常敏感,温度的变化引起镜片间距的改变等,使系统产生离焦等热像差,从而使系统成像质量下降。利用光学设计软件Zemax的多重结构功能分析了红外光学系统在-20～60℃ 温度范围内的光学传递函数变化情况,结果表明系统的传递函数下降很小,满足设计指标的要求。