1 中国科学院高能物理研究所 北京 100049
2 中国科学院大学 北京 100049
基于模数转换器（Analog-to-Digital Converter，ADC）的数字测量系统，对采样数据的信噪比具有较高要求；在各项因素中，采样时钟的抖动对信噪比的影响最为突出。为滤除输入时钟的抖动，采用德州仪器双环路PLL架构的LMK04610芯片，设计了基于双锁相环的时钟电路；经测试，可以把频率为62.475 MHz源时钟大于7 ps的抖动降低到2 ps以下输出频率为499.8 MHz的时钟信号；提供给ADC芯片采样，其采样数据信噪比接近理论值。双锁相环滤除抖动方案，效果良好，可以为数字测量系统设计人员提供借鉴。
数据采集 双锁相环 抖动滤除 ADC信噪比 Data acquisition Dual-loop PLL Jitter cleaner SNR of ADC
1 山西大学 物理电子工程学院,山西 太原 030006
2 山西大学 光电研究所,量子光学与光量子器件国家重点实验室,极端光学协同创新中心,山西 太原 030006
利用有限元分析技术定量仿真了重力场中双横梁支撑式三角形模式清洁器形变引起的腔长变化,得到在横梁宽度160 mm、偏移975 mm为振动最不敏感的横梁参数,模式清洁器在重力加速度中腔长变化率的最小斜率为067×10-10 mm-1;并通过模态分析与随机振动分析,确定了基模的振动频率为59 kHz,获得了适用于千赫兹以下低频压缩光产生的模式清洁器工作频段。
模式清洁器 有限元分析 压缩光 mode cleaner finite element analysis squeezed light
TFT-LCD面板生产过程中会出现各种Mura, 尤其是电视大尺寸产品, 对显示均一性要求很高。Mura现象种类多, 原因差异性大, 本文分析的Mura属于电视面板的特殊不良。为解决此黑Mura, 首先进行了实物分析研究, 通过液晶盒特性、表面微观以及电学分析确认实物未见明显异常, 为极微观异常。采用目前实际可操作方法很难进行深入分析, 需依靠工艺验证来明确, 因此通过工艺验证确认到不良为配向膜清洗机相关, 而清洗机独立单元繁多。依据不良可能的原因以及实际生产线的运营状况, 设计了5项相关可行性实验: 清洗速度降低, 清洗后增加静置时间, 紫外光清洗强度提升, 毛刷远离基板以及清洗机高压二流体喷淋压力调整。通过以上工艺验证结果, 推理出不良形成原因为电荷残留, 并提出两个合理可行的改善方向, 首先是减少基板在高压二流体喷淋下的停留, 其次为增加监控或关闭高压二流体喷淋, 使不良从0.94%降低至0.00%, 提升了产品品质。
黑Mura 清洗机 工艺验证 电荷残留 TFT-LCD TFT-LCD black Mura cleaner process verification electrostatic remain
在液晶显示面板行业, 边缘场开关技术在生产过程中易导致Zara不良的高发, 降低产品良率, 导致生产成本增加。Zara不良根据点灯现象可以分为散状Zara、团状Zara、辉点数和未确认面板污渍类4类。经大量取屏分析, 发现Zara不良与摩擦后清洗机的内部洁净度和清洗能力有较大关联。本文从过滤器滤径减小、KOH流程优化、直供水改造、腔室污染降低等方面进行了改善研究, 通过机理分析和大量试验验证, 将Zara不良由0.74%改善至0.24%, 验证了提升摩擦后清洗机洁净度对Zara不良改善有重要作用, 同时也取得了良好的经济效益: 年收益1 338万元。
摩擦后清洗机 直供水 滤径 微生物 洁净度 Zara Zara after-rubbing-cleaner direct water supply cleanliness microorganism cleaning capacity
1 山西大学 光电研究所,量子光学与光量子器件国家重点实验室,山西 太原 030006
2 山西大学 极端光学协同创新中心,山西 太原 030006
为了便于连续变量量子光学实验研究,我们设计了基于微控制器(MCU)的自动锁定控制系统,可以用于光学模清洁器腔长的自动锁定。该系统利用模数转换识别信号,通过MCU完成相关数据分析和计算,再由数模转换完成信号输出,实现了系统的自动锁定,而且在失锁发生后,系统能自动切换工作模式,实现模清洁器的重新锁定,完成重新自动锁定所需时间基本小于01 s,其锁定之后激光功率波动小于1％。
自动锁定 光学模清洁器 微控制器 autolocking optical mode cleaner microcontroller
异物是TFT-LCD制程常见的顽固缺陷, 在高世代线(8.5代线)以摩擦工艺生产mobile产品时不良发生率更高。本文针对8.5代线生产Mobile产品时所产生的异物进行原因及机理分析, 发现该异物来源于摩擦制程, 产生机理为: 摩擦辊在玻璃基板上摩擦时, 布毛容易刮起配向膜而产生细小的PI碎屑。为此本文从摩擦强度、单辊摩擦和光配向工艺进行实验, 实验结果显示: 对于改善细小的PI碎屑最优工艺为光配向, 异物不良由2.34%降至0.41%。在最优的光配向工艺条件下继续优化清洗机条件: 在高压气液混合喷射(HPMJ)的压力8 MPa、清洗机速度6 600 mm/min和风刀喷淋(AK Shower)打开条件下异物不良降至0.16%, 改善效果明显。
异物 Mobile产品 单辊摩擦 光配向 清洗机 particle mobile product single roller friction optical alignment after rubbing cleaner
1 山西大学光电研究所量子光学与光量子器件国家重点实验室, 山西 太原 030006
2 山西大学极端光学协同创新中心, 山西 太原 030006
研究了高压缩度压缩态光场制备中高斯光束的空间模式匹配问题。研究结果表明, 对于较小的目标腰斑, 注入光的腰斑位置和大小的允许偏移范围较小, 且模式匹配效率受腰斑位置偏离度的影响大, 而对于大腰斑, 情况则相反。此外, 激光光斑的椭圆率和像散、非线性晶体的热效应均会导致模式匹配效率下降。非对称结构的腔型可以扩大与光学参量腔匹配的激光束腰斑位置所允许的偏移范围, 更易实现高的模式匹配效率。
量子光学 压缩态光场 光学参量放大器 模式清洁器 模式匹配 中国激光
2017, 44(11): 1112001
山西大学光电研究所量子光学与光量子器件国家重点实验室, 山西 太原 030006
采用自制的795 nm 连续单频可调谐钛宝石激光器抽运周期极化磷酸氧钛钾(PPKTP)晶体，通过外腔谐振倍频技术获得了功率为103 mW，倍频转换效率为39.6%、光束质量因子M2<1.43 的397.5 nm 紫光输出；与角度匹配的三硼酸铋(BIBO)晶体内腔倍频情况相比，紫光与光学参量放大器(OPA)的模式匹配效率由76%提高到了99%以上。同时，在平衡零拍探测系统中，通过在本底光光路中插入与OPA 腔型相同的模式清洁器，使得本底光与信号光的空间模式完全相同，从而将两束光的干涉效率提高到了99%以上，提高了平衡零拍系统的探测效率。通过对自制的795 nm 和397.5 nm 单频激光系统的优化设计，使该光源满足了小型化795 nm 连续变量压缩源样机研制的要求。
激光光学 单频激光 外腔倍频 模式清洁器 模式匹配 干涉效率
中国工程物理研究院激光聚变研究中心， 四川 绵阳 621900
对光克尔脉冲净化器中，不同双折射度光纤中相干耦合效应对光克尔脉冲净化器透射率以及输出脉冲的时间波形、光谱以及脉冲自身透射率等特性进行了模拟分析。结果表明：高双折射光纤中，两偏振光的相干耦合效应影响可以忽略；普通单模光纤中两偏振光的相干耦合导致透射率幅值变化在±1%左右；低双折射光纤中相干耦合效应影响较大，且相干耦合效应对输出脉冲时间波形与光谱以及脉冲自身透射率曲线都有一定影响。
光纤光学 脉冲净化 光克尔效应 相干耦合 模式双折射 光学学报
2011, 31(s1): s100310
