多余物引起航天、航空产品发生故障的案例有很多。红外探测器多余物的动态位移，会导致瞬时闪现的圆形影像故障，干扰红外弱小目标检测识别与跟踪；或者碰撞焦平面阵列产生无效像元，影响热成像系统的最小可分辨温差和作用距离。通过分步拆卸查找故障器件内的可排除宏观微粒，运用扫描电镜检测识别多余物，梳理制造过程和使用过程中出现多余物的来源和产生过程，提出必须从生产源头预防和控制多余物的途径和方法。力学和光学分析计算表明，宏观微粒破坏成像光束在焦平面上的光强分布，它位移掠过视场的时间小于 50 ms，线度小于 1 mm衍射现象显著，圆形影像大多发生在夫琅禾费衍射区域，线度 10.m大小的多余物靠近焦平面阵列产生菲涅耳衍射斑。

首先引入新型油酸配位剂，解决已有溶液法成膜较差的问题，接着引入紫外/红外双光源退火工艺，制备了氧化锆薄膜。与传统的热退火工艺相比，双光源退火能够在较低温度下实现锆盐的分解、还原、氧化，形成高质量氧化锆薄膜。采用紫外分光光度计、原子力显微镜和X射线光电子能谱仪等对制备的氧化锆薄膜进行了表征对比，进而分析了成膜的物理机理。结果表明：所用方法成功实现了低温条件下(<120 ℃)高质量氧化锆薄膜的制备，薄膜的光学带隙约为5.66 eV，相对介电常数约为22.6，漏电流密度小于10^－9 A/cm²@4 MV/cm，表面粗糙度为0.28 nm。最后，基于该氧化锆薄膜绝缘层制备出了低驱动电压的稠合噻吩-吡咯并吡咯二酮聚合物薄膜晶体管，其迁移率为0.50 cm²/(V·s)，阈值电压为－0.47 V, 电流开关比3.6×10⁷，亚阈值摆幅为0.16 V/dec。

针对TC4合金叶片经常性表层裂纹萌生、体积损伤以及修复材料成本高的工程实际, 优选FeCrNiB系以及TiAlVFe系合金材料, 基于脉冲激光成形工艺优势, 实现了TC4合金叶片表层裂纹及体积损伤修复, 从成形工艺、金相组织、显微硬度以及三维尺寸等方面验证了工艺匹配性。结果表明: FeCrNiB合金熔覆层主要由细小致密的等轴晶、交错分布的树枝晶以及均匀分布的胞状晶组成, 而TC4合金主要由针状马氏体和网篮组织交错伴生组成, 都具有较好的组织形态。FeCrNiB合金熔覆层显微硬度为380~750 HV0.1, 较基体提升约1倍; TC4合金熔覆层显微硬度为295~350 HV0.1, 与基体基本保持一致。叶片成形后整体形状尺寸精度控制在0.8 mm以下。通过激光工艺优化和性能匹配分析可知, FeCrNiB合金适合局部微裂纹修复, 而TC4合金适合体积损伤成形。

提出了测量物体比辐射率的二次照度四次测量法.根据自主研制的仪器表明该方法和设计能够测量到与照射到被测目标完全一致的热辐射源辐照度, 并且能够排除传感器镜头、腔壁等的干扰.不仅提高测量精度, 而且可以设计成小尺寸便携式的比辐射率测定仪.设计的1000 w/m2以上的强热辐射源, 大幅度提高仪器信噪比.为了补偿在强热辐射源下的被测目标的增温, 提出了在非同温系统中求解比辐射率普适表达式以及补偿增温的“过程法”.从而解决了在非同温系统中温度变化造成比辐射率测量误差的瓶颈问题.三种比辐射率测量方法对比表明, 该方法优于其它两种方法.

在运用离差最大化法对多层指标体系底层指标赋权时, 没有考虑底层指标对于上层指标的隶属关系, 使其在进行多方案多指标效能评估时会造成算法的兼容度差, 不利于决策者选择出正确的赋权方法。为此, 引进层次分析法中对于上层指标的赋权方法, 通过对同一隶属关系下的各个底层指标分别利用离差最大化法赋权, 再根据底层指标对于上层指标的隶属关系进行加权求和。最后, 以某航空**信息网络中基本通信能力的效能评估为例, 对其底层指标进行赋权。结果表明, 改进的离差最大化弥补了离差最大化法赋权时的兼容度较差和可靠性低的缺陷, 赋权更加合理有效。