作者单位
摘要
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海 20093
为了提高低折射率化学物质监测的灵敏度,采用光子晶体光纤设计了一种在开环内镀有金薄膜的表面等离子体共振传感器。利用仿真软件COMSOL Multiphysics 5.6系统地研究了开环半径、内部气孔大小、金属膜层厚度对该传感器灵敏度的影响。最终在2800~4700 nm的工作波段内设计出折射率检测范围为1.26~1.31的低折射率传感器。该传感器平均灵敏度高达22 500 nm/RIU,最高灵敏度达33 000 nm/RIU。在七氟醚、卤代醚、含氟有机物等低折射率物质检测方向具有较好的应用前景。
低折射率检测 光子晶体光纤 高灵敏度 宽工作波段 low refractive index monitoring photonic crystal fiber high sensitivity wide working band 
光学仪器
2023, 45(4): 80
作者单位
摘要
中北大学仪器与电子学院,山西 太原 030051
设计了一种基于D形光子晶体光纤(PCF)的新型等离激元传感器,用于检测低折射率的微小变化,并通过有限元法(FEM)对其性能进行了数值分析。与传统D形PCF不同,本文提出在D形光纤截面处刻蚀C型凹槽通道,并涂覆Au层来激发等离激元。C形凹槽通道的设计可以增强纤芯的能量泄露以及光纤芯模和等离子体模的耦合强度。在Au层上方增覆一层TiO2介电层,可以增强对金属层的保护和提高传感器的灵敏度,将PCF表面等离谐振(PCF-SPR)传感器的工作波长范围扩展到红外区域,仿真结果得到的最大灵敏度为24236 nm/RIU。该传感器可以有效监测低折射率的微小变化,对于生物医学和有机检测及相关应用具有潜在的价值。
光纤光学与光通信 光子晶体光纤 等离激元 低折射率检测 高灵敏性 限制损耗 
激光与光电子学进展
2023, 60(7): 0706006
作者单位
摘要
兰州理工大学 理学院,兰州 730050
为探测在近红外和中红外的低折射率物质,提出一种新型的基于D形开环光子晶体光纤的金表面等离子体共振低折射率传感器,并用有限元方法对该传感器的传感性能进行了分析。结果表明该传感器在波长2 020 ~3 036 nm范围内可检测1.18~1.30的折射率;在1.23到1.30的低折射率范围内,该传感器的光谱灵敏度平均值为11 650 nm/RIU;当折射率在1.29到1.30之间变化时,光谱灵敏度和分辨率可分别达到最大值38 800 nm/RIU和2.37×10-6 RIU。该传感器可实现近红外和中红外波段的低折射率检测,在生物医学传感、水环境及湿度检测等领域具有潜在的应用前景。
光纤传感 表面等离子共振 有限元法 光子晶体光纤 低折射率传感器 Optical fiber sensor Surface plasmon resonance Finite element method Photonic crystal fiber Low refractive index sensor 
光子学报
2022, 51(9): 0906007
作者单位
摘要
1 华北电力大学电子与通信工程系,河北 保定 071003
2 华北电力大学河北省电力物联网技术重点实验室,河北 保定 071003
3 华北电力大学保定市光纤传感与光通信技术重点实验室,河北 保定 071003
4 华北电力大学电气与电子工程学院,河北 保定 071003
为实现低折射率药物、化学材料的高灵敏度监测,基于D型光子晶体光纤(PCF)设计了一种在开环内镀有金薄膜的表面等离子体共振(SPR)传感器。采用有限元法系统地研究了开环半径、D型结构与纤芯的距离和金膜厚度对所提传感器的波长灵敏度的影响。结果表明,当分析物折射率范围为1.28~1.32时,该PCF-SPR传感器的最大波长灵敏度高达15346 nm/RIU(RIU为折射率单位),相应的分辨率为6.52×10-9 RIU。与现有的研究相比,在同一折射率测量范围内,该PCF-SPR传感器的波长灵敏度和分辨率分别是已有的典型PCF-SPR传感器的1.28~6.67倍和153/1000~783/1000。因此,该PCF-SPR传感器在生物医学、食品安全和物质监测等领域中具有较好的应用前景。
光纤光学 表面等离子体共振 光子晶体光纤 低折射率传感 高灵敏度 
光学学报
2022, 42(20): 2006002
作者单位
摘要
1 南京航空航天大学理学院, 江苏 南京 210016
2 南京林业大学理学院, 江苏 南京 210037
3 南京航空航天大学航天学院, 江苏 南京 210016
设计并优化了一种基于外反射原理的狭缝波导结构,可以实现将光限制在低折射率材料中传播且能量更为集中。这种狭缝波导由两块对称的高折射率板、中间一层低折射率狭缝和外围的包层构成。利用有限元分析方法,在入射波长为1550 nm的情况下,仿真研究了包层大小、狭缝高度、狭缝宽度和板宽度这4个关键参数对二维波导结构光场传播的影响,并对这些结构参数进行优化调整,使得能量更加集中在低折射率的狭缝中。利用优化后的参数建立三维波导模型,研究三维空间中电场的分布情况,证明了利用所设计的波导结构,可以将光限制在低折射率材料中传播。
光学器件 狭缝波导 外反射 有限元分析 光限制 低折射率材料 
激光与光电子学进展
2020, 57(13): 132303
作者单位
摘要
桂林电子科技大学机电工程学院, 广西 桂林 541004
根据杂化表面等离激元的产生机理和传统杂化表面等离激元的波导结构,提出了一种多层波导布拉格光栅结构。该结构采用SiO2和NaF两种低折射率介质作为芯层,形成了多层波导布拉格光栅的结构。在1550 nm通信波长下,围绕光波的传输距离和模场限制能力对光栅的结构进行了研究及优化。在此基础上,进一步分析了光栅周期数与光波反射率之间的关系。仿真结果表明:该光栅的传输距离和有效模场面积分别为178.12 μm和0.203 μm 2;该结构不仅可以降低金属表面对光场限制所形成的损耗,而且表现出了较强的模场限制能力;当周期数为60时,光波的反射率能够达到71.9%,该结构具有良好的滤波特性。
衍射 布拉格光栅 杂化表面等离激元 低折射率材料 滤波特性 光学器件 
光学学报
2018, 38(1): 0105002
作者单位
摘要
1 北京交通大学理学院, 北京 100044
2 中央民族大学理学院, 北京 100081
基于有机半导体发光材料,研究了低折射率对比度下八重准晶结构中双缺陷微腔之间的缺陷模的耦合特性。研究结果表明,在八重准晶双9孔缺陷情况下,缺陷模不但发生了分裂,还出现了一个由双缺陷微腔与中间散射体所构建的复合腔新模式。在此基础上,利用缺陷模的三维场分布和模式之间的相位关系,揭示了模式耦合的物理机制,这为后续可见光波段有机半导体光子晶体器件的设计与制备提供了理论依据。
材料 准晶 缺陷模耦合 低折射率对比度 复合腔 
光学学报
2018, 38(2): 0216003
作者单位
摘要
乐山师范学院 物理与电子信息工程学院, 四川 乐山 614004
采用金属网格和泡沫材料实现低折射率材料媒质,并对其参数进行了优化,辐射源采用单极天线,制作了样机。利用HFSS电磁仿真软件对应用低折射率材料媒质天线与传统天线的方向性进行了对比研究,并研究了辐射源的参数对定向天线的性能影响。对样机进行了测试,测试结果与仿真结果比较吻合,与传统天线相比较,基于超低折射率特异材料的天线方向性明显提高。因此,选择适当电磁参数的超低折射率特异材料,用于定向天线的设计,可以改变传统天线的设计。
微波天线 电磁材料 低折射率材料 天线方向性 microwave antenna metamaterials low refractive index medium antenna directionality 
强激光与粒子束
2014, 26(1): 013006
作者单位
摘要
电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 成都 610054
优化设计了多种不同孔径和形状的太赫兹波段的亚波长金属孔阵列结构,结合超薄低折射率的聚酰亚胺(PI)薄膜,探索了太赫兹时域光谱技术对超薄低折射率的探测灵敏性。利用飞秒微加工技术制备了一系列亚波长金属孔阵列结构,利用太赫兹时域光谱技术测试了阵列结构的反射波谱,获得了强烈的反射共振现象。然后在亚波长金属孔阵列结构背面叠加PI薄膜,结果表明太赫兹反射峰出现了显著低频移动现象。利用这一现象,实现了低至10 μm的PI薄膜的有效探测,说明亚波长金属孔阵列结构在太赫兹传感领域对检测超薄低折射率薄膜材料有极强敏感性。
太赫兹 金属孔阵列 超薄聚酰亚胺薄膜 低折射率 terahertz metal hole arrays ultra-thin polyimide film low refractive index 
强激光与粒子束
2013, 25(6): 1479
作者单位
摘要
1 广州市光机电技术研究院,广东 广州510663
2 暨南大学 理工学院,广东 广州510632
利用斜角蒸镀工艺镀制SiO2薄膜是获得低折射率薄膜的一个有效方法。通过电子束蒸发镀膜方式,利用自制的斜角蒸镀装置,研究了SiO2材料在斜角蒸镀工艺中薄膜倾斜角度与沉积角度的关系,薄膜沉积厚度与设定厚度的关系,薄膜折射率与沉积角度的关系。实验表明利用斜角蒸镀工艺镀制低折射率薄膜是可行的。实验得到了折射率为1.10的SiO2薄膜,并得到了重要的SiO2的折射率与沉积角度关系曲线。
低折射率 SiO2 薄膜 斜角蒸镀工艺 low refracting index SiO2 film glancing angle deposition process 
光学仪器
2012, 34(5): 89

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