主要从三个不同角度探究并分析了基于InGaN材料的高压LED的发光效率优于传统大功率LED的原因。为了保证实验结论的可靠性, 文中所采用的实验样品具有相同的芯片尺寸和材料以及相同的封装结构。经过大量的实验证明, 更均匀的电流分布和小芯片间隙的出光, 使得高压LED的发光效率优于传统大功率LED。结果显示, 在相同的1 W输入功率下, 高压LED的发光效率比传统大功率LED高大约4.5%。

发光二极管（LED）的光强空间分布特性决定了它能否满足特定场合的应用。大功率LED 由于发热量大，其绝对光强空间分布(LISD)的测试也必须在特定热沉温度下进行才能得到准确可靠的结果。设计了一个可对大功率LED 进行热沉温度控制且快速实现LISD 自动测试的系统。该自动测试系统基于LEDGON-100 测角光度计及其高精度的二维旋转台，配合测试适配器、温度控制器、光度探头、Keithley 2400 源表和测试软件组成。测试软件基于Delphi 程序语言开发。在控温条件下，该LISD 自动测试系统稳定可靠，测试时间大大缩短，测试结果实时直观。利用该自动测试系统对具有朗伯型和蝙蝠翼型两大LISD 类型的LED 进行测试,获得它们的二维LISD 和三维LISD。实验结果表明：随着热沉温度的增加，光强绝对值下降，而相对LISD 却不变。