1 中国电子科技集团公司 第二十六研究所, 重庆 400060
2 2. 重庆市固态惯性技术企业工程技术研究中心, 重庆 401332
3 重庆市固态惯性技术工程实验室, 重庆 401332
贮存寿命是长使用周期、高可靠性产品的重要考核指标之一。为评估某型加速度开关的贮存寿命, 该文采用温度应力四量级水平恒定应力加速试验方法研究了加速度开关的退化过程, 并将阿伦尼斯加速模型与漂移布朗运动相结合, 建立了产品的可靠性模型。最后采用极大似然和最小二乘法对试验数据进行了拟合分析。结果表明, 某型加速度开关在100 ℃的加速量级下, 其等效贮存年限可达33年, 满足产品有效贮存期的要求。
阿伦尼斯模型 布朗运动 加速退化试验 温度应力 贮存寿命 Arrhenius model Brownian motion accelerated degradation testing temperature stress storage life
1 中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬态光学与光子技术国家重点实验室，陕西 西安 710119
2 中国科学院大学，北京 100049
高可靠性已成为大功率半导体激光器实用化的重要指标之一，而寿命预测是大功率半导体激光器可靠性评估的首要环节。文中提出了一种双应力交叉步进加速退化的试验方法，对830 nm F-mount封装的大功率半导体激光器进行了四种不同的双应力条件A[22 ℃， 1.4 A]，B[42 ℃，1.4 A]，C[42 ℃，1.8 A]，D[62 ℃，1.8 A]下的电流-温度交叉步进加速退化试验研究，对光输出功率退化轨迹进行拟合，按照80%功率退化作为失效判据，结合修正后的艾琳模型和威布尔分布外推得到器件在正常工作条件下的平均失效时间（MTTF）为5 811 h。文中给出了完整的加速退化模型建立过程与详细的外推寿命计算方法，并对模型进行了准确性检验，误差不超过10%。该方法相比单应力恒定加速试验方法，可以大幅度节约试验时间和试验成本，这对于大功率半导体激光器的自主研制具有重要的指导意义。
大功率半导体激光器 加速退化试验 双应力 寿命 high-power laser diodes accelerated degradation test double-stress lifetime 红外与激光工程
2023, 52(5): 20220592
高可靠性长寿命碲镉汞焦平面阵列像元性能参数慢慢变差退化失效，确定它的储存寿命要用试验缩短试验时间。有效加速寿命试验ALT或加速退化试验ADT的恒定热应力，应大于高温＋90 ℃、2 160 h。定量加速试验前，应进行高加速应力筛选试验HASS迫使缺陷发展，以暴露可能存在的早期故障。根据碲镉汞红外焦平面探测器杜瓦组件高温储存试验性能退化测试数据，用统计模型对在恒定高温应力水平下获得的失效时间或退化特征性能参数进行转换，得到在＋25 ℃额定应力水平下的储存寿命大于50年。超过3 000 h高温储存试验结果表明，残余工艺应力释放导致试验前1 500 h像元性能有向好的趋势，在高温＋80 ℃的真空环境下烘烤20天不会造成明显的像元性能恶化。
红外探测器 碲镉汞 加速退化试验 储存寿命 可靠性 infrared detectors HgCdTe accelerated degradation test storage life reliability 红外与激光工程
2019, 48(10): 1004003
1 军械工程学院, 石家庄 050003
2 军械技术研究所, 石家庄 050003
针对解析方法难以得到或者不能得到步降加速退化试验最优方案的难题,提出一种基于粒子群算法的Monte-Carlo仿真步降应力加速退化试验优化算法.该算法通过大量的重复模拟试验生成试验退化数据,寻找最佳监测频率、检测次数和样本量,以正常使用应力下的对数p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,采用粒子群算法对退化试验数据采用极大似然估计进行统计分析,建立了基于仿真的步降应力加速退化试验优化设计模型.基于算例,给出了不同约束条件下的优化设计方案,得到了该方法也满足小子样产品步降加速退化试验优化设计的结论,并最终得到其最优试验方案.
加速退化试验 步降应力 优化设计 粒子群算法 蒙特卡罗仿真 accelerated degradation test step-down-stress optimization design particle swarm algorithm Monte-Carlo simulation
1 南昌大学 机电工程学院, 江西 南昌330031
2 珠海格力电器股份有限公司, 广东 珠海519070
提出了一种基于加速性能退化的LED灯具可靠性快速评估方法。以LED灯具的使用寿命评估为目标, 设计了温度和电应力的恒定应力加速退化试验及其加速模型, 给出了基于性能退化的LED灯具可靠性评估一般流程。以国内某型LED灯管为试验对象, 对其可靠性进行了评价: 在正常应力水平下, 该型LED灯管的寿命评估值为31 571 h。结果表明该方法能够快速、有效地评估LED灯管的可靠性。该方法不仅节省实验时间, 而且对LED灯具的可靠性评估及产品质量管理有一定的参考价值。
加速退化试验 可靠性评估 加速模型 LED LED acceleration degradation test reliability assessment accelerated model
1 海军航空工程学院研究生管理大队
2 海军航空工程学院兵器科学与技术系,山东 烟台264001
某导弹电连接器属于高可靠性、长寿命产品，在短时间内很难获取其失效数据。为了评估其可靠性，在分析其失效机理的基础上设计了步进应力加速退化试验，通过分析加速退化数据外推出产品在正常工作应力水平下的可靠度函数。试验中，以电连接器的接触电阻作为性能参量，选取温度作为加速应力。数据分析时利用Wiener随机过程对样品退化进行建模，为了提高模型参数的估计精度，采用极大似然法对所有性能退化数据进行整体统计推断。结果表明，提出的基于加速退化数据分析的方法实用、有效，实现了某导弹电连接器的可靠性评估并可为其他高可靠性产品的可靠性评估工作提供参考。
可靠性评估 电连接器 步进加速退化试验 Wiener过程 reliability assessment electrical connector step stress accelerated degradation test Wiener process
针对高可靠长寿命产品在双应力退化试验中存在的时间长、费用高、效率低的问题，提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行仿真模拟，以监测频率、样本量大小、监测次数作为设计变量，以总的试验费用作为约束条件，以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计作为目标函数，建立了基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计模型。通过仿真实例验证了该方法的有效性、可行性，为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供了理论支撑。
双应力步降加速退化试验 优化设计 蒙特卡罗 性能退化 double-step-down-stress accelerated degradation te optimal design Monte-Carlo performance degradation
解放军军械工程学院 光学与电子工程系, 石家庄 050003
为更加高效地评价自愈式高储能密度金属化膜脉冲电容器的可靠性水平，提出了一种基于步降加速退化试验的金属化膜脉冲电容器可靠性评估算法。对步降加速退化试验进行了阐述，深入探讨了可靠性评估中的关键步骤--试验数据折算过程。在此基础上，提出了基于伪失效寿命的步降加速退化可靠性评估算法和基于随机退化轨迹的步降加速退化可靠性评估算法，最后利用具体实例对该方法的有效性进行了验证。结果表明，与现有方法相比，该方法在保证评估精度的基础上，试验时间可以缩短45%。
可靠性 加速退化试验 金属化膜脉冲电容器 伪失效寿命 随机退化轨迹 reliability step-down stress accelerated degradation testing metallized film pulse capacitor pseudo failure lifetime random degradation path
军械工程学院 光学与电子工程系， 河北 石家庄 050003
环境数据综合方法是解决大型复杂电子产品性能可靠性评估中小子样问题的有效途径之一.而环境数据综合的关键在于确定各技术状态下的环境因子.现有的环境因子估计法存在估计精度低、物理建模难等问题，因而限制了其工程应用.为此，提出了一种基于电路仿真的环境因子估计法.该方法首先绘制出产品的Pspice电路原理图(相当于物理建模)，而后运用软件的瞬态分析、Monte-Carlo分析和温度分析获取各环境状态下的性能仿真数据，再结合加速性能试验的有关理论，即可实现任意环境下环境因子的估计.最后，以某型装备上的稳压电源为例说明了该方法的有效性和实用性.
性能可靠性 环境因子 电路仿真 加速退化试验 performance reliability environmental factor circuit simulation accelerated degradation testing
