1 中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬态光学与光子技术重点实验室, 陕西 西安 710119
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 西安炬光科技股份有限公司, 陕西 西安 710077
可靠性是高功率半导体激光器（HLD）的一个重要性能。热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术。在本文中, 我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55, 65, 80 ℃ 3组热沉温度下的热加速寿命试验。根据器件输出功率在加速寿命测试期间的降低趋势, 得到该批HLD器件的寿命分别为1 022, 620, 298 h, 再根据Arrhenius公式得到该器件的激活能为0.565 41 eV, 从而外推得到器件在室温下的寿命为5 762 h。可见55 ℃下器件寿命加速了5倍, 而在65 ℃下寿命加速了8.5倍, 80 ℃下寿命加速17倍。此外, 我们还分析了器件热加速寿命试验后的性能。
高功率半导体激光器 热加速寿命测试 可靠性 退化 high power semiconductor laser thermally accelerated ageing test reliability degradation
广东省现代控制与光机电技术公共实验室 广州市光机电技术研究院, 广东 广州 510663
为解决LED灯具寿命老化测试普遍存在的操作流程复杂、自动化程度低、老化过程监测不连续而难以精确获得失效节点等问题, 提出一种在线自动老化测试新方法, 开发LED照明灯具自动化在线老化测试系统, 全程由中心计算机程控并脱离人为操作, 实时连续监测LED灯具老化过程中的光衰、电参数等指标, 实现LED照明灯具的自动化在线寿命老化测试。
照明灯具 在线老化 寿命测试 新方法 LED LED lighting lamps online aging life testing new method
1 燕山大学,电气工程学院,河北,秦皇岛,066004
2 大庆石油学院,河北,秦皇岛,066004
介绍荧光的产生、荧光寿命的产生机理以及荧光寿命测量的基本原理.设计了一种利用直接记录法(光子计数法)测量农药荧光寿命的测试系统.该系统针对待测样品的特性,选用了相应的脉冲光源、光学元件和半导体探测器等器件,优化了各器件的工作参数,进行了简易而又科学的模块化设计,并对西维因农药的荧光寿命在无激励光干扰情况下进行了实际测试,测得了西维因溶液在500 μg/L浓度时的荧光衰减曲线和荧光寿命(0.30～0.40 ns).结果表明,该系统具有结构简易、操作方便的优点,能测量100 ps级的荧光寿命,适合于对能发荧光的农药进行荧光寿命的定量测量.
荧光寿命测试系统 荧光寿命 光子计数法 西维因农药 measuring system of fluorescence lifetime fluorescence lifetime photon counting technique carbaryl pesticide
1 石家庄经济学院,光电技术研究所,石家庄,050031
2 西安武警工程学院,通信系,西安710086
3 北京理工大学,光电工程系,北京,100081
4 交通部,水运科学研究所,北京,100088
介绍了半导体激光器(LD)加速寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD寿命测试系统.该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制出LD的老化曲线,即恒功条件下的"I-t曲线",然后推断LD的使用寿命.
激光与光电子学 半导体激光器 加速寿命测试 Arrhenius模型
