修正边界区域误差的共聚焦显微成像粗糙度测量 下载: 913次
1 引言
在零件实际加工过程中,摩擦、塑性变形和高频振动等会给加工零件表面留下具有微观峰谷的不平整痕迹,这些关于峰谷幅度和密集程度的几何形状特性称为表面粗糙度。表面粗糙度对零件的耐磨性、疲劳强度、抗腐蚀性、密封性和表面光学性能等有重要的影响[1]。随着科学技术的发展,人们对零件表面加工质量的要求越来越高,而表面粗糙度是评价表面质量的重要参数,如何准确测量出零件的表面粗糙度变得至关重要[2]。
表面粗糙度的测量方法主要有三类:纳米表面粗糙度分析法、接触式测量法以及非接触式测量法[3]。其中,纳米表面粗糙度分析法测量粗糙度时要求苛刻,且测量效率较低[4-7]。以触针法为代表的接触式测量法会损坏被测物体的表面[8]。常用的非接触式测量法包括白光干涉法[9-10] 、数字全息法[11]和共聚焦显微法[12]等。白光干涉法测量范围单一,不能测量陡峭的表面轮廓,且横向分辨率低[13]。数字全息法不能完全避免噪声干扰而且对被测样本的散射性以及材料性质有较高的要求[14]。共聚焦显微法因为利用具有较大数值孔径的物镜,所以可以用于测量表面局部斜率较大的物件,而且具有一定的抗散射光干扰的能力。共聚焦类仪器具有较高的横向分辨率和优秀的纵向层析成像能力,在表面微观形貌的测量中具有广泛的应用[3]。
利用共聚焦仪器测量粗糙度是先通过共聚焦成像重建物体的表面轮廓,然后采用轮廓滤波器对表面轮廓进行滤波,从而提取粗糙度轮廓并进行粗糙度值计算。但是,在利用轮廓滤波器对表面轮廓进行滤波的过程中,会出现边界数据的丢失,使最后的粗糙度计算结果不准确。常规消除边界效应的方法适用于整体轮廓较为平缓的零件,本文引入了一种新的消除边界效应的方法,该方法相比常规方法更具有普适性,经轮廓滤波器滤波后轮廓数据保持完整,最终粗糙度的计算结果准确有效。
2 基于共聚焦显微成像的粗糙度轮廓提取重建
激光扫描共聚焦成像是研究表面微观形貌的有效技术手段。在共聚焦成像时,点光源经照明光学系统聚焦在待测样本上并形成一个点状照明区域,该点状区域经过成像系统聚焦在一个探测针孔上。常采用振镜实现照明光点在样本上的逐点逐行移动,该振镜的两个扫描轴互相垂直。采用一个点探测器如光电倍增管同步接收样本发出的光信号,通过数据重建可以得到样本的二维图像。每一层的样本扫描成像结束后,通过沿光轴移动样本或物镜,改变样本相对于物镜的轴向距离,移动距离根据物镜数值孔径或样本精度进行设置,以便于对样本下一层进行扫描成像,如此进行下去可以获得样本所有层的二维共聚焦图像。对所有二维共聚焦图像进行三维数据重建,可以得到样本的三维体数据,进而获得表面轮廓的三维分布。
样本的表面轮廓包含不同的空间频率成分,既有变化较快的粗糙度轮廓(轮廓波长较短),也有变化较平缓的波纹度轮廓和变化更缓慢的形状轮廓。λs对应粗糙度轮廓和变化更快的噪声之间的截止波长,λf对应粗糙度轮廓和波纹度轮廓之间的截止波长,λc对应波纹度轮廓和形状轮廓之间的截止波长,它们之间的关系如
为了测量出待测表面的粗糙度,需将粗糙度轮廓分布从总的表面轮廓分布中提取出来。先将重建得到的表面轮廓代入截止波长为λs的轮廓滤波器中以滤除噪声和短波长成分,得到无噪声轮廓;再将无噪声轮廓代入截止波长为λc的轮廓滤波器中,得到长波成分的波纹度轮廓和形状轮廓;用无噪声轮廓减去波纹度轮廓和形状轮廓就是短波成分的粗糙度轮廓。如
图 1. 粗糙度轮廓与波纹度轮廓的传输系数
Fig. 1. Transmission coefficients of roughness and waviness contours
在进行轮廓滤波时,常采用高斯滤波器,它不会引起不对称轮廓失真。由于图像数据都是离散形式的,需采用离散形式的高斯滤波器,为了使权函数的离散采样满足归一化条件,从而避免偏离效应,应对权函数进行归一化处理,其函数形式[16]为
其中,归一化常数为
式中:λ为轮廓滤波器的截止波长;k为滤波函数的位置坐标;α为常数,
轮廓滤波可由轮廓函数和高斯滤波器函数的离散卷积实现[16]:
式中:Z(u)是未滤波轮廓;W(i)是滤波后获得的轮廓;s(k)是高斯滤波器函数;u为未滤波轮廓的位置坐标,u∈
假定原始轮廓曲线为Z(u),则滤波后的轮廓如
3 轮廓边界区域的修正
为了消除
表 3. 截止波长的选取标准
Table 3. Selection criteria for cut-off wavelength
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表 2. 取样长度lr的选取标准
Table 2. Selection criteria for sampling length lr
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表 1. 两种方法处理后的滤波轮廓与实际的轮廓的方差
Table 1. Variance of actual contour and filtered contour treated by using two methods
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为了弥补上述常规填充方法的不足,本文引入一种更有普适性的处理边界效应的方法,不对原始轮廓进行延长处理,只对边界区域的滤波方程进行修改。区域修改后的滤波方程为
(4)式中
式中:p=0,1,2。
为了验证本文提出的边界处理方法的有效性,进行了一组仿真实验,令未滤波的原始轮廓Z(u)的表达式为
式中:u的取值范围为[0,2047],即采样点数n为2048。令采样长度lr为5000 μm,采样间距Δx为2.44 μm,
将未滤波的原始轮廓Z(u)采用上述两种边界效应处理方法进行滤波处理,结果如
图 5. 原始轮廓及经不同方法处理后的滤波轮廓
Fig. 5. Original contour and filtered contours using different methods
在采用高斯滤波进行轮廓滤波时,需要预先确定λc和λs的取值,根据GB/T 10610[18]知,截止波长λc与取样长度lr相同,而取样长度lr又与粗糙度的大概分布范围有关,取样长度的选取如
取样长度lr确定后可以得出截止波长λc,根据国家标准GB/T 6062[19],在确定λc后可以得出λs,如
4 粗糙度计算
国家标准GB/T 3505-2009[15]中规定的表面粗糙度的参数有幅度参数、间距参数、混合参数以及与曲线有关的参数。主要的评定参数有轮廓算数平均偏差Ra,最大轮廓峰高Rp,最大轮廓谷深Rv,轮廓的均方根偏差Rq和微观不平度十点高度Rz。
表面粗糙度中应用最广泛的是算术平均粗糙度Ra,它的定义为
式中:ZR(u)为粗糙度轮廓
将经过(3)、(4)式过滤后的粗糙度轮廓代入(7)式进行计算,就可以得到粗糙度值Ra。其他粗糙度参数可以按照其定义在获取粗糙度轮廓后进行相应计算。
5 实验结果与分析
本文中整体轮廓较为平缓的样本采用标称值Ra为2.94 μm,型号为Mitutoyo 178-601的高精度粗糙度参考样本,如
样本标定的粗糙度值Ra分别为2.94 μm和3.2 μm,根据
图 6. 样本图和逐层共聚焦成像结果。(a)(b)平缓样本;(c)(d)陡峭样本
Fig. 6. Sample map and layer-by-layer confocal imaging results. (a)(b) Gentle samples; (c)(d) steep samples
图 7. 样本的重建三维轮廓图。(a)平缓样本;(b)陡峭样本
Fig. 7. Reconstructed 3D contours of samples. (a) Smooth sample; (b) steep sample
表 5. 陡峭样本的粗糙度值Ra
Table 5. Roughness value Ra of steep sample
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表 4. 平缓样本的粗糙度值Ra
Table 4. Roughness value Ra of smooth sample
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图 8. 平缓样本的实验结果。(a)常规方法;(b)修正边界区域方法
Fig. 8. Experimental results of smooth sample. (a) Conventional method; (b) boundary area correction method
将得到的粗糙度轮廓代入(7)式中计算粗糙度值Ra。从
图 9. 陡峭样本的实验结果。(a)常规方法;(b)修正边界区域方法
Fig. 9. Experimental results of steep sample. (a) Conventional method; (b) boundary area correction method
6 结论
通过共聚焦成像对物体进行分层成像,并重建出物体的表面三维轮廓,然后采用高斯滤波器从表面三维轮廓中提取出粗糙度轮廓。由于在滤波过程中轮廓边界区域会出现数据缺失,因此引入一种对边界区域进行修正的处理方法,得到完整的粗糙度轮廓,最后根据提取出的粗糙度轮廓计算出典型粗糙度参数Ra。采用常规边界轮廓延伸方法和修正边界区域法分别对平缓样本和陡峭样本进行处理:经常规边界轮廓延伸方法处理后,得到的平缓样本和陡峭样本的粗糙值与它们各自标称值的相对误差分别为2.72%和3.48%;经边界区域修正后,得到的平缓样本和陡峭样本的粗糙度值与它们各自标称值的相对误差分别为3.06%和0.31%。表明所提方法能够更准确地测量物体的表面粗糙度且更具有普适性,可以用于指导激光共聚焦粗糙度测量设备的研制。
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