中国激光, 2020, 47 (7): 0701017, 网络出版: 2020-07-10   

正方形-FP耦合腔半导体激光器的激射及热特性研究 下载: 1345次封面文章特邀研究论文

Study on the Lasing and Thermal Characteristics of Square-FP Coupled Cavity Semiconductor Laser
作者单位
1 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室, 北京 100083
2 中国科学院大学材料科学与光电工程中心, 北京 100049
摘要
理论分析并制备了1.31 μm正方形-Fabry-Perot(FP)耦合腔半导体激光器,其中正方形腔作为FP腔的一个反射端面,其反射率可以通过改变注入正方形腔的电流调节。正方形模式和FP模式之间的模式耦合能够抑制其他边模,易于实现单模激射。实验获得的单模激射边模抑制比最高为38 dB,其波长调谐范围为6 nm,估算的器件特征温度T0为46 K。
Abstract
A 1.31 μm square-Fabry-Perot (FP) coupled cavity semiconductor laser is theoretically analyzed and experimentally prepared. The square cavity acts as a reflection end for the FP cavity, and its reflectivity is adjustable by changing the current injected into the square cavity. The mode coupling between the square mode and the FP mode can suppress other side modes, and it is easy to realize single-mode lasing. The maximum single-mode lasing side mode suppression ratio obtained in the experiment is 38 dB, the wavelength tuning range is 6 nm, and the estimated characteristic temperature T0 is 46 K.

1 引言

由于光通信和光互连对信息传输速度和容量的需求日益增长,单模可调谐半导体激光器得到了广泛的研究[1]。目前,可实现单模激射的半导体激光器主要有分布反馈布拉格(DFB)激光器[2]、垂直腔面发射半导体激光器[3]、分布布拉格反射(DBR)激光器[4-5]和耦合腔激光器[6-13]。耦合腔激光器是基于游标效应,耦合两个不同结构或尺寸的腔体选择模式,其制备工艺简单。典型的耦合腔激光器包括V型耦合腔激光器[10]、耦合圆环型微腔激光器[11]和解理或蚀刻耦合腔激光器[6-7,12]。通过解理或刻蚀方法制作的单模耦合腔激光器,虽然能实现很高的边模抑制比(SMSR),但稳定性差。

回音壁模式(WGM)微腔具有体积小、品质因子高等优点,广泛应用于微腔的激光器研究[14-23]。由于WGM微腔激光器光程较短,因此具有较大的自由频谱范围(纵模间隔),容易实现单纵模激射,如微柱、微盘和环形微腔激光器[24-26]以及多边形腔和变形腔激光器[17,27-28],但WGM微腔激光器的输出功率和单模光纤的耦合效率较低。本课题组提出将高品质因子(Q)的WGM微腔与Fabry-Perot(FP)腔相连,研制了一种新型的稳定单模耦合腔激光器[29-30],提高了输出功率和单模光纤的耦合效率,并在正方形腔无电流注入的条件下,实现了激光的双稳态输出和高速全光触发器功能[31],由于高Q微腔具有光子存储效应,因此该耦合腔激光器的相对强度噪声较低[32]。将正方形改为菱形-正方形的组合可以改善耦合模在FP腔的场分布,Hao等[33]研制了1.55 μm稳定单模耦合腔激光器,其SMSR最高可达45 dB,波长可调谐范围达到29 nm(SMSR大于30 dB),单模光纤的耦合输出功率达到6 mW。

本文研究了1.31 μm正方形-FP耦合腔激光器(HSRL)的设计、制作和输出特性。模拟分析了该器件结构的模式特性,介绍了基于AlGaInAs/InP外延片制备HSRL的工艺步骤。分析了1.31 μm HSRL的静态特性,结果表明,HSRL可实现单模稳定工作,SMSR最高为38 dB,单模光纤的耦合输出功率为2.23 mW。通过调节正方形腔和FP腔的注入电流,可使波长的调谐范围大于6 nm。最后分析了HSRL的热学特性,得到HSRL的特征温度T0为46 K。

2 器件仿真及工艺制备

2.1 器件结构与仿真

采用商用软件COMSOL Multiphysics 5.0中的二维有限元方法,模拟计算HSRL横电(TE)模分量Hz的二维结构,耦合腔激光器的二维结构如图1所示。正方形中心为原点位置,x, y, z表示仿真中正方形-FP腔的坐标,其中正方形腔边长a=15 μm,FP腔的长L=300 μm,宽w=3 μm,FP腔的一端与正方形腔的一个顶角直接相连,另一端为与空气接触的自然解理面。其中,腔体和填平材料苯丙环丁烯(BCB)的折射率分别为3.20和1.54。

正方形腔的基模、一阶模、高阶模与FP腔模式耦合后的TE模分布如图2所示,激光器的波长分别为1298.3,1297.6,1297.8 nm,Q分别为20030、9984和5398。可以发现,相比一阶模、高阶模与FP腔的模式耦合,正方形腔内的基模与FP腔的模式耦合能实现更高的Q,FP腔中的基模占比也更高,这表明耦合腔激光器容易实现单模激射。

图 1. FP腔和正方形腔组成的耦合腔激光器

Fig. 1. Coupled cavity laser consisting of an FP cavity and a square cavity

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图 2. 不同波长下HSRL模式耦合的TE模分布。(a) 1298.3 nm;(b) 1297.6 nm;(c) 1297.8 nm

Fig. 2. TE mode distribution of the HSRL mode coupling at different wavelengths. (a) 1298.3 nm; (b) 1297.6 nm; (c) 1297.8 nm

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2.2 正方形-FP耦合腔激光器的制备工艺

金属有机化学气相沉积生长的AlGaInAs/InP压应变多量子阱外延片可以制备HSRL,包括衬底、上下限制层、上下波导层、有源层、欧姆接触层和保护层,其中,有源层是由5个厚度为6 nm的量子阱层和6个厚度为10 nm的势垒层交叠生长的多量子结构。外延片的荧光谱峰为1303 nm,半峰全宽为61.7 nm。HSRL的工艺制作流程如下。

1) 通过等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术在外延片上沉积厚度为800 nm的SiO2层,用接触式光刻和电感耦合等离子体(ICP)蚀刻技术将图案转移到SiO2层,以图案化的SiO2作为掩模对InP外延片进行ICP刻蚀,得到深度约为4.5 μm腔体,腔体的扫描电子显微镜(SEM)图像如图3(a)所示。

2) 通过PECVD技术沉积厚度为200 nm的SiNx钝化层,并涂覆BCB形成平坦表面,刻蚀固化后的BCB,暴露出腔体结构的顶部,利用ICP刻蚀技术去除腔体顶层的SiO2和SiNx,形成电注入窗口,通过光刻和带胶剥离形成图形化的Ti-Pt-Au金属P电极。

3) 对结构片进行机械研磨、减薄、抛光,然后在N面上电子束蒸发Au-Ge-Ni,并合金形成N欧姆接触电极,考虑到散热、方便解理,结构片的最终厚度约为120 μm。

4) 将结构片解理、烧结、压焊,用于后续测试器件的性能,解理成的单个管芯的显微镜图像如图3(b)所示。

图 3. HSRL的SEM图像和显微镜图像。(a)正方形-FP耦合腔的SEM图像;(b)图形化P电极HSRL的显微镜图像

Fig. 3. SEM image and microscope image of HSRL. (a) SEM image of square-FP coupled cavity; (b) microscope image of patterned P electrode HSRL

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3 正方形-FP耦合腔激光器的静态特性

HSRL在FP腔的一侧可解理成腔长L=300 μm的耦合微腔激光器,正方形腔的边长a=15 μm,FP腔的宽度w=3 μm。将该器件烧结在氮化铝微带上,再烧结到铜热沉上以提高其散热特性。由于正方形腔与FP腔之间刻有隔离槽,两电极可单独控制,即可在正方形腔和FP腔内单独注入电流。通过半导体制冷器(TEC)将热沉温度保持在288 K,利用单模光纤收集输出光。HSRL通过单模光纤耦合的输出功率随FP腔偏置电流IFP的变化曲线如图4所示。可以发现,正方形腔的偏置电流ISQ为1,5,10,15 mA时,FP腔对应的激射阈值电流分别为24,17,15,15 mA,对应的单模光纤(SMF)耦合输出最大功率为1.37,1.85,2.12,2.23 mW。随着ISQ的增大,FP腔阈值电流降低,单模光纤耦合输出功率增加,原因是注入电流提高了正方形腔中的增益系数,使FP腔中激射模式的等效反射率增加。

图 4. SMF耦合输出功率与FP腔和正方形腔注入电流的关系

Fig. 4. Relationship between SMF coupled output power and injected current in FP cavity and square cavity

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在正方形腔和FP腔注入不同的偏置电流,用分辨率为0.02 nm的横河AQ6370D光谱仪得到HSRL的激射光谱特性,如图5所示。图5(a)为ISQ=0 mA,IFP=52 mA时的光谱图,激光器为多模激射,SMSR为2 dB;图5(b)为ISQ=5 mA,IFP=64 mA时的光谱图,其中主峰激射波长为1310.2 nm,SMSR为38 dB。可以发现,由于正方形腔内的回音壁模式和FP腔中的模式耦合,激光器实现了稳定的单模激射。

调节激光器双腔的注入电流IFPISQ,测试激光器的激射特性,得到ISQ分别为1,5,10,15 mA时激光器的激射光谱随IFP的变化,如图6所示。可以发现,HSRL在较大电流范围内均展现出良好的单模特性,图6(a)~图6(c)中激光器的激射模式在IFP为30、50,55 mA时发生了蓝移,原因是耦合腔激光器的激射模式与不同FP腔模式发生了耦合。

ISQ=10 mA,IFP分别为16,30,45,55,65,80 mA时得到激光器的激射光谱,如图7(a)和图7(b)所示。图7(c)为ISQ=10 mA时,HSRL的主激射模式波长对应的SMSR随IFP的变化曲线。可以发现,当IFP从16 mA增加到57 mA时,激射模式的波长从1309.3 nm红移到1310.7 nm,除去IFP较低、较高以及跳模部分,均可得到SMSR超过30 dB的稳定单模激射。当IFP超过57 mA时,FP腔模式随IFP红移,而正方形腔中的WGM移动距离较短,导致WGM更容易与FP腔中相邻的短波长FP模式耦合,从而引起激射模式的跳变。

图 5. HSRL在不同偏置电流下的激射特性曲线。(a) IFP=52 mA,ISQ=0 mA;(b) IFP=64 mA,ISQ=5 mA

Fig. 5. Lasing characteristic curves of HSRL at different bias currents. (a) IFP =52 mA, ISQ=0 mA; (b) IFP =64 mA, ISQ=5 mA

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图 6. HSRL在不同偏置电流下的激射谱。(a) ISQ=1 mA,IFP=20~75 mA;(b) ISQ=5 mA,IFP=15~78 mA;(c) ISQ=10 mA,IFP=15~84 mA;(d) ISQ=15 mA,IFP=14~41 mA

Fig. 6. Lasing spectra of HSRL at different bias currents. (a) ISQ=1 mA, IFP=20--75 mA; (b) ISQ=5 mA, IFP=15--78 mA; (c) ISQ=10 mA, IFP=15--84 mA; (d) ISQ=15 mA, IFP=14--41 mA

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图 7. ISQ=10 mA时激光器的激射光谱。(a) IFP=16,30,45 mA;(b) IFP=55,65,80 mA;(c)主激射波长、SMSR与IFP的关系

Fig. 7. Lasing spectra of laser when ISQ=10 mA. (a) IFP=16,30,45 mA; (b) IFP=55,65,80 mA; (c) relationship between main lasing wavelength , SMSR and IFP

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IFP=23 mA时,激光器的激射波长及SMSR与ISQ的关系如图8(a)所示,当ISQ从4 mA增加到52 mA时,激光器的激射光谱如图8(b)和图8(c)所示。可以发现,随ISQ的增加,激光器的激射波长从1310.126 nm红移到1316.220 nm,可调谐范围约为6 nm。ISQ的增加使有源区温度上升,从而导致正方形腔模式的移动。考虑到波长随温度红移速率为0.1 nm/K,6 nm的可调谐范围约对应60 K的有源区温升,得到FP腔中的温升大约为14 K,原因是正方形腔和FP腔之间存在热串扰。从图8(a)和图8(c)中可以明显看到跳模,除个别跳模点附近,HSRL依旧为单模激射。

图 8. HSRL在不同FP腔偏置电流下的激射特性曲线。(a)主激射波长、SMSR与ISQ的关系;(b) IFP=23 mA时激光器的激射波长随ISQ的变化曲线;(c) IFP=23 mA时激光器的激射光谱

Fig. 8. Lasing characteristic curves of HSRL at different FP cavity bias currents. (a) Relationship between main lasing wavelength, SMSR and ISQ; (b) change curve of laser lasing wavelength with ISQ at IFP=23 mA; (c) lasing spectrum of laser at IFP=23 mA

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4 正方形-FP耦合腔激光器的热学特性分析

InP材料激光器的激射波长随温度的变化速率约为0.1 nm/K[25],结合激光器的激射波长随注入电流的红移变化量,可估计有源区的实际工作温度与IFP的关系,如图9(a)所示。其中TEC温度为288 K,拟合器件温度随注入电流的变化关系为

ΔT=(0.00204I2+0.22539I)K,(1)

式中,ΔT为温度的变化量,单位为K,I为注入FP腔的电流,单位为mA。

测试不同TEC温度下FP腔的阈值电流,结合(1)式,得到HSRL阈值电流与器件实际温度的关系,如图9(b)所示。利用(2)式对数据进行拟合,得到器件的特征温度T0为46 K。

Ith(T2)=Ith(T1)exp[(T2-T1)/T0],(2)

式中,T1T2Ith(T1)和Ith(T2)分别为TEC的温度T1T2及其阈值电流。

图 9. HSRL的热特性曲线。(a)有源区温度随IFP的变化;(b) FP腔阈值电流随有源区温度的变化

Fig. 9. Thermal characteristic curves of the HSRL. (a) Temperature of the active region changes with IFP; (b) threshold current of the FP cavity changes with the temperature of the active region

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5 结论

将FP腔的一部分直接连接到正方形微腔的一个顶点,形成AlGaInAs/InP耦合腔激光器,并分析了该激光器的静态特性。对于a=15 μm,w=3 μm和L=300 μm的正方形-FP耦合腔激光器,实现了SMSR为38 dB的单模激射,单模光纤的最大耦合输出功率在TEC温度为288 K时达到2.23 mW。通过改变注入正方形腔和FP腔的电流实现了6 nm的波长可调范围。研究了HSRL的热学特性,得到了HSRL的特征温度为46 K。相比传统的DFB和DBR可调激光器,该结构的耦合腔实现单模可调谐激光器的工艺制备过程简单、结构紧凑,且潜在的成本低,在光通信系统和光子集成回路中具有广阔的应用前景。

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