激光与光电子学进展, 2019, 56 (1): 011004, 网络出版: 2019-08-01
荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷 
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Subsurface Defects in Fused Silica Elements Detected by Fluorescence Imaging Technology
基本信息
| DOI: | 10.3788/LOP56.011004 |
| 中图分类号: | O434.2 |
| 栏目: | 图像处理 |
| 项目基金: | 西南科技大学龙山学术人才科研支持计划（17LZX505）、 |
| 收稿日期: | 2018-06-21 |
| 修改稿日期: | 2018-07-12 |
| 网络出版日期: | 2019-08-01 |
| 通讯作者: | 蒋晓东 (jiangxiaodong@163.com), 曹林洪 (hyclh@yeah.net) |
| 备注: | -- |
李洪路, 刘红婕, 蒋晓东, 黄进, 曹林洪. 荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷[J]. 激光与光电子学进展, 2019, 56(1): 011004. Honglu Li, Hongjie Liu, Xiaodong Jiang, Jin Huang, Linhong Cao. Subsurface Defects in Fused Silica Elements Detected by Fluorescence Imaging Technology[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2019, 56(1): 011004.
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