激光与光电子学进展, 2019, 56 (1): 011004, 网络出版: 2019-08-01
荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷 下载: 1247次
Subsurface Defects in Fused Silica Elements Detected by Fluorescence Imaging Technology
图像处理 荧光成像 亚表面缺陷 激光损伤性能 熔石英 image processing fluorescence imaging subsurface defects laser damage performance fused silica
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