研究了大尺寸薄膜晶体管液晶显示器产品开发中遇到的一种新的条状显示不均。通过扫描电子显微镜、四探针测试仪和分光光度计设备对这种显示不均进行了分析, 这种显示不均与薄膜晶体管阵列基板上的金属配线的膜厚周期性波动有关, 金属膜厚的周期性波动导致了液晶显示器的液晶盒盒厚的不均匀, 从而造成显示不均。这种膜厚的周期性波动与液晶高世代线广泛采用的平面靶材溅射设备构造有关。通过对设备结构的改造, 提高了基板面内的金属膜厚的均一性, 改善了此不良。

最终关键尺寸是评价薄膜晶体管液晶显示器产品性能的一项重要参数。本文研究了在光源照度变化的条件下得到准确的最终关键尺寸的方法。通过大量的实验测试、数据分析,并配合扫描电子显微镜(SEM)图片,确定最终关键尺寸合适的测试条件和方法。基于上述分析,选取测量值稳定的光照强度区间中心点的光照强度作为标准样品参照值,选取此时样品测试图片作为标准图片。测试结果与SEM结果进行对比,得到不同膜层测量值和真实值之间的补偿值。并通过不同尺寸产品的数据收集和分析来验证补偿值的可靠性。通过上述方法,可以极大地缩短最终关键尺寸测量的校正周期,并为今后新产品开发提供可靠的测试标准。

利用激光共焦拉曼光谱仪测定了不同氧化铝含量的Na3AlF6-Al2O3体系的常温与升温拉曼光谱,通过解析该拉曼光谱总结了其离子结构的种类以及随温度的变化规律,并对相应的拉曼谱峰进行了归属.结果表明当温度升至1173 K及以上时,样品开始熔化并出现AlF63-→AlF4-的转化,同时伴有复杂离子的生成.将实验结果与模拟计算结合,发现在氧化铝含量较高的样品中存在络合离子Al2O2F42-.

采用量子化学密度泛函计算方法对NaF-AlF3系熔盐的若干典型固相晶体结构进行了计算模拟拉曼光谱研究,并对光谱的振动形式进行了归属,发现特征峰位与铝配位数关系明显;同时,对NaF-AlF3二元系熔盐固相晶体及熔体结构进行了原位变温拉曼光谱实验研究。结果表明,基于计算模拟的振动谱峰归属分析,为NaF-AlF3系熔盐的微结构识别和温致结构变化提供了解析依据,而且随着AlF3浓度的增加,熔盐中铝六配位结构逐渐转化为铝四配位结构。

本文采用拉曼光谱研究不同配比的二元钠硅酸盐玻璃,结果显示碱金属阳离子的浓度影响结构中桥氧的含量,且不同初级结构Qi具有不同的特征峰。对Na2O·3SiO2玻璃进行高温拉曼和核磁共振研究,分别采用精细结构Qjklmi(m1h,m2q,m3t)和Qjklmi取代初级结构Qi进行解谱拟合和结构分析得到得到初级微结构单元的实际分布,结合量化分析结果计算其拉曼散射截面,定量分析Na2O·3SiO2玻璃及熔体在升温状态下结构随温度的变化。从室温到到熔态,Qi结构之间存在动态平衡,Na2O·3SiO2玻璃随着温度的升高从玻璃态到高弹态,最后经历粘流态到熔态。

介绍了使用布里渊散射测试光纤应变的原理, 针对BOTDR(布里渊光时域反射仪)技术难以捕捉光纤微应变的不足, 提出了一种基于支持向量回归的OPGW(光纤架空地线复合缆)应变分析方法。该方法对光纤段在不同拉力条件下的频移变化进行建模, 建立频移向量并运用核函数思想将向量映射至高维空间, 通过支持向量回归对频移向量进行回归分析。实验证明了该算法的有效性, 并显示了该算法在OPGW异常检测中的巨大潜力。

纯铝薄膜被广泛用作TFT-LCD的金属电极, 但纯铝薄膜在热工艺中容易产生小丘, 对TFT的阵列工艺的良率有较大影响。本文用磁控溅射的方法在不同温度下沉积纯铝薄膜作为薄膜晶体管的栅极, 并通过电学检测、扫描电子显微镜和应力测试等方法对不同温度下沉积的纯铝薄膜的小丘生长情况进行了研究。实验结果表明: 纯铝成膜温度提高, 薄膜的晶粒尺寸增大, 退火后产生小丘的密度和尺寸明显降低, 温度-应力曲线中屈服点温度也相应提高。量产中适当提高成膜温度, 可以有效抑制小丘的发生, 提高TFT阵列工艺的量产良率。

系统介绍了古玉器鉴定中常用的红外光谱测试方法，其中包括溴化钾压片法、镜面反射法、漫反射法和 红外显微镜法。说明了各个方法在古玉器鉴定方面的应用，对比了各种测试方法的优缺点。针对玉石品 种的识别、加工磨料残余的识别、古玉沁变物的识别以及蚀变与玉质的关系研究等问题，举例说明了红 外光谱测试技术在玉石鉴定中的应用。

硬玉(NaAlSi2O6)及其在极端条件下的行为在地质学和宝石学中有极高的研究价值。 考虑到现有单一检测条件的局限, 本文综合了多种实验检测手段和理论计算方法对硬玉晶体及其熔体和玻璃的结构以及铝配位数进行了研究。 对硬玉晶体热熔过程进行了高温原位拉曼光谱测定, 结合第一性原理理论计算方法, 得到了硬玉结构和铝配位数的变化及其相应的谱学特征。 结合量子化学从头计算对熔体结构进行解析。 研究表明: 硬玉晶体结构单一且铝全部为六配位, 1 293 K时大量六配位铝转变为四配位, 熔体中四配位铝占主导, 其中硅(铝)氧四面体以多元环连接成架状结构。 熔体冷却过程中伴随着五配位铝的生成, 并呈现分相趋势。

SiO2系列常见宝石品种包括水晶、石英岩、玉髓、欧泊和熔炼石英玻璃。通过对 各个品种宝石的镜面反射红外光谱和直接透射红外光谱进行对比，得出随着宝石结晶程度的变化，Si-O键的伸缩 振动谱带及合频谱带具有一定的递变规律，而且在巨晶水晶的红外光谱中，Si-O键表现出了明确的方向 性。此外，OH键在该类宝石中具有重要作用，其伸缩振动谱带(3600cm-1 ～ 3200cm-1)也与 宝石的结晶程度呈现出递变规律。与Si-O键相关的谱带递变规律对于确定相关宝石的晶体形态进而准 确定名具有重要意义，而Si-O键的方向性也为区分天然与合成水晶提供了重要的帮助。