作者单位
摘要
南京京东方显示技术有限公司,南京210033
分析了IGZO⁃TFT器件的基本特性及电性不稳定性影响因素。对有源保护层薄膜性能与TFT电学特性的依存关系给出了合理解释,并通过实验验证优化了有源保护层制备手法,解决了因有源保护层SiO2致密性引起的TFT开关阈值电压左向偏移显示不良问题;同时还基于IGZO⁃TFT总结了PECVD SiO2薄膜特性与沉积各重要因素间的关系。
薄膜晶体管 铟镓锌氧化物 电流电压特性曲线 二氧化硅薄膜 显示不良 TFT IGZO current‑voltage characteristic curve SiO2 film poor display 
光电子技术
2023, 43(2): 173
作者单位
摘要
1 中国科学院云南天文台,昆明 650000
2 云南师范大学 物理与电子信息学院,昆明 650500
采用分子束外延技术,在GaSb衬底上生长了pin结构的InAs(8ML)/GaSb(8ML)超晶格中波红外光电二极管.用阳极硫化和ZnS薄膜对二极管表面进行钝化处理后,二极管漏电流密度降低了三个数量级,零偏阻抗R0达到106 Ω,R0A达到103 Ω cm2.通过测量电流密度与光敏元周长面积比的关系可知表面漏电不是主要漏电成分;电容电压特性曲线表明吸收层i层背景掺杂浓度约4~5×1014cm-3.在空气中放置一个月后再次测试,发现响应率和探测率几乎没有变化.与化学硫化和SiO2薄膜钝化方法相比,阳极硫化方法是一种更简单和有效的钝化方法.
红外探测器 钝化 电流电压特性 超晶格 表面漏电 阳极硫化 Infrared detector Passivation Current-voltage characteristic InAs/GaSb InAs/GaSb Superlattices Surface leakage current Anode sulfur 
光子学报
2014, 43(1): 0104002
作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室, 上海,2000083
根据金属-碲镉汞接触的基本电流-电压关系,深入讨论了金属-半导体(MS)接触界面输运特性对碲镉汞光伏器件I-V特性的影响,并对实际器件的测量数据进行了分析比较.
I-V特性 金属-碲镉汞接触 碲镉汞光伏器件. current-voltage characteristic M-MCT contact MCT PV device. 
红外与毫米波学报
2001, 20(3): 165

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