分别以富集有Cr, Pb和Cd三种元素的尼龙薄膜样品及玻璃纤维滤膜为研究对象, 采用滤膜叠加的方式, 通过XRF光谱仪测量不同样品厚度下薄膜样品的XRF光谱, 根据测得的尼龙薄膜样品中Cr, Pb, Cd元素及玻璃纤维滤膜中Ca, As和Sr元素特征XRF性质的变化, 研究样品厚度对薄膜法XRF光谱测量的影响。 结果表明: 薄膜样品厚度对不同能量区间上元素特征谱线荧光性质的影响并不相同。 元素特征谱线能量越大, 元素特征X射线荧光穿透滤膜到达探测器的过程中损失越少； 但由薄膜样品厚度增加引起的基体效应却越强, 相应特征谱线位置处的背景荧光强度就越大, 因此样品厚度增加所引起的基体效应对薄膜法XRF光谱测量的灵敏度影响就越大。 对于特征谱线能量较低（能量小于7 keV）的元素, 以增加薄膜样品厚度的方式来增加待测组分的质量厚度浓度, 并不能有效地提高薄膜法XRF光谱测量的灵敏度； 对于特征谱线能量较高的元素（能量＞7 keV）, 可以通过适当增加样品厚度以增加被测组分的质量厚度浓度的方式来提高XRF光谱测量的灵敏度, 薄膜样品厚度在0.96～2.24 mm内, 更有利于XRF光谱的测量与分析。 该研究为大气及水体重金属薄膜法XRF光谱分析中薄样制备及富集技术提供了重要的理论依据。

光学参数是宏观上表征材料光学性质的物理量, 间接反映了材料的微观特性, 对光学参数准确的提取可以研究材料的微观性质和机理。 近年来, 太赫兹时域光谱技术作为一种新兴的光谱分析手段已经成为研究的热点。 由于太赫兹辐射能量低并且脉冲宽度窄（皮秒量级）, 太赫兹时域光谱技术在提取光学参数方面具有无损伤和高时间分辨率的特点。 本文总结了基于太赫兹透射和反射时域光谱技术的光学参数提取方法的研究进展, 着重阐述了几种经典方法, 分析了每种方法的优缺点, 并讨论了太赫兹时域光谱技术用于提取材料光学参数的挑战。 研究结果表明, 透射法适用于对太赫兹波吸收较弱的物质, 而反射法则适用于对太赫兹波有强烈吸收的材料。

太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术给人们提供了一种快速和准确地确定材料在太赫兹波段光学参数的工具。由于材料的厚度对其折射率的提取精度影响很大，而材料的厚度通常不能够准确地测量，为了避免测量厚度误差给确定光学参数结果带来的影响，发展能够同时确定样品的厚度和折射率的方法至关重要。由于材料内部的往返反射信号较弱，对Duvillaret等提出的方法在计算频段和迭代算法上进行了一些改进，使得计算结果更加准确，操作更加方便、快捷。并对两种典型材料聚乙烯和硅片的厚度和折射率进行了提取，以验证这种方法的有效性。

利用太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）提取物质在太赫兹波段的吸收系数谱是太赫兹应用的一个重要方面。 由于样品的吸收系数与其厚度存在着复杂的非线性关系， 而厚度又不便于直接准确测量， 往往造成吸收系数谱的失真。 根据Duvillaret等用于LiNbO3的厚度估计方法， 改进了谷氨酰胺（Gln）与组氨酸（His）在0.3～2.6 THz（1 THz=1012 Hz）波段的吸收系数谱的测定和计算。 为了说明改进后的吸收系数谱的合理性， 设计了一系列实验对比了同种氨基酸在不同浓度下吸收系数的线性符合程度。 结果表明， 改进后计算出的氨基酸吸收系数与浓度之间存在更好的线性关系， 符合Lambert-Beer定律的描述， 这为进一步的定量分析奠定了基础。