作者单位
摘要
上海宇航系统工程研究所, 上海 201109
瞬时电离辐射在电子器件内部形成的光电流可引起器件输出扰动,导致电路中部分器件受电源、输入信号及自身产生光电流扰动的多重影响,而单独对器件进行试验无法反映γ瞬时辐射输出扰动在电子组件系统中的传递影响。为此对由DC/DC、稳压器、单片机CPU,FPGA等组成的控制器组件在2.8×105~1.7×107 Gy(Si)/s的范围内开展了γ瞬时辐射效应的试验研究。试验中对组件功能和器件参数的测试结果表明,在较小的瞬时剂量率下,部分器件输出受到影响,但组件功能正常; 较大剂量率时,所有器件均受影响,且组件功能中断。同时观测到瞬时辐射形成的扰动信号在器件间传输现象。
电子系统 瞬时辐照效应 γ剂量率 electronic circuits transient radiation effect γ dose rate 
强激光与粒子束
2016, 28(4): 044001
作者单位
摘要
信息综合控制国家重点实验室,成都 610036
提高天线增益和辐射效率是瞬态天线研究的重要内容之一。通过设定高斯脉冲激励波形,导出了瞬态辐射的能量阵列因子,分析了1维对称均匀天线阵列的瞬态辐射特性。结果表明:阵列的辐射波形与观察时间区间和角度有关,瞬态与稳态特性差异明显,时域辐射方向图与脉冲宽度有关,阵列可实现时域波束扫描。设计了介质加载天线阵,并采用3维电磁场分析软件进行了时域仿真计算,分析了介质加载对天线辐射特性的影响。研究表明:有介质加载的天线前向辐射电场峰值比没有介质加载的天线增加逾1倍,即瞬态辐射功率增大了3倍多,通过对计算和仿真结果的分析比较,验证了分析和设计方法的正确性和有效性。
瞬态辐射 介质加载 天线阵 高斯脉冲 transient radiation dielectric loaded antenna array Gaussian pulse 
强激光与粒子束
2009, 21(4): 595
作者单位
摘要
1 哈尔滨工业大学能源科学与工程学院, 黑龙江 哈尔滨 150001
2 大庆石油学院土木建筑工程学院, 黑龙江 大庆 163318
根据光波在介质内的散射、折射特点, 分析了脉冲链在参与性介质内经界面反射和介质散射后的叠加机理。导出了脉冲链入射非散射性半透明平板时透射比和反射率的解析解。利用间断有限元法和时间平移叠加法计算了脉冲链在一维散射性介质平板内传输的透射比和反射率。结果表明由于介质内部入射光与介质的相互影响, 脉冲链受界面的反射和内部介质的散射, 分裂成一系列时滞不同的子光波。经过不同的光学行程后, 子光波叠加成离开平板的反射光波和透射光波。叠加效果随介质散射系数、脉冲宽度和脉冲时间间距发生变化。通过调节脉冲链的脉冲宽度和脉冲时间间距可得到不同波形的反射波和透射波。
光散射 瞬态辐射 脉冲链 间断有限元法 叠加机理 
光学学报
2009, 29(8): 2320

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