作者单位
摘要
空军工程大学基础部, 西安 710051
本文针对低频噪声的控制问题, 设计了一种腔体结构可调的Helmholtz型声子晶体, 该结构内腔由一活动伸缩螺杆连接的隔板分为上下两腔, 并采用弓字形开口通道设计。采用有限元法对该结构的带隙特性与隔声特性进行了分析, 并通过“声力类比”的方法构建了该结构在带隙起始频率与截止频率处的等效模型。研究表明, 该结构在500 Hz以下频段内具有6条带隙, 最低带隙频率可达31.34 Hz, 且在每条带隙频段内都表现出了良好的隔声性能, 最大隔声量可达111.95 dB。最后, 通过调整伸缩螺杆, 改变腔体结构布局, 可将多条共振带隙相连, 不仅可以构成一个较宽的带隙, 而且可以达到调节隔声频段的目的。该设计为改善Helmholtz型声子晶体的隔声性能提供了新的设计思路。
声子晶体 带隙 Helmholtz腔 隔声 低频噪声 腔体可调 phononic crystal bandgap Helmholtz resonator sound insulation low-frequency noise adjustable chamber 
人工晶体学报
2023, 52(4): 590
作者单位
摘要
1 国家海洋技术中心漳州基地筹建办公室,福建厦门36000
2 91668部队,上海00083
首次引入自适应递归最小二乘法(RLS)抑制100 km传输光纤水听器系统低频(0~500 Hz)本底噪声,并与直接相减法(DS)作比较。结果表明: DS基本噪声抑制作用不佳;RLS自适应消除法对系统噪声具有明显抑制作用,可达16 dB @ 40 Hz,20 dB @ 100 Hz,15 dB @ 200 Hz,18 dB @ 300 Hz,13 dB @ 400 Hz。经RLS自适应噪声抑制后,系统在350 Hz以上的噪声稳定在-95 dB,与高频部分噪声水平相当;RLS自适应消除可以在噪声抑制的同时,完整保留传感探头中的有用信号。
光纤水听器 低频噪声 自适应消除 递归最小二乘法 optical fiber hydrophone low frequency noise adaptive elimination recursive least square method 
光电子技术
2022, 42(1): 32
作者单位
摘要
1 上海理工大学 生物医学工程研究所,上海 200093
2 浙江大学 杭州国际科创中心,浙江 杭州 311200
针对太赫兹被动成像系统前端功率探测器内部引入的低频噪声(1/f噪声)对成像精度的影响较为明显的问题,设计了一种高灵敏度调制解调系统来降低低频噪声对成像的干扰。通过控制外部信号源使功率探测器在正常工作与饱和状态之间快速切换,实现对目标信号的调制,从而将目标信号的频率调制到高于功率探测器引入的低频噪声频段以便将低频噪声滤除,进而降低该低频噪声对后续成像质量的影响。通过MATLAB软件仿真,可模拟出信噪比(SNR)为31.17 dB的功率探测器输出信号,同时通过对目标信号调制解调,目标信号的信噪比被提高到了268.13 dB。通过对所设计的高灵敏度调制解调系统实际测试,可得目标信号的信噪比由4.22 dB提高到了301.88 dB。研究结果表明,该高灵敏度调制解调系统能有效降低太赫兹探测器内引入的低频噪声对后续成像质量的影响。
太赫兹被动成像 调制解调 低频噪声 terahertz passive imaging modulation and demodulation low frequency noise 
光学仪器
2022, 44(2): 15
作者单位
摘要
工业和信息化部电子第五研究所, 广州 510610
低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数, 通过测试低频噪声, 可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究, 提出基于低频段宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法, 并将可靠性筛选结果与点频噪声筛选方法结果进行对比分析。结果表明, 与点频噪声参数等现有方法相比, 宽频带噪声参数可以更灵敏和准确地表征器件可靠性, 同时计算简便, 基于宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法可以实现更为准确合理的可靠性分类筛选。
光电耦合器 低频噪声检测 可靠性筛选 宽带噪声 optoelectronic coupled device low-frequency noise detection reliability screening wideband noise 
半导体光电
2019, 40(5): 615
作者单位
摘要
1 工业和信息化部电子第五研究所, 广州 510610
2 华南理工大学, 广州 510641
在宽的输入偏置电流范围条件下, 开展了光电耦合器件低频噪声特性测试与功率老化和高温老化的可靠性试验研究。结果表明, 光电耦合器件的低频噪声主要是内部光敏晶体管1/f噪声, 并随输入偏置电流的增大呈现先增大后减小的规律, 这与器件的工作状态密切相关。功率老化试验后, 高输入偏置电流条件下的低频噪声有所增大, 这归因于电应力诱发的有源区缺陷。高温老化试验后, 整个器件线性工作区条件下的低频噪声都明显增大, 说明温度应力能够更多地激发器件内部的缺陷。相对于1/f噪声幅度参量, 低频噪声宽带噪声电压参量可以更灵敏准确地进行器件可靠性表征。
光电耦合器件 低频噪声检测 功率老化 高温老化 可靠性 optoelectronic coupled devices low-frequency noise detection power aging high temperature aging reliability 
半导体光电
2018, 39(2): 192
作者单位
摘要
西安电子科技大学 技术物理学院, 陕西 西安 710071
PbS红外探测器的研究开始较早,由于其室温的优越性,至今应用仍很广泛。然而噪声严重影响了其性能,因此其噪声的研究目前很受重视。首先阐述了光导探测器的低频噪声理论;其次给出一简便而实用的PbS红外探测器低频噪声测量系统;最后在PbS红外探测器低频噪声实际测量和分析的基础上,分析了其低频噪声产生机理、偏压特性与温度特性,从而为改善器件质量提供了理论依据。
低频噪声 1/f噪声 g-r噪声 产生机理 low frequency noise 1/f noise g-r noise generation mechanism 
红外技术
2010, 32(12): 704

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