眼轴长度的精确测量对于近视防控、白内障晶体植入术后视力恢复等具有重要意义。本研究团队将Twyman-Green干涉系统与数字信号处理技术相结合，搭建了低相干双光束外差干涉眼轴长度测量系统。为验证该系统的有效性，采用该系统对ZEISS标准模拟眼、人眼分别进行多次测量，进行重复性检验；然后通过统计学分析测量数据的显著性，结果表明差异无统计学意义(P>0.05)，符合球形检验；Bland-Altman分析表明，测量数据的95%一致性置信区间均在－0.06～0.06 mm范围内。本系统测量结果与IOLMaster500测量结果具有高度一致性。所设计的眼轴长度测量系统具有良好的有效性和可靠性，为国产眼轴长度测量仪器研发提供了技术方案。

为了检测红外瞄具在高低温恶劣环境下对不同波长的红外目标成像可靠性，利用黑体和平行光管组成的光学系统模拟无穷远红外目标，红外瞄具置于高低温环境下，CCD采集红外瞄具对红外目标所成的像，从而判定高低温下红外瞄具成像质量。所设计的平行光管视场大，各波长对应焦平面处在20 lp/mm空间频率下的MTF均高于0.2。同时为了实现快速准确地在检测系统中提供稳定的-55~70 ℃的高低温实验条件，采用一种基于自适应模糊PID温度控制技术。采用自适应因子将模糊推理器和PID控制器相结合，通过在线自调整控制参数，进一步提高了PID控制器的性能和系统的控制精度。实验表明该方法提高了常规PID控制的动态响应过程并保持无静态误差，其控制精度可达±0.05 ℃。

高功率阵列半导体激光器已得到广泛应用,对其质量和可靠性进行无损检测很有必要。在导数测试技术中,参数h是电导数曲线阈值处的下沉高度,参数Q是二阶光导数曲线阈值处的峰的高宽比。对导数测试参数h,Q与阵列激光器的单元器件的质量和均匀性进行了研究。基于其等效电路在一定条件下,计算了阵列激光器的均匀性对h的影响。并对实际阵列器件进行了导数测试。理论和实验结果对比表明,h,Q等参数是组成阵列的各管芯的均匀性的灵敏参数。

为实现对高功率半导体激光器快速、有效、无损的质量检测和可靠性筛选,对器件进行了电导数和光导数测试及分析。结果表明高功率半导体激光器的结电压饱和特性与其质量和可靠性紧密相关。结电压饱和特性不好的器件一般都存在某种缺陷,结电压饱和特性的差异超出一定范围的同种类器件一定是质量和可靠性差的器件。因此,阈值处电导数曲线的下沉高度h值可作为器件筛选的一个判据。用模拟测量的方法,对阵列器件和组成它的单元器件的电压饱和特性的相关性进行了研究,阵列器件的电压饱和特性与组成它的单元器件的一致性(均匀性)紧密相关。均匀性不好的器件的电压饱和特性也不好。

针对星载TWTA(Traveuling Wave Tube Amplifier)的PCB(Printed Circuit Board))可靠性检测及故障诊断问题引入了非接触式的红外热像检测方法,介绍了其应用的理论依据.然后,应用数理统计理论和矩阵范数理论提出了一个基于红外热像技术的PCB可靠性检测模型.并在此基础上给出了一个基于事例库的故障诊断方案.最后,介绍了该可靠性检测模型及故障诊断方案在星载TWTA可靠性检测及故障诊断中的应用.