作者单位
摘要
1 北京南瑞智芯微电子科技有限公司, 北京 100192
2 大庆油田有限责任公司第一采油厂, 黑龙江 大庆 163001
3 大庆油田矿区服务事业部物业管理一公司, 黑龙江 大庆 163453
4 空军装备研究院, 北京 100085
SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA凭借其动态结构调整的灵活性等特点, 被广泛应用于工业领域。针对动态可重构功能单元的布局问题, 分析了模拟退火解决方案的局限性, 提出了基于电路分层划分和时延驱动的在线布局算法。算法首先按最小分割原则将电路划分为一定数目的层, 然后按自顶向下的原则在芯片的每一层中布局划分出的层, 同时保证电路关键路径的延时最小。实验结果表明, 所述算法在时延、线长和运行时间方面均优于VPR算法。
大规模集成电路 动态可重构 布局 LSIC Dynamic Reconfiguration Field Programmable Gate Array(FPGA) FPGA placement 
电光与控制
2014, 21(4): 77
作者单位
摘要
中国人民解放军93325部队, 沈阳 110141
随着大规模和超大规模集成电路的应用越来越广泛, 迫切需要提出新的测试方法。边界扫描测试技术解决了数字电路, 特别是超大规模集成电路的测试问题, 受到了人们越来越多的关注。概述了边界扫描测试技术的基本原理, 对边界扫描测试技术应用比较广泛的几个标准内容进行了对比和总结; 在测试算法方面, 阐述了当前国内外应用比较广泛的一些算法及其优缺点; 在应用领域方面, 分析了国内外取得的主要应用成果; 最后, 在总结当前研究现状的基础上, 预测了未来在新标准的研究、远程测试技术、测试方法集成等5个方面的发展趋势, 为国内同行业了解边界扫描技术的现状与未来发展提供借鉴。
边界扫描 大规模集成电路 电路测试技术 综述 boundary scan large scale integrated circuit circuit testing technology survey 
电光与控制
2013, 20(2): 46
周东 1,2,3,*郭旗 1,2任迪远 1,2李豫东 1,2[ ... ]文林 1,2
作者单位
摘要
1 中国科学院 新疆理化技术研究所, 乌鲁木齐 830011
2 新疆电子信息材料与器件重点实验室, 乌鲁木齐 830011
3 中国科学院 研究生院, 北京 100049
空间辐射环境会对电子器件产生辐射损伤。由于商用器件性能普遍优于抗辐射加固器件,所以从商用器件中筛选出抗辐射性能优异的器件将在一定程度上提高空间电子系统的可靠性。结合数学回归分析与物理应力实验的方法,研究了集成电路抗辐射性能无损筛选技术。通过不同的外界能量注入及总剂量辐照实验,探究电路典型参数的应变情况与电路耐辐射性能的关系,并确定其辐射敏感参数;建立预测电路抗辐射性能的多元线性回归方程,并对应力条件下的回归方程进行辐照实验验证。结果显示,物理应力实验与数学回归分析结合的筛选方法减小了实验值与预测值的偏差,提高了预估方程的拟合优度和显著程度,使预估方程处于置信区间。
大规模集成电路 无损筛选 辐射损伤 回归分析 物理应力 large scale integration nondestructive screening radiation damage regression analysis physical stress 
强激光与粒子束
2013, 25(2): 485
作者单位
摘要
华南理工大学机械工程学院,广州 510641
激光技术是大规模集成电路中重要的加工技术之一。激光加工属于无接触加工,其光束直径小,能量密度大,生产效率高,加工质量稳定可靠。从激光直写、激光微焊接、激光检测与修复和激光清洗等方面综述了激光技术在大规模集成电路中的应用,并阐明了其发展趋势。
激光应用 激光直写 大规模集成电路 激光焊接 
激光与光电子学进展
2005, 42(6): 48

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