利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪(LA-ICP-MS)测试方法对来自湖北的26块表面相对干净、 颜色均匀的绿松石样品进行定值, 每个样品表面按照“田字格”的方式逐一测试9个点, 用于评价绿松石成分的均匀性。 数据结果显示, 绿松石样品中Al, P, K, Cu, Fe, V, Cr和Zn的平均变异系数在5.4%以下, 而CaO和SiO2的平均变异系数分别为34.8%和16.2%, 说明绿松石中Si和Ca元素存在明显的不均匀性。 选取其中的21个样品作为参考标准样品, 5个作为未知样品, 采用能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)建立绿松石的工作曲线, 用于测定绿松石的成分。 研究结果显示主量元素Al, P和Cu工作曲线的相关系数在92.3%~94.3%之间, 平均相对误差在4.6%~9.7%； 微量元素Fe, Cr和Zn的相关系数达到0.990以上, K和V元素工作曲线的相关系数分别为0.939和0.972, 这五种元素平均相对误差范围在7.2%~13.9%； 而Si和Ca元素工作曲线的相关系数分别为0.958和0.866, 且在5个未知样品中, Si和Ca元素的平均相对误差分别为348%和27.8%, 这与绿松石中Si和Ca元素的含量低和不均匀性, 以及仪器方法的检出限等影响因素有关。 重复性实验显示Al, P, Cu, Fe和Zn元素的相对标准偏差(RSD)均在1%以内, 精密度较高； V, Cr, K, Ca和Si元素的RSD在1.34%~10.17%之间。 该研究为快速、 准确、 无损地定量测定绿松石中Al, P, Cu, Fe, Cr, Zn, V和K等元素的含量提供了一种新思路和新方法, 可运用于实验室的绿松石检测鉴定。

由于块状固体标准玉石样品的缺乏, 造成了便携式X射线荧光分析技术(pXRF)利用工作曲线法对玉石文物样品进行无损定量分析的困难。试图寻找一种pXRF可采用, 但不需要块状固体玉石标准样品的定量分析方法。选取24件软玉样品, 其中17件为校准样品, 7件为测试样品。所有软玉样品利用质子激发X射线荧光分析技术(PIXE)获得定量分析结果。根据校准软玉样品的PIXE定量分析结果建立兴趣元素的工作曲线, 利用工作曲线对测试软玉样品进行定量分析;然后, 利用pXRF对所有软玉样品进行定性分析, 获得其定性分析图谱, 利用校准软玉样品的定性分析图谱和PIXE定量分析结果, 采用最小偏二乘法对测试软玉样品兴趣元素含量进行分析。最后, 将工作曲线法、PLS方法和PIXE的定量分析结果进行了相互对比。通过误差分析, 评估了工作曲线法和PLS方法定量分析软玉样品的精确度。结果表明, PLS方法可以代替工作曲线法对玉石类样品进行定量分析。