1 厦门理工学院 光电与通信工程学院，福建 厦门 361000
2 天马微电子股份有限公司 消费品质量部，福建 厦门 361000
为提高液晶面板挤压漏光最大临界力值和抗挤压能力，通过对液晶面板挤压漏光机理进行分析，结合企业实际生产，采用实验设计（DOE）筛选主要因子。DOE结果表明，挤压漏光的主要因子有柱状隔垫物（Photo spacer，PS）尺寸、黑色矩阵（Black Matrix，BM）宽度、PS站位以及平坦化层（PLN）厚度。在实际生产过程中对挤压漏光进行改善设计实验，结果表明：增加PS的尺寸能有效提升面板抗击压能力的32.69%，且尺寸增大后，其弹性回复率增加了4.4%，能有效降低挤压漏光的发生；增加3 μm BM宽度设计的面板挤压漏光平均临界值提升了30.61%；改变PS站位整体居中设计较PS偏右上设计的面板的挤压漏光平均临界力值提升了33.33%；PLN厚度减小0.6 μm能有效提升27.08%的面板挤压漏光临界力值。
液晶面板 挤压漏光 隔垫物 实验设计 liquid crystal panel light leakage photo spacer design of experiments
为了研究LD抽运的Nd∶YVO4的声光Q开关的射频功率对衍射效率、漏光功率与门信号开启后激光输出脉冲序列的时间特性的影响, 通过调节施加在Q开关上的射频功率, 取得了漏光与激光脉冲上升时间随之变化的趋势并加以分析。结果表明, 在射频功率增大到4.4 W时, 漏光完全消失; 在射频功率位于2W~3 W之间时, 漏光功率在500mW以下, 且激光脉冲上升时间是到达第一阈值所用时间的60%~70%; 得到了既顾及门信号开启后激光输出脉冲序列的上升时间、又尽可能在Q开关处于hold-off状态时保持低的激光漏光功率的驱动射频信号的功率范围。该研究结果对构建适用于可快速开启的、热效应较为严重的声光调Q固体激光器具有较好的参考价值。
激光技术 声光调Q 固体激光器 漏光 门信号 射频功率 laser technique acousto-optic Q-switching solid-state laser light leakage gate signal power of radio frequency
福州京东方光电科技有限公司, 福建 福州 350000
按压漏光是发生在ADS TFT-LCD贴合产品上的一种漏光不良, 本文对8.5G工厂1 225 mm (55 in)产品按压漏光的发生原因进行分析, 发现漏光为玻璃基板固定位置受外部应力作用形变导致。同时分析了辅助封框胶排布、封框胶固化前外部应力对基板的影响等。通过改变翻转台运动方式, 能有效改善按压漏光发生程度, 按压漏光发生等级由Level 2(L2, 客户不接受等级)下降至Level 1(L1, 客户接受等级)。该方法的首次导入, 为后续其他产品漏光的解决提供了思路。
按压漏光 应力 形变 翻转台 press light-leakage stress of glass deformation turn-over
1 中国科学院安徽光学精密机械研究所 通用光学定标与表征技术重点实验室, 合肥 230031
2 中国科学技术大学, 合肥 230026
为了有效校正星载偏振相机成像时太阳耀斑区产生的拖尾，以高分五号卫星多角度偏振成像仪为例，结合多角度偏振成像仪在轨成像特点，理论分析了图像获取过程中拖尾产生的机理.建立了光斑区不含饱和像元情况下能够有效对漏光拖尾进行校正的矩阵法与暗行法校正模型，以及光斑区全像元饱和情况下结合矩阵法与暗行法估计光斑区饱和像元强度的遗留拖尾校正模型，该算法充分考虑了强光饱和条件下太阳耀斑区产生的漏光拖尾与遗留拖尾.利用实验室积分球光源成像光斑模拟在轨运行时遥感图像太阳耀斑开展拖尾校正方法可行性验证实验.实验结果表明，该方法不仅能有效去除图像中的拖尾噪声，提高图像质量，而且能够对光斑饱和像元强度进行有效估计.最后，分析多角度偏振成像仪在轨成像图中耀斑区拖尾对其辐亮度测量精度的影响，分析结果表明，拖尾校正前后，灰度方差由202.69×106下降至2.32×106，平均梯度由5.08×10-1下降至2.26×10-1.
偏振相机 太阳耀斑 漏光拖尾 遗留拖尾 饱和 测量精度 Polarization camera Sun glint Light leakage smear Legacy smear Saturation Measurement accuracy
1 重庆京东方光电科技有限公司, 重庆 400714
2 重庆人文科技学院, 重庆 401120
TFT-LCD的摩擦工艺中, 容易产生摩擦Mura、L0 条形不均、摩擦划伤等不良。分析及验证发现: 摩擦Mura的发生与摩擦强度较弱, 聚酰亚胺膜配向力不足引起像素漏光相关。选择摩擦强度好的尼龙布, 并控制摩擦布寿命在100张基板以下, 可以有效控制不良的发生。通过工艺调整加强摩擦强度时需考虑Zara发生情况, 选择摩擦Mura和Zara总体发生较低的摩擦强度是必要的。采用摩擦辊垂直基板短边设计, 可一定程度控制摩擦Mura的发生; 长条型像素设计可从源头防止漏光产生。产品设计时避免显示区延伸区域大块金属的干涉可一定程度防止条形不均发生, 以信号层作为绑定IC引线较之开关层做引线对条形不均改善有更好的效果。棉布的棉籽剪裁、摩擦设备机台的及时有效清洁、基板来料的超声波清洗是防止摩擦划伤发生的有效保证。
摩擦工艺 漏光不良 摩擦不均 划伤 rubbing process rubbing Mura L0 block scratch
合肥鑫晟光电科技有限公司, 安徽 合肥230012
黑画面的漏光是高级超维场开关显示模式(Advanced-Super Dimensional Switching, ADS)TFT-LCD中常见的一种不良, 当液晶面板有形变或应力作用即容易发生漏光不良, 窄长型ADS车载产品更容易受力形变。本文探讨漏光发生的机理并进行改善。研究发现, 面板由于形变, 内应力, 液晶偏转发生异常, 最终导致黑画面的漏光。本文以312.4 mm(12.3 in)寸窄长型车载ADS产品为例, 首先对平坦度进行分析: 从面板平坦度、背光源平坦度、背光源口子胶位置等方面分析。再从应力着手: 从模组将集成电路压接在玻璃基板上的工艺 (Chip on Glass,COG)、面板和背光源的组装精度进行漏光实验。实验结果表明, 在面板平坦度提升、背光源平坦度管控、背光源口子胶设计为半口子胶并由长边固定变更为短边固定, COG绑定温度和压力进行实验设计、组装精度提升等方面改善后, 黑画面漏光可从15%降低至0.1%以内。
车载液晶显示屏 漏光 平坦度 背光源 背光源口子胶 automotive LCD display light leakage flatness backlight backlight tape
合肥鑫晟光电科技有限公司, 安徽 合肥 230012
为改善无边框液晶模组L0漏光, 本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究, 筛选出预固化温度＆时间、PI膜厚、TFT ＆ CT面摩擦强度、TFT ＆ CT摩擦布共7个影响因子; 选择面板翘曲度为噪声因子, 通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲, 并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合, 以此分别选取翘曲为1.8~2.1 μm及6.4~8.0 μm的面板作为噪声因子高低水平。按L8设计田口实验, 采用Jump14运行试验结果, 结果显示, 预固化温度设置为140 ℃, 预固化时间设置为130 s, PI膜厚设置为75 nm, TFT面摩擦强度设置为14 mm, CF 面摩擦强度设置为15.5 mm, 其他参数维持量产条件, S/N可得到最大值-2.63。该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04。特别地, 在漏光高发的翘曲区域, 即6.4~8.0 μm时, L0漏光均值从3.07下降到1.7, 预测漏光程度大于level 3的不良率从6.2%下降到0.2%。
L0漏光 ADS显示模式 无边框液晶模组 田口法 L0 light leakage ADS borderless module Taguchi method
京东方合肥鑫晟光电科技有限公司, 安徽 合肥 230001
从HADS 产品像素漏光现象出发, 分析了HADS 产品产生像素漏光的主要原因和机理。通过分析发现, HADS 产品像素漏光主要是因为摩擦弱区液晶配向角度异常导致的透过率差异产生的。并在此基础提供摩擦方向优化和PS形状优化以减少摩擦弱区对像素漏光的影响。为更好画面品质的HADS产品提供了改善方向。
像素漏光 摩擦弱区 液晶配向 pixel leakage rubbing weak region liquid crystal alignment
合肥鑫晟光电科技有限公司 产品技术部, 安徽 合肥 230001
ADS TFT-LCD暗态受外力时存在漏光亮度高、范围大、颜色偏黄的敏感性差问题, 模组极易产生漏光。本文研究了玻璃、液晶和隔垫物（PS）3方面对暗态漏光敏感性的影响。研究得出, 玻璃厚度减小, 可以改善按压亮度变化, 例如外力30 N时,0.5 T 玻璃的Lo亮度相比0.7 T Lo亮度下降了33%; 降低液晶Δnd可以改善按压发黄; 相同Δnd, 减小Δn, 增加K, 可减少LC 散射, 继而可减小按压亮度高和范围大问题, 例如外力30 N时, 散射值0.027的Lo亮度相比散射值0.038的Lo亮度下降了28%; 增加PS的支撑密度, 可以减小按压亮度和范围的变化, 例如PS密度3 168 μm2/mm2的Lo亮度相比PS密度2 364 μm2/mm2的Lo亮度下降了22%。通过以上措施, 可以改善ADS产品Lo漏光敏感性。本文对敏感性改善的机理也做了相应解释。
漏光敏感性 液晶散射 PS支撑密度 light leakage sensitivity liquid crystal scatter PS support density
