倒置有机发光二极管（Inverted organic light?emitting diodes，IOLEDs）因其结构容易与n型薄膜晶体管技术集成而得到了广泛研究。在IOLEDs研究中，为了使电子能从底阴极有效注入电子传输层，对各式各样的电子注入层结构进行了研究。本文制备并研究了采用超薄金属Mg作为电子注入层的高效率绿色磷光IOLEDs。研究发现超薄金属Mg薄膜具有优良的透光性；基于2 nm厚Mg电子注入层的IOLEDs具有最优的发光性能，其启亮电压、最大电流效率和外量子效率分别为3.06 V、46.5 cd/A和13.3%。

对颗粒物的尺寸检测是生产中重要的环节，使用相机采集图像并处理是常用的非接触检测方法。围绕颗粒物的识别与尺寸检测需求，选用沙粒为检测对象，提出了一种改进颗粒物边界掩膜的Mask R-CNN模型。该模型结合经典的边缘检测技术，并利用深度学习模型预测掩膜，根据边缘分割的结果来得到更高精度的掩膜。使用DenseNet作为检测网络的主干网络，使得整体网络参数量更少，并利用通道注意力机制加强网络的特征提取能力。实验结果表明，改进的网络可以提高检测的精度，且结合图像处理的方式能够改善掩膜尺寸检测的准确度，为颗粒物的工业检测提供了一种有意义的方法。

在介绍偏振三维成像机理、四孔径偏振三维成像仪组成的基础上，开展四孔径相对偏振方向对偏振三维成像精度影响分析，确定四孔径相对偏振方向精度要求。制定了四孔径镜头偏振片相对偏振方向定标方法和四孔径偏振三维成像仪相对偏振方向定标方法，搭建了定标装置，在实验室内开展了相对偏振方向定标。四孔径镜头偏振片相对偏振方向定标误差为±0.5o，四孔径偏振三维成像仪相对偏振方向误差为±1o，从而可保证偏振三维反演的法向量误差为-5.47%~5.80%，为偏振三维成像仪高质量成像提供保障。

为实现玻璃光纤、石英光纤等光学产品高精度、低成本的三维微纳尺度形变检测，提出了一种单目显微成像系统三维形变测量新方法。根据图像球面化算法建立了面内位移与离面位移的几何关系，在采用数字图像相关算法或光流法测量变形前后图像的面内位移后，根据常规斜面模型从面内位移中提取离面位移，完成三维形变测量。模拟实验与应用实验的结果表明在50倍光学显微镜下测量的绝对误差均小于0.2 μm，证实了方法的有效性。该方法充分利用了面内位移场携带的离面位移信息，只需要一部工业相机拍摄显微镜下两幅图像即可完成测量，提取离面位移时无需转换到频域和相位解包操作，具有检测成本低、光路简单、普适性强等优势。目前该方法已被用于玻璃光纤、石英光纤等光学产品的工业生产检测与监控中，同时为其它固体材料的微纳米尺度形变动态测量提供了新的思路。

A compact and cost-effective photonic approach for generating switchable multi-format linearly chirped signals is proposed and experimentally demonstrated. The core component is a dual-drive Mach–Zehnder modulator driven by a coding sequence and a linearly chirped waveform. By properly setting the amplitudes of the coding sequence, a linearly chirped signal with different formats, including the frequency shift keying (FSK), phase shift keying (PSK), dual-band PSK, and FSK/PSK modulation formats, can be generated. Experiments are conducted to verify the feasibility of the proposed scheme. Linearly chirped signals with the above four formats are successfully generated. The scheme features multiple formats and high tunability based on a compact structure, which has potential applications in modern multifunctional systems.

近年来偏振三维成像技术因具有精度高、作用距离远和受杂散光影响小等特点得以蓬勃发展，但利用目标反射光偏振特性进行法向量精确求解的问题一直没有真正得到解决，成为制约该技术发展的瓶颈。此外，由于目标表面镜面反射光与漫反射光间的相互干扰，造成高精度偏振三维成像实现困难。该综述介绍了偏振三维成像物理机理、目标表面出射光偏振特性，以及偏振三维成像研究进展。最后总结了目前偏振三维成像面临的问题和未来的发展方向。