作者单位
摘要
杭州电子科技大学 浙江省大规模集成电路设计重点实验室,杭州 310018
大功率电磁脉冲冲击下,射频集成微系统内部容易产生负载失配问题,严重者可能导致系统失效甚至损毁。采用实时的波形测试方法,对射频器件的负载失配进而导致器件损毁的机理进行了分析。该方法以矢量网络分析仪作为主要测试仪器,结合回波信号注入和相位参考模块获得待测器件实时电压电流波形,进而分析其负载失配影响机制。采用有源负载牵引技术模拟大功率耦合电磁脉冲注入,进行了电压驻波比39∶1的失配测试,大幅提升了测试范围。创新性地采用了谐波信号源注入模拟杂散谐波电磁干扰,评估器件的谐波阻抗失配特性。通过实际异质结双极型晶体管(HBT)器件测试的结果表明,基波的失配会造成负载端电压过大,增加器件的易损性;基波和谐波频率的干扰分量组合使得输出电压瞬态峰值升高,造成器件的损毁。在进行电磁安全防护时,应同时考虑基波和谐波频率的防护。
负载失配 波形测试 异质结双极型晶体管 电磁安全防护 load mismatch waveform test heterojunction bipolar transistor electromagnetic protection 
强激光与粒子束
2024, 36(1): 013006
作者单位
摘要
杭州电子科技大学 电子信息学院 射频电路与系统教育部重点实验室,杭州 310018
提出一种适用于有限口径下高相对介电常数和大尺寸目标物体的反演方法。首先分析了低损耗介质的复折射率,通过有效折射率的计算方法得到有效折射率与介电常数关系;利用高频近似估计对比度函数,通过近似估计散射体内部散射场及其梯度对传统Rytov近似进行数学上的修正,产生无相位条件下Rytov积分近似模型,该模型可以实现定量重建高相对介电常数和大尺寸未知目标的对比度虚部。仿真结果显示有限口径下的Rytov积分近似可以对高介电常数和大尺寸目标的对比度虚部提供精确的形状重建。
计算电磁学 逆散射问题 电磁成像 有限口径 Rytov积分近似 高相对介电常数 Computational electromagnetics Inverse scattering problems Electromagnetic imaging Limited aperture Rytov integral approximation High relative dielectric constant 
光子学报
2023, 52(10): 1052412
作者单位
摘要
1 杭州电子科技大学 射频电路与系统教育部重点实验室, 杭州, 310018, 中国
2 班戈大学 电子工程学院, 班戈 LL57 1UT, 英国
针对光正交频分复用(OOFDM)系统中高峰均比的问题, 利用坐标旋转数字计算机(CORDIC)算法进行非线性压缩, 并采用现场可编程门阵列(FPGA)进行硬件实现, 在Matlab上对从FPGA抓取的信号进行分析, 计算出信号的峰均比以及通信系统的误码率, 并与传统OOFDM系统进行了对比分析。实验结果表明该算法能有效抑制信号的峰均比, 保证了通信质量。
光正交频分复用 峰值平均功率比 现场可编程门阵列 optical orthogonal frequency division multiplexing peak to average power ratio field programmable gate array 
光通信技术
2020, 44(6): 58
许吉 1,2苏江涛 1,**刘来君 1,***汪洁 1[ ... ]王大威 1,*
作者单位
摘要
1 杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室, 浙江 杭州 310018
2 西安交通大学微电子学院金属材料强度国家重点实验室, 陕西 西安710049
4 西安交通大学电子与信息工程学院, 陕西 西安710049
5 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室, 陕西 西安 710049
6 西安交通大学电子与信息工程学院电子陶瓷与器件教育部重点实验室, 国际电介质研究中心, 陕西 西安 710049
利用共面波导的S参数建立了一种计算亚太赫兹频率下材料介电常数实部和虚部的模型,并给出了该模型的详细推导过程和应用实例。基于该模型,利用测试得到的共面波导的S参数计算了200 GHz下衬底材料的介电常数,计算值与理论结果相符。建立的模型可广泛应用于各类材料在亚太赫兹频段介电性能的表征。
太赫兹技术 亚太赫兹 介电常数 保角变换法 共面波导 S参数 
中国激光
2019, 46(6): 0614037
作者单位
摘要
1 中国科学院 国家天文台 怀柔太阳观测站,北京 100012
2 中国科学院 研究生院,北京 100049
由于双折射滤光器型太阳磁场望远镜中滤光器的研制质量直接影响透过带,进而影响太阳磁场的测量,本文对影响双折射滤光器透过带漂移的各种误差因素进行了分析。通过计算机编程,完全模拟了光线轨迹,精确分析了多种误差项对双折射滤光器透过带的影响。给出了引起透过带漂移、展宽、极大值和极小值变化的主要误差项。分析表明,入射角、晶体光轴倾角误差、晶体厚度误差和1/4波片光轴方位角误差影响透过带漂移;只有晶体光轴方位角误差影响透过带宽,当误差为2°时,透过带展宽了0.078%;宽视场1/2波片光轴方位角误差对极大值的影响最明显,当误差为2°时,极大值减小了0.487%;晶体光轴方位角误差、宽视场1/2波片延迟误差和1/4波片光轴方位角误差对极小值都有不同程度的影响。
太阳观测 双折射滤光器 误差分析 光线追迹方法 solar observation birefringent filter error analysis ray tracing method 
光学 精密工程
2010, 18(1): 52

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