作者单位
摘要
南京理工大学 电子工程与光电技术学院, 江苏 南京 210094
随着中长焦距光学元件在光学遥感、高功率激光器和天文望远镜等系统中的广泛应用, 对这类光学元件焦距的高精度测量提出要求。在双光栅干涉焦距测量技术的基础上, 提出了一种新的改进算法。该算法通过Moiré条纹倾斜角度与待测元件焦距之间的函数关系得到焦距计算公式, 并利用入射平面波时Moiré条纹的理想状态优化了该计算公式, 解决了Moiré条纹倾角基准线的确定问题, 提高了Moiré条纹角度求解精度。采用2块周期为20 μm的朗奇光栅搭建了长焦距测量装置。实验测得的透镜焦距为36.690 m, 测量重复精度达0.382‰。
物理光学 焦距测量 双朗奇光栅 泰伯效应 physical optics focal length measurement double Ronchi grating Talbot effect 
应用光学
2018, 39(5): 687
作者单位
摘要
南京理工大学电子工程与光电技术学院, 江苏 南京 210094
光学元件的亚表面损伤指的是在加工过程中产生的划痕和裂纹等。在激光的照射下,亚表面损伤会使光场发生变化,并且随着激光照射时间的增加,裂纹会越来越大,产生散射,最终影响光束的能量集中度。基于全内反射法测量亚表面损伤的原理提出了一种新的估计损伤深度的方法。入射光波和出射光波在样品表面下方叠加形成驻波,入射光的偏振态以及入射的角度会影响样品内部的光强分布。通过分析亚表面损伤点的光强度和入射角之间的关系,能够由入射角的改变量来估算亚表面损伤的深度。
测量 光学元件 亚表面损伤 全内反射法 驻波理论 
激光与光电子学进展
2016, 53(11): 111401

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