作者单位
摘要
1 中国辐射防护研究院 太原 030006
2 核药研发转化及精准防护山西省重点实验室 太原 030006
针对功能丰富、大规模集成微处理器总剂量效应的测试需要,研制了一种可扩展式的在线测试系统。测试系统由主控制电路、可扩展信号采集电路、被测样品接口、上位机及配套软件组成,提供了功耗电流、片内存储、通信、时钟、模数/数模转换、直接存储访问等多种参数测量或功能校验方法。利用测试系统对16个特征尺寸40 nm的微处理器开展了60Co源辐照实验,所有样品在吸收剂量达到(377.44±20.34)Gy(Si)后出现了数字通信中断、功耗电流突然下降、模数/数模输出异常等现象。综合所有12项测量或校验结果,推断该微处理器的总剂量失效模式很可能是部分内核指令无法执行而导致的功能失效,同时也说明在线原位测试系统能够为总剂量失效模式分析提供更多、更直接的数据信息。
总剂量效应 在线测试 微处理器 参数退化 功能失效 Total ionizing dose effect On-line testing Microprocessor Parametric degradation Functional failure 
核技术
2022, 45(11): 110404
作者单位
摘要
中国辐射防护研究院, 太原 030006
针对核设施机电设备中控制系统存储单元耐辐射可靠性评价的需要, 以国产NOR型Flash存储器为研究对象, 对器件存储阵列浮栅单元的总剂量损伤阈值开展了实验研究。综合利用SMOTE算法和Bootstrap法建立了一种基于极小子样的器件耐辐照可靠性评价方法, 对被测样品校验失效剂量进行了统计分析。实验结果表明, 器件浮栅单元的主要失效模式为浮栅电荷损失造成的阈值电压降低, 平均校验错误剂量为(631.89±103.64)Gy(Si)。统计分析表明, 器件总剂量损伤阈值服从对数正态分布。基于SMOTE-Bootstrap的可靠性评价方法避免了传统Bootstrap再生样本过于集中的问题, 可应用于极小子样的可靠性评价。
总剂量效应 Flash存储器 可靠性分析 极小子样 total ionizing dose effect flash memory reliability analysis extremely small sample size 
微电子学
2022, 52(1): 150

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