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相同关键词【stress defect】论文列表

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应用双弹光级联差频调制的红外材料应力缺陷检测研究

李克武 ^1,2,3王爽 ^2,3,*李孟委 ²王志斌 ^2,3,*

作者单位

摘要

¹ 中北大学电气与控制工程学院，山西太原 030051

² 中北大学前沿交叉科学研究院，山西太原 030051

³ 山西省光电信息与仪器工程技术研究中心，山西太原 030051

为了实现对Si、Ge、GaAs等红外材料应力缺陷检测，采用两个工作在不同频率的光弹性调制器级联，构成偏振测量系统。应力缺陷引入的双折射延迟量和快轴方位角两个参数，被加载到偏振测量系统调制信号中；利用数字锁相技术同时获取调制信号的基频项和差频项幅值，然后完成两个应力参数求解。详细分析了检测原理，并搭建了实验系统进行验证。实验结果表明，该检测方法及实验系统实现了应力方向角标准偏差为0.31°，应力双折射延迟量标准偏差为0.72 nm，高速、高精度和高重复度的应力缺陷检测，并且实现了Ge样品的应力缺陷方向和值大小分布测量，可为红外材料质量测试分析和评估提供有效手段。

应力缺陷弹光调制快轴方位角延迟量 stress defect photoelastic modulation fast axis azimuth retardation

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红外与毫米波学报

2024, 43(1): 126

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