通过分析电荷耦合器件(CCD)图像传感器光电转换、电荷转移、电荷输出的工作原理, 提出了一种通用高效的电荷转换因子(CVF)测试方法。该方法采用在CCD感光区域施加直流偏压, 水平区施加连续转移的驱动时序的方式, 使CCD光敏区以电荷溢出方式往水平区转移电荷, 水平区以固定频率不间断转移输出电荷包, 从而让CCD输出强度恒定的响应信号; 然后通过复位漏电流与输出信号强度的对应关系计算出CCD器件的CVF值。根据该方法的原理设计了一种适应各种CCD器件的通用测试装置, 并对多款CCD进行测试验证。结果表明, 该方法有效提高了CCD电荷转换因子的测试效率、测试精度和稳定性。

针对微机电系统(MEMS)矢量水听器声压灵敏度测试中出现的测试步骤单一、测试任务繁重且耗时多,同时手动测量存在不确定的操作误差等问题,在分析矢量水听器灵敏度测试原理和测试过程的基础上,采用AD9850,AD8599,PGA205、单片机MK60DN512ZVLQ110等芯片,设计了集成信号激励源、微弱信号检测、调理以及信号采样和传输等模块的矢量水听器灵敏度自动测试装置。该装置将测试现场的仪器“缩小”,多模块功能集成,通过与PC上位机连接控制,快速、实时地完成矢量水听器灵敏度测试标定,在节约测试时间的同时,也能快速地完成对水听器的优化改进的验证; 此装置体积小、轻便,测试连线简单,方便外场测试,促进MEMS水听器工程化应用。

采用PECVD技术在BK7玻璃基底上沉积了不同厚度的单层SiO2(折射率为1.46)和SiNx(折射率为1.84)光学薄膜,并对这2种膜层进行抗激光损伤阈值(LIDT)测试,分析讨论了PECVD技术制备的单层光学薄膜与抗激光损伤特性之间的关系.实验结果表明:PECVD技术制备的单层SiO2薄膜有较高的LIDT,薄膜光学厚度在λo/4~λo/2之间时,在光学厚度为350 nm时,LIDT有最小值21.7 J/cm2,光学厚度为433 nm时,LIDT有最大值27.9 J/cm2.SiNx薄膜的LIDT随着光学厚度增加而减小,在光学厚度为λo/4时,LIDT有最大值29.3 J/cm2,光学厚度为λo/2时,LIDT有最小值4.9 J/cm2.

根据相关理论设计了一台镜片防雾功能测试装置。激光器发出的激光经半透半反镜透射,穿过待测镜片,进入充满饱和蒸气的水浴槽中,被激光专用高反射镜反射,透过待测镜片,经半透半反镜反射,被照度计所接收,通过计算镜片刚放入时和镜片放入8 s后照度值的比较,判断镜片是否有防雾功能。并在VB环境下开发配套软件,配合控制系统电路,全自动完成测试,避免因人为因素产生误差。测试过程简单、科学、客观,使测试结果具有高的重复性与准确性。

为深入了解负折射率媒质的奇异传输特性，基于斯涅耳折射原理，设计并加工了一种用于测试X波段(8.2~12.4 GHz),以亚铁磁材料为基体,内嵌金属线阵列宏结构的负折射率介质样品折射特性的实验装置。分别测试了楔形石蜡样品和楔形负折射率介质样品在X波段的折射特性,对石蜡样品测试结果的分析证明了该折射特性测试装置的有效性，对负折射率介质样品测试结果的分析证明了合成介质确实具有负折射效应。通过电磁仿真方法，测试了平行板负折射率介质的波束位移特性，进一步证明了该种合成介质的负折射特性。

介绍一种激光、白光和热像仪(或微光)三光合一观测仪器的捆绑式新型组合测试装置及其测试原理,并详细叙述了用该装置测试"三光"光轴平行性的过程和注意事项.该装置十字分划线的设计未采用常规的玻璃刻线工艺,而是选取电阻率较高的钨丝制成十字分划线,并在分划线的两端焊上电极,避免了测试时由于更换十字分划线靶标而可能产生的误差.该装置通过对观测仪器光轴平行性的检测和调试,为精确调校提供了依据,从而使3种光学系统的光轴平行性达到所需精度要求,对保证观瞄及测距的方向一致性起到了准确指示的作用.

讨论了影响长余辉发光粉特性的主要因素。介绍了测试其发光特性的基本要求。在此基础上描述了一种测试长余辉荧光粉的新装置。它使用模拟D65光源作为激发光源,使用一台自动量程光度计来测量长余辉荧光粉亮度。从激发源到样品的激发光,以及从样品到光度计的发射光均由光纤进行传导。激发光通过耦合在二光纤中间的电动快门实施控制。装置的工作由计算机控制。需要特别指出的是装置可以在正常照明条件下工作。实测表明装置的设计非常巧妙和实用。

设计了一套测试装置，扩展了扫描电镜／波谱仪的功能。既能作试样的形貌和成份分析，又能对发光器件进行发光颜色和发光强度的测量。