基于非对称入射和偏振调制的四光束干涉光场 下载: 845次
1 引言
近年来,微纳结构在微光学和微电子等领域得到了广泛应用[1-3],可用于制备微纳结构的技术包括电子束光刻(EBL)[4]、离子束光刻(IBL)[5]和激光干涉光刻(LIL)[6-8]等技术。EBL、IBL技术可以生成高分辨率的任意图案,但存在加工时间长、成本高等问题。LIL具有成本低、面积大,且不需要精确聚焦等优点,可生产无缺陷、大范围的高阶一维、二维和三维亚波长结构光子晶体[9-10]。虽然LIL技术制备的周期性光致抗蚀剂结构已用于光子波导、光子晶体滤波器、光子晶体光纤、光子晶体隐身材料中[11-14],但多光束LIL技术只能制备周期性结构的特点限制了其应用。
针对现有LIL技术存在的问题,人们将多光束LIL与相位工程技术结合,通过对入射光的相位进行编码提高干涉图案的多样性[15-18],但受限于相位调制器的调制精度和效率,很难实现大面积高分辨率图案的制造。非对称入射结合偏振态调制也能增加干涉图案的多样性,相比相位调制器,传统折反射和偏振元件对光场的调控精度更高、稳定性更强,且易操控。吴晓等[19-20]分析了入射角度偏差对四光束干涉的影响,Voisiat等[21]控制三束激光的偏振,在钢表面产生凹坑和柱状周期性结构,Hu等[22]通过改变四光束干涉的入射角制备了一维和二维的多尺度结构,Xu等[23]调整六光束的入射角和偏振态制备了具有抗反射性能的蛾眼结构。非对称入射条件下每束光的波矢量和光振动矢量均不相同,导致光场分布呈现多样性,同时增加了多光束干涉技术自下而上设计的难度。
本文研究了非对称入射条件下方位角、入射角和偏振角对多光束干涉光场的调制机理,建立了多光束干涉场的数学模型。以四光束干涉为例,详细分析了方位角、入射角和光束偏振态对干涉光场的影响,并进行了仿真验证实验,为基于干涉光场分布反演非对称多光束干涉模型提供了理论参考,同时仿真得到一种高长宽比的椭圆阵列。
2 非对称入射下的四光束干涉理论
多光束干涉可表示为多个电场矢量的叠加,因此可通过调节每束光的振幅、相位和偏振态以及光束的空间组合方式调控干涉场的光强分布,并用光刻胶记录形成光刻图案。根据麦克斯韦方程和波的叠加原理,当N束相干光相互干涉时,干涉光场的光强可表示为
式中,i,j分别为第i束光和第j束光,Ei(r)和
式中,
式中,k为光束的波矢大小。为了得到xy平面上的干涉光场分布,将z设置为常量。当参与干涉的光束均为单位平面波时,z=0所在干涉平面的强度可表示为
从(4)式可以发现,多光束干涉的实质是N(N-1)/2组不同强度、周期和方向的正弦条纹叠加。如果光束的偏振方向一致,则
3 非对称入射条件下各参数对四光束干涉光场的影响
根据(5)式可知,多光束干涉光场受方位角、入射角和偏振角的联合调制,相比方位角对称分布的等入射角多光束干涉,非对称入射在方位角和入射角上给予多光束干涉更大的自由度,使干涉图案具有多样性。以四光束等角对称干涉为例,从传统四光束干涉光路出发,改变其中一束光的入射角、方位角。改变光束1的入射角θ1,即入射角θ1≠θ2=θ3=θ4,不改变方位角,如
图 2. 四光束非对称入射图。(a)改变入射角;(b)改变方位角;(c)~(d)同时改变入射角和方位角
Fig. 2. Asymmetric incidence pattern of four-beam. (a) Change the incidence angle; (b) change the azimuth angle;(c)--(d) change the incident angle and azimuth at the same time
3.1 入射角对四光束干涉光场的调制
只改变光束1的入射角时,由(5)式可得到
式中,第一项为背景强度,第三、四项分别为x、y方向上不同周期的两组干涉条纹,第五、六项分别为±45°方向上相同周期的两组干涉条纹,四组条纹叠加后形成的周期性点阵图案受第二项调制函数的调制,得到最终的干涉场。对于四光束干涉,改变光束1的入射角时,该方向的条纹和调制函数周期会发生变化。θ1分别取25°,35°,40°,45°,θ2=θ3=θ4=30°时,四光束仿真得到的干涉光场光强分布如
从
图 3. 不同光束1入射角得到的干涉光场。(a) θ1=25°;(b) θ1=35°;(c) θ1=40°;(d) θ1=45°
Fig. 3. Interference light field obtained at different incident angles of beam1. (a) θ1=25°; (b) θ1=35°; (c) θ1=40°; (d) θ1=45°
3.2 方位角对四光束干涉光场的调制
为了研究方位角的变化对四光束干涉光场的影响,按
由(7)式可以看出,干涉场由背景光和五组双光束干涉条纹叠加而成,五组条纹对应的斜率分别为0,
从
3.3 偏振角对四光束干涉光场的调制
对于真空中传播的电磁波,光矢量的振动平面始终与传播方向垂直,且传播方向上没有电场分量。因此,对于四光束离轴干涉,不存在四光束偏振方向完全一致的情况,即实际情况中各光束相同方向的振动分量会发生干涉,多光束干涉是多组同振动方向的分量发生干涉得到的条纹叠加。由(3)式可知,偏振角会影响每组条纹强度的极值,条纹强度由参与干涉的两束光偏振矢量共同决定。
图 4. 不同光束1方位角得到的干涉光场。(a) α1=π/6;(b) α1=5π/12;(c) α1=π/2;(d) α1=π
Fig. 4. Interference light field obtained at different azimuth angle of the beam1. (a) α1=π/6; (b) α1=5π/12; (c) α1=π/2; (d) α1=π
表 1. 不同方位角下s波和p波对应的偏振矢量
Table 1. Polarization vector corresponding to s-wave and p-wave under different azimuth angles
|
在
可以发现,椭圆阵列由x方向周期为
由(8)式和(9)式可知,光束2,3,4的入射角θ决定了干涉图案单元的尺度,而光束1的入射角θ1与另外三束光入射角θ的差值决定椭圆图形的长宽比。可通过选取合适的入射角θ1和θ,得到从μm级到ns级的椭圆阵列,与对称入射四光束干涉得到的二维椭圆阵列相比,本方法可用于制备高长宽比的椭圆孔或椭圆柱阵列。
图 5. 非对称入射时偏振对干涉光场的影响。(a)带状四边形点阵;(b)椭圆点阵;(c)带状六边形光强极大值点阵;(d)带状六边形光强极小值点阵
Fig. 5. Influence of polarization on the interference light field in asymmetric incidence. (a) Ribbon quadrilateral lattice; (b) elliptical lattice; (c) maximum light intensity lattice of the ribbon hexagon; (d) minimum light intensity lattice of the ribbon hexagon
4 结论
基于多光束干涉理论模型,通过调制四光束干涉中的一束入射光研究了非对称入射时方位角、入射角和光束偏振态对多光束干涉的影响。仿真结果表明,多光束干涉可看作多组不同强度、方向和周期的双光束干涉条纹的叠加。入射角和方位角变化引发的非对称入射均会使干涉光场出现隔离带,但二者的影响机制略有不同。光束的偏振角结合入射角和方位角决定了每组干涉条纹的强度,仿真了s-s-s-s波和s-p-s-p波的非对称四光束干涉光场,结果表明,在光束1和光束3方位角相同的条件下,采用s-s-s-s波可生成高长宽比的椭圆阵列。表明在非对称入射条件下,选取合理的方位角、入射角和偏振角组合,可得到多周期跨尺度图案,这极大拓展了多光束干涉的应用范围。
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彭伏平, 严伟, 李凡星, 王思沫, 杜佳林, 杜婧. 基于非对称入射和偏振调制的四光束干涉光场[J]. 激光与光电子学进展, 2020, 57(19): 192602. Fuping Peng, Wei Yan, Fanxing Li, Simo Wang, Jialin Du, Jing Du. Four-Beam Interferometric Light Field Based on Asymmetric Incidence and Polarization Modulation[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2020, 57(19): 192602.