针对当前制冷型红外焦平面阵列(Infrared Focal Plane Array, IRFPA)探测器对制冷启动时间(快速启动)的要求，对影响探测器启动时间的具体因素进行了分析。结果表明，冷台零件的降温速度对探测器的启动时间有一定程度的影响。对当前国内导热材料进行了调研，找到了一种与红外探测器混成芯片相匹配的材料，并对该材料的初步工艺进行了验证。
导热材料 快速制冷 heat conduction material D60C D60C rapid cooling infrared focal plane array IRFPA
中国电子科技集团公司第十一研究所，北京 100015
红外焦平面探测器的光谱一致性是评价材料制备水平的重要参数之一。探测器材料因制备工艺的不同而存在差异。由于光谱仪光斑尺寸的限制、探测器杜瓦结构的局限性以及设备采集光谱的巨大数据量，难以对探测器组件的光谱一致性进行测试分析。为此提出了一种新方法，即选取用传统工艺和优化工艺制备的两种探测器样品，并选取成像图中与工艺相关的多个明暗特征区域，再测试这些区域的光谱曲线并对其进行分析汇总，然后通过比较光谱最大差异来评判探测器光谱一致性的优劣。该方法测得两种探测器特征区域的光谱最大差异分别为1.21μm和0.30μm。测试结果表明，优化工艺后的光谱一致性优于传统工艺。
红外探测器 光谱一致性 图像特征区域 infrared detector spectral consistency image feature region
由于目前没有可测试数字化红外探测器光谱响应的设备，研制了一种可将数字化红外探测器的输出转换为与模拟探测器一样形式的电路板装置，并利用原有的傅里叶光谱仪解决了无法测试数字化红外探测器光谱的问题。该方法成本低、易实现，不仅操作简单，而且测试性能稳定，因此适用于各种形式的数字化探测器。首先介绍了红外光谱响应测试系统，然后对研制的模数电路板装置的原理进行了分析，并对此电路板进行了硬件实现，接着编写了内部测试程序，最后完成了功能验证。结果表明，配有新研制模数电路板装置的红外光谱测试系统可以测试不同位宽输出的数字化面阵探测器或线列探测器的光谱数据，而且测试结果准确可靠。
光谱响应测试 数字化红外探测器 傅里叶光谱仪 兼容性 spectral response test digital infrared detector Fourier spectrometer compatibility
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随着红外焦平面成像制导的应用越来越广泛，人们对探测器组件的体积、快速启动能力等方面的要求也越来越高。针对这个问题，基于探测器的芯片、杜瓦结构和快速制冷器的设计，对探测器快速启动的影响因素进行了分析，得出了对提高红外焦平面探测器快速启动具有帮助意义的结论。
红外焦平面探测器 杜瓦结构设计 快速启动 IRFPA detector Dewar structure design fast cool-down
