1 北京理工大学 光电学院，北京市混合现实与先进显示技术工程研究中心，北京 100081
2 重庆京东方显示技术有限公司，重庆 400714
3 北京京东方显示技术有限公司，北京 101520
随着显示技术的不断发展，对高性能、高稳定性的薄膜晶体管（Thin Film Transistor，TFT）的需求日趋增加，通过结晶改善薄膜晶体管性能的方法受到大量关注。当前，铟镓锌氧化物（IGZO）材料由于具有迁移率高、柔性好、透明度高等优势，被广泛用于薄膜晶体管的沟道中，而改善IGZO沟道层的结晶形态也成为研究热点。本文总结了晶态IGZO薄膜晶体管器件的研究进展，详细介绍了IGZO系化合物的晶体结构，重点阐述了单晶、c轴取向结晶、六方多晶型、尖晶石型、纳米晶型和原生结晶型IGZO的结构和各晶态IGZO薄膜晶体管的制备方法、器件性能和稳定性，深入分析其微观结构，总结物理特性，阐述不同晶系结构的结晶机理，建立不同晶体结构与电学特性的关系，最后对晶态IGZO薄膜晶体管的发展进行展望。
晶态IGZO薄膜 薄膜晶体管 晶体结构 研究进展 crystalline IGZO film thin film transistor crystal structure research progress
1 北京理工大学 光电学院， 北京市混合现实与先进显示技术工程研究中心， 北京 100081
2 重庆京东方显示技术有限公司， 重庆 400714
有机发光二极管（Organic Light-Emitting Diode， OLED）显示技术通过有机材料的自主发光，展现出广色域、低能耗、柔性化等优点，是最具发展潜力的显示技术之一。目前OLED显示仍存在寿命短、亮度低和可靠性差等问题，这些问题最终导致残像现象的发生，本文旨在分析和总结OLED显示残像问题的研究进展和相关解决方案。首先，阐释了OLED显示残像问题与OLED材料寿命和薄膜晶体管（Thin Film Transistor， TFT）稳定性的关联，关注柔性与刚性OLED器件的结构差异，进一步总结、归纳了OLED残像的产生机制。其次，针对不同的残像诱发原因，讨论了缓解和补偿OLED显示残像的方法，包括提升OLED有机材料寿命和TFT阈值电压稳定性、外部补偿电路等方案。最后，对OLED显示残像问题的进一步解决办法进行了展望。
有机发光二极管 残像 薄膜晶体管 柔性显示 OLED sticking image TFT flexible display
2西安北方光电科技防务有限公司，陕西 西安 710043
红外辐射计用于红外热像仪测试设备的校准。介绍了一种用于红外辐射计的测量模块及方法。设计了采样保持的测量方案，通过参考信号生成采样脉冲，并将采样点设置在每个信号周期的1/4相位处，能显著提高微弱信号的测量能力。对于35 ℃的黑体辐射信号，通过与现有方案的对比实验，测量信号强度可提高57.6%；在红外热像仪测试设备背景温度为22 ℃条件下，通过与现有仪器的对比测试，测量信号精度可提升50%以上。
1 中国电子科技集团公司第十三研究所, 河北 石家庄 050051
2 河北博威集成电路有限公司, 河北 石家庄 050299
SC切石英晶体谐振器是恒温晶振的核心器件, 但生产中发现高频SC切石英晶体谐振器的等效电感存在与理论值偏差、一致性差的问题。该文提出了石英晶体谐振器等效电感的计算模型, 并系统仿真了生产中可能影响等效电感一致性的因素。仿真结果表明, 电极厚度、微调量和微调斑偏移对等效电感的一致性影响不大, 而晶片的平行度是影响等效电感一致性的关键, 该结论有助于提高SC切石英晶体谐振器的指标和一致性。
SC切谐振器 晶片平行度 电极 等效电感 能陷理论 SC cut crystal resonator crystal parallelism electrode equivalent inductance energy trapping theory
采用水热法制备NaY(MoO4)2∶Eu3+@SiO2上转换发光材料,利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、傅立叶变换红外光谱(FT-IR)、荧光光谱(FL)等对合成样品的结构和发光性能进行分析,结果表明,NaY(MoO4)2∶Eu3+@SiO2核-壳结构样品与标准NaY(MoO4)2∶Eu3+的PDF各个特征衍射峰峰位保持一致,且均未出现杂质衍射峰; 微观形貌为核壳结构,NaY(MoO4)2∶Eu3+包覆在SiO2微球表面,得到亚微米级球体。XRD及表面元素含量测定结果表明,Eu3+占据了Y3+的晶格位置; SiO2微球中的Si-OH键可以键合其中的金属离子; 793 nm近红外光激发下,在616 nm处,观察到了Eu3+的上转换特征发射峰(红光发射峰),NaY(MoO4)2∶Eu3+@6.2SiO2粉体的光致发光强度达到纯NaY(MoO4)2∶Eu3+荧光粉体发光强度的3倍以上。
核壳结构 钼酸钇钠 上转换 SiO2微球 光致发光强度 core-shell structure NaY(MoO4)2 up-conversion SiO2 microsphere luminescence intensity
1 西南交通大学 电气工程学院，四川 成都 610031
2 中国电子科技集团 第二十九研究所，四川 成都 610036
针对目前正交频分复用(OFDM)雷达信号识别方法存在的问题，提出了一种具有可解释性的OFDM雷达信号识别方法。该方法是通过基于树结构的流程优化(TPOT)和与模型无关的局部可理解的解释性(LIME)相结合对OFDM雷达信号进行识别。针对OFDM雷达信号特性提取了复杂度特征和基于时频图矩阵的奇异值熵，组成特征向量；通过TPOT，得到表现最佳的机器学习流程；通过“解释器”解释预测结果，对识别结果做出是否识别正确的风险评估，同时可根据OFDM雷达信号的解释性，得到哪些信号不易区分。实验表明，该方法对信噪比为0 dB时的OFDM雷达信号的识别率达91%，通过LIME给出的解释性可以判断数据集中不易区分的雷达信号类型。
OFDM雷达信号 机器学习 奇异值熵 流程优化 局部可理解的解释性 Orthogonal Frequency Division Multiplexing radar s machine learning singular value entropy Tree-based Pipeline Optimization Tool Local Interpretable Model-agnostic Explanations 太赫兹科学与电子信息学报
2020, 18(2): 228
鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司, 内蒙古 鄂尔多斯 017000
目前, 薄膜晶体管型液晶显示器(Thin-Film Technology Liquid Crystal Display, TFT-LCD)已成为显示领域的主流产品, 而液晶面板是TFT-LCD的一个重要组成部分。LCD边缘漏光会导致画面失真, 影响可视效果, 造成画面显示品质下降、良率降低, 因此改善边缘漏光成为急待解决的问题。本文研究了液晶与PI膜层取向异常对边角漏光的影响、LC Pattern设计对边角漏光的影响、Si-Ball型号对边角漏光的影响等, 结果证明LC Pattern设计对边角漏光具有较好的改善效果, Pattern拉伸可改善边角漏光但更易造成液晶穿刺现象, 小滴优化不仅能改善边角漏光而且也能防止液晶穿刺。另外小型Si-Ball对边角漏光改善效果最优, 同时从信赖性验证等方面可以排除较小Si-Ball, 限定出Si-Ball选择范围。
边角漏光 TFT-LCD TFT-LCD edge light-leaking LC pattern LC Pattern Si-Ball Si-Ball
1 湘潭大学材料与光电物理学院, 湖南 湘潭 411105
2 北京农业信息技术研究中心, 北京 100097
3 农业部食物与营养发展研究所, 北京 100081
高光谱成像技术因具有图谱合一的特点在作物品种鉴别方面具有较大潜力, 但目前研究大多只提取利用了光谱信息, 对图像信息没有进行有效利用。 本文利用近红外高光谱成像仪采集了强筋、 中筋、 弱筋3个类型共计6个品种的单粒小麦种子高光谱图像, 提取了长、 宽、 矩形度、 圆形度、 离心率等12个形态特征, 并对图像中的胚乳和胚区域进行分割建立掩膜, 提取了胚乳和胚区域的平均光谱信息。 采用PLSDA和LSSVM方法建立基于图像信息的判别模型, 结果表明强筋、 弱筋两者二分类的识别率能达到98%以上, 强筋、 中筋两者二分类的识别率只能达到74.22%, 说明近红外高光谱图像的形态信息能够反映品种间差异, 但单独利用图像信息进行分类时准确度可能欠佳。 采用SIMCA, PLSDA和LSSVM方法建立了胚乳和胚区域光谱信息的多分类模型, 胚乳区域的分类效果较胚区域略好, 说明籽粒不同部位的形状差异会影响分类效果。 进一步融合光谱信息和图像信息, 采用SIMCA, PLSDA和LSSVM方法建立融合模型, 识别率较单独的图像或光谱信息模型均略有提升, PLSDA方法从原来的96.67%提升到98.89%, 表明充分挖掘高光谱图像所包含的形态特征和光谱特征可有效提高分类效果。
高光谱成像 小麦 单粒种子 分类 信息融合 Hyperspectral image Wheat Single seed Classification Data fusion 光谱学与光谱分析
2015, 35(12): 3369
1 装甲兵工程学院技术保障工程系, 北京市 100072
2 装甲兵工程学院控制工程系, 北京市 100072
在各种评价像管成像质量的方法中,调制传递函数是一种重要的评价方法.针对原有静电像管电子光学系统设计软件中子午线扩散函数计算的不足及其对调制传递函数的影响,对子午线扩散函数的数值计算方法进行改进.对多种典型像管的数值仿真结果表明,改进后的程序计算的子午线扩散函数更符合实际情况.
静电像管 子午调制传递函数 子午线扩散函数 electrostatic image tube meridian modulation transfer function meridian line spread function
1 北京京东方光电科技有限公司, 北京 100176
2 北京京东方科技集团股份有限公司, 北京 100176
为了满足市场对显示产品高分辨率的要求,需要从产品的设计和工艺各个方面进行优化,其中过孔尺寸和线宽两个因素对阵列基板分辨率影响最大,本文通过相移掩模技术可以实现对过孔尺寸的精确控制,通过在普通过孔上增加一定厚度和透过率的相移层,并对各种参数下过孔的光透过率进行模拟分析,可以获得不同相移层参数对过孔特性的影响,最后提出一种可以获得稳定微小过孔的方法.结果表明,通过对相移层透过率和宽度的控制,可以获得对曝光光强不敏感的稳定微小过孔,曝光量增大一倍乃至数倍的过程中,过孔尺寸始终保持稳定,提高了工艺容忍度.对于模拟中过孔尺寸可以小于设备的4 μm分辨极限.通过减小过孔尺寸,可以有效提升TFT显示产品的开口率,实现产品对高分辨率的要求.
薄膜晶体管液晶显示器 过孔 高分辨率 TFT LCD through-hole high PPI
