根据异物晕不良形成原因及修复方法，分析了成盒盒厚及压头直径对不良修复成功率的影响因素。当面板盒厚大小不同时，在相同压力值下修复成功率存在差异，不同盒厚产品对应的修复最佳压力值大小并不相同。面板盒厚越小达到最佳修复效果所需的压力值越大，反之亦然。压头直径的变化直接影响作用在基板表面的压强，随着压强增加，修复成功率先增后减，碎屏率在一定压强后显著增加。研究表明，在实际生产中对异物晕不良进行按压修复时，需针对不同型号的产品盒厚找出合适的压力，并通过达到最佳效果所需的压强找出合适的压头，以保障良好的修复效果。

本文基于飞秒激光烧蚀机制建立并通过实验验证了ITO区黑化法修复亮点的理论模型, 分析了各个工艺参数对修复效果的影响, 为亮点不良修复成功率的提升奠定基础。首先通过一系列实验点灯检测、显微镜图片和聚焦离子束(FIB)图片分析结果验证了所创建的修复理论模型; 然后利用对比试验分别探究了单脉冲激光单位面积的能量密度e、扫描速度v、激光频率f和光斑大小a等工艺参数对ITO区黑化效果的影响; 最后为了深入分析ITO区黑化法的烧蚀机理, 提出并验证了囊括所有工艺参数的变量“w”, 成功地为亮点不良修复成功率的提升提供了理论依据。实验结果表明, a在40~10.0 μm, e在1.0 mJ/mm2以上, w在4 250~12 500 mJ/mm2时, ITO烧蚀后的黑化效果均达到了暗点标准(≥95%), 且在点灯条件下未产生其他不良。根据实验结果, 将该理论模型和工艺参数分析应用到量产, 亮点不良修复成功率达到了95.5%。

在TFT-LCD产品中, 液晶扩散不均是一种常见的不良缺陷。此种缺陷形状不规则, 现象为液晶屏中存在形状不规则小气泡。它的主要原因是由于液晶未完全扩散导致的。为了改善这种缺陷, 本文通过流体Washburn模型模拟液晶扩散过程, 发现液晶流动时间和液晶初始位置是关键因素, 并利用上述两个关键因素设计实验。实验结果表明, 将液晶滴注形状由2×5型变更为“工”字型, 有效地解决了扩散不均的问题。同时将对盒设备进行实验, 发现抽真空时间增加至50 s更有利于此问题的解决。另外, 对加热设备进行实验, 发现加热实验延长至100 min, 同样有利于解决不良。所以, 改变液晶滴下的初始位置、增加抽真空时间、增加加热固化时间等方式可有效改善液晶扩散不均现象。

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)成盒配向膜涂覆工艺中, 配向膜的厚度、均一性和涂覆膜面质量直接影响液晶显示器的显示效果, 为此本文研究了喷墨涂覆工艺对配向膜质量的影响。首先优化喷墨涂覆工艺, 分析了喷吐频率对喷吐量及其均一性有显著影响。其次分析了负压、涂覆速度、配向膜溶液固含量、涂覆密度等条件对配向膜膜面质量的影响。实验表明当喷吐频率为1 000~8 000 Hz时, 喷吐量均一性满足要求; 当吐出频率达到10 000 Hz时, 喷吐量严重不均一, 不满足生产需求。得出喷涂频率、吐出量、负压、涂覆速度、配向膜溶液固含量、涂覆密度的优化条件分别为: 3 000~5 000 Hz、50~70 pL、中心值±100 Pa、500~600 mm/s、 (3.9 ±0.4)%、50%~50.3%。降低配向膜溶液固含量可改善涂覆性不均缺陷, 改变吐出密度可改善涂覆性不均缺陷, 画质质量得到提升。本文对成盒工段配向膜涂覆质量优化取得了良好效果, 能满足工程实践量产的需要。