针对同时检测锌溶液中痕量Cu ²⁺、Co ²⁺浓度存在的灵敏度低、有效波段窄、光谱信号覆盖严重的问题,提出了一种多目标优化分数阶微分预处理方法。首先根据光谱特点确定影响Cu ²⁺、Co ²⁺同时检测的覆盖度和失真度,并拟合微分阶次与指标的函数关系、约束条件,然后基于多目标粒子群优化算法求解,最后对多目标优化微分阶数方法进行验证。结果表明:所提方法可以重构完全被覆盖的低灵敏度、窄有效波段的离子波峰,解决光谱信号被完全覆盖的问题,并在最大程度降低求导滤波的失真度,降低Cu ²⁺、Co ²⁺的光谱覆盖率。

在分光光度法分析高浓度锌溶液中痕量钴离子浓度的过程中, 由于基体离子Zn(Ⅱ)与待测离子Co(Ⅱ)化学性质相近且基体离子浓度过高, 导致Co(Ⅱ)的光谱信号与Zn(Ⅱ)的光谱信号重叠, 大部分Co(Ⅱ)的光谱信号被Zn(Ⅱ)的光谱信号掩蔽, 在部分波长段溶液的吸光度与浓度呈现很强的非线性, 混合溶液加和性不佳, 因此无法通过全波段信息实现痕量Co(Ⅱ)浓度的检测。 该研究提出了间隔相关系数-偏最小二乘法对溶液的紫外可见光光谱进行波长点的筛选并建立吸光度-浓度模型。 首先设计实验获取锌钴混合溶液光谱图; 其后使用间隔分区的方法根据预测均方根误差这一指标挑选出Co(Ⅱ)的最优特征区间段, 以减少高浓度锌液的掩蔽作用并去除空白信息; 再在Co(Ⅱ)敏感区域使用相关系数法对吸光度矩阵进行波长点的精选, 所筛选出的点能最大程度保留Co(Ⅱ)灵敏度和线性度; 最后利用筛选出的波长建立PLS模型并计算出Co(Ⅱ)浓度。 将所提方法与全波段偏最小二乘, 分区偏最小二乘, 蒙特卡罗无信息变量消除偏最小二乘及竞争自适应加权偏最小二乘进行了分析比较, 结果表明所提出的方法所需波长数分别减少89.1%, 40%, 72.3%和81.7%, 模型精度分别提高64.6％, 33.3%, 38.7%和24.3%, 样本最大相对误差5.45%, 平均相对误差2.21%, 妥善的解决了高浓度锌液背景下痕量钴离子浓度检测问题。

文章介绍了TFT-LCD生产中，液晶滴下(One Drop Filling，ODF)所涉及真空贴合系统(Vacuum Align System，VAS)的结构及其发展情况，概述了VAS的工艺过程，重点介绍了该系统中真空单元、基板吸附单元和基板对位单元及其发展。

根据ODF(One Drop Filling)工艺的实际生产情况，探讨了液晶量、边框胶涂布效果、关键工艺生产节拍(Tact Time)和外围边框胶(Dummy Seal)设计方式对边框胶穿刺情况的影响，发现ODF工艺中液晶与未固化的边框胶接触是发生边框胶穿刺的根本原因。液晶量越大边框胶穿刺情况越严重; 边框胶涂布效果的直线性越好，其穿刺情况越轻微; 液晶与未固化边框胶的接触时间越长，其穿刺情况越严重，甚至出现大量漏液晶; 外围边框胶开口式设计有利于改善边框胶穿刺情况。