重庆京东方光电科技有限公司 产品技术部, 重庆 400700
残像是影响TFT-LCD画面品质的重要因素, 也是发生原因最为复杂的一种不良。本论文提出了一种定量测量残像水平的方法, 同时对TFT特性引起的残像不良进行了实验研究, 得到了由TFT特性引起的交流(AC)残像发生规律及发生机理。本文通过对比研究残像画面黑白格亮度与TFT漏电流变化曲线, 同时结合像素充放电计算公式进行电压差模拟, 发现黑白格像素放电差异导致的像素保持电位差异(ΔV>12.5 mV)是发生残像的根本原因。根据以上机理, 本论文提出了两种方法改善此类残像。第一种是通过改善TFT a-Si成膜工艺减小漏电流(<50 pA), 同时提升TFT特性的稳定性, 可以减小棋盘格画面残像评价导致的TFT转移特性曲线偏移; 第二种是通过改变栅压低电平, 避开关态时不同显示区域的TFT漏电流差异峰值; 以上两种方法均可以有效改善残像(ΔL<0.5 cd/m2)。
残像 薄膜晶体管 交流驱动 漏电流 保持电压 image sticking TFT AC driving leakage holding voltage
1 北京交通大学光电子技术研究所，北京 100044
2 ．京东方科技集团股份有限公司中央研究院，北京 100016
3 京东方科技集团股份有限公司中央研究院，北京 100016
制备了以聚合物为主体的磷光掺杂型有机电致发光器件，通过引入空穴阻挡层改善了载流子注入平衡，从而改善了器件的发光性能，通过比较直流和不同频率交流驱动下的电致发光．发现器件的发光随交流驱动电压的频率增大而减小。分析认为，频率影响到对空穴和电子的渡越时间。进而影响到其复合发光的几率。
聚合物电致发光 交流驱动 载流子复合 磷光 PLED AC driving carriers combination phOsph0rescence
电子科技大学光电信息学院，四川 成都 610054
驱动方式被认为是提高OLED稳定性的最重要因素之一。采用优良的蓝光材料AND并用NPB掺杂，制备了一种蓝光器件。通过对器件加反向电压处理后所表现出来的特性进行研究发现交流负半周期对OLED器件工作性能的提高起着很大的作用。通过对同一器件分别在直流驱动和交流驱动下做寿命测试对比实验，发现在交流驱动下器件的寿命提高很大。
交流驱动 反向电压 性能 寿命 OLED organic light emitting device AC driving reversed-bias capability lifetime
