在采用摩擦配向工艺实现液晶取向的TFT-LCD显示屏中, 外形不规则亮点不良主要有两种: 一种是由可见异物造成的亮点, 可以通过加强摩擦后清洗等改善; 另一种亮点不良并没有伴随可见异物发生。为提升TFT-LCD良率, 亟需明确后者的形成机理并制定改善对策。经分析发现, 此种不可见异物亮点位置处液晶取向异常, 通过进一步对不良区域微观结构和成分的分析, 确认该区域表面有厚约7.5~10 nm的杂质区, 造成液晶取向异常; 然后通过液晶和配向膜取向异常的再现性测试, 锁定摩擦布中背胶和柔顺剂残留是造成液晶取向异常的主要因素, 明确了此不良的发生机理; 最后, 在生产线实际测试了减少背胶和柔顺剂的摩擦布, 非异物亮点不良由0.6%降至0%, 验证了我们的机理推测和实验室测试结果的有效性。

在TFT-LCD（Thin film transistor-liquid crystal display）行业中, 进行摩擦工艺制程时, 玻璃基板与机台接触、分离; 摩擦辊与玻璃基板摩擦、摩擦机台顶针上升过程, 都容易产生静电击穿。针对一款在摩擦工艺过程中产生静电的GOA(Gate driver on Array)产品,结合摩擦工艺参数、生产环境, 进行了一系列静电相关验证。验证发现: 摩擦工艺中摩擦布寿命、环境湿度对静电发生影响很大。摩擦布寿命越靠后, 静电越容易发生; 湿度越大, 静电越不容易发生。摩擦机台顶针上升速度、摩擦布类型也对静电发生有一定影响, 顶针缓慢上升, 静电不容易发生; 摩擦棉布较尼龙布静电效果相对较好。而针对摩擦工艺发生的静电失效不良,光配向替代是一种根本的解决方法,导入光配向工艺后, 摩擦相关静电失效不良由量产6.8%下降为0%。

Panel污渍是TFT-LCD生产中一种常见的不良, 它直接影响到产品的画面品质和出售价格, 降低产品竞争力。本文通过研究发现大量panel污渍是摩擦产生的含Si元素杂质导致。实验表明: 降低制品膜面的粗糙度, 使杂质更易去除; 通过提升摩擦后的清洗能力, 也能有效去除杂质, 一定程度降低了panel污渍发生率; 而最后通过导入C系列摩擦布, 使摩擦过程中产生极少杂质。通过导入以上3种改善措施, 最终将55UHD产品的panel污渍发生率从8.2%降至0.2%。