Panel污渍是TFT-LCD生产中一种常见的不良, 它直接影响到产品的画面品质和出售价格, 降低产品竞争力。本文通过研究发现大量panel污渍是摩擦产生的含Si元素杂质导致。实验表明: 降低制品膜面的粗糙度, 使杂质更易去除; 通过提升摩擦后的清洗能力, 也能有效去除杂质, 一定程度降低了panel污渍发生率; 而最后通过导入C系列摩擦布, 使摩擦过程中产生极少杂质。通过导入以上3种改善措施, 最终将55UHD产品的panel污渍发生率从8.2%降至0.2%。

影像残留是TFT-LCD，特别是TN型产品常见的不良，对产品良率影响很大。本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残影进行分析。发现产品设计时Data线两侧段差过大，是导致残影发生的主要原因，通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残影，实验得出配向膜膜厚高于110 nm，摩擦强度高于5.5 N·m时无残影发生。通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5 h，摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h，并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场，从而降低残影。通过以上措施，对于15.6HD产品，良率提升了10%，为企业高效生产奠定基础。

通过对大量显示不均样品进行分析,找到了显示不均产生的直接原因和根本原因,并基于分析结果设计了改善显示不均的实验.通过分析发现:显示不均产生的直接原因是重力引起的柱形隔垫物位置偏移;根本原因是柱形隔垫物尺寸太小,周边没有可以阻挡柱形隔垫物位置偏移的金属线.实验结果显示:用盒子运输面板,或缩短面板在卡夹中的放置时间,可有效改善显示不均,但不适用于量产;此外,增大柱形隔垫物尺寸,从而减小柱形隔垫物周围空间可从根源上改善显示不均.通过将柱形隔垫物的尺寸由15 μm增加到23 μm,显示不均的不良等级由Level 4降为Level 2.5,不良得到有效改善.

通过对大量Zara样品进行分析，构建了不良现象——对应原因(PhenomenonCause)的4种理论模式，并基于此理论设计了改善Zara的实验。通过分析发现：约5 μm左右可移动的Zara主要为摩擦工艺过程产生的碎屑;10~25 μm按压不动的Zara主要为取向膜涂覆过程中的颗粒引起; 轮廓清晰尺寸较大的Zara主要来自环境颗粒;无清晰轮廓且体积较大的 Zara主要为摩擦取向失效形成的岛状漏光。为降低Zara不良进行实验，结果显示：增加取向膜在基板上的覆盖率以及变更彩膜涂层材料可有效降低Zara不良的发生率;此外，减小柱状隔垫物的坡度角度能够从源头上有效防止Zara的产生。Zara不良的研究与改善提升了小尺寸FFS产品的良率5%以上，为企业的稳定高效生产奠定了基础。