OLED电视在使用过程中会出现OLED显示屏因驱动电路的阈值电压漂移和寿命不足而导致性能退化的问题, 进而使显示屏出现残影(烧屏)现象。本文提出了采用像素补偿和电流补偿两种方案来消除或者减弱OLED显示屏的残影, 通过加速老化实验的方法, 验证了该两种方案能够有效消除或缓解OLED电视屏幕残影的产生, 可以使显示屏出现残影的时间点延后13 340 h, 将其正常使用时间延长近80%, 有效提高了OLED电视屏幕使用寿命。

为降低TFT-LCD生产过程中切换残影不良的发生率, 在考虑残影的主要影响因素基础上, 采用实验设计(DOE) 中的部分因子实验设计筛选该不良的显著因子, 结合生产实际开展切换残影的改善研究工作。研究结果表明: DOE方法能有效辨别残影不良的显著因子有覆盖层(Over coater, OC)、重叠部分(ITO-Vcom Overlay, OL)和摩擦扭转力(Rubbing Torque), 在实际生产的不良改善过程中, 彩膜玻璃(Color Filter, CF)增加OC、加大OL和提高Rubbing Torque值均能有效降低残影不良发生率; 研究结果为切换残影和改善TFT-LCD生产过程中其他不良提供了新思路。

研究了TFT-LCD的残影与驱动电路的关系。首先通过直流实验明确了驱动电路对残影会产生影响, 其次通过调节驱动频率证实了驱动电路中的数据线信号会对残影产生直接的影响, 最后通过改变数据线信号的极性证实了数据线信号的电势会影响残影的微观表现, 并对此进行了机理解释。分析表明驱动电路的极性是残影产生的必要条件, 通过调节电路的驱动模式能够改善残影。

采用光配向技术使PI获得配向能力并制得IPS型LCD, 通过AOI光学自动检测设备以及DMS光学测量系统对在不同PI固烤时间和UV曝光能量下获得样品的预倾角、对比度及穿透率进行了量测, 并研究了各条件下样品的残影(Image Sticking)性能。结果显示: 在900~2 700 s, 400~600 mJ/cm2范围内, 固烤时间和曝光能量对LCD光学性能影响较小, 但对残影性能影响较大, IS随曝光量增大有恶化的趋势, 且该趋势在高亚胺化程度下趋于平缓; 调整固烤时间及曝光能量可以获得较佳的残影性能, 固烤时间1 800 s, 曝光能量400~500 mJ/cm2条件的LCD残影性能较佳。

OLED（organic light-emitting diode, OLED）微显示器长时间工作在高对比度、高亮度的状态下, OLED像素衰退不一致, 发光亮度衰退也不一致, 会产生残影现象。因此, 提出了一种改进的电流型PWM像素驱动电路, 保持了对OLED像素衰退补偿效果, 同时可以读出OLED阳极电压, 计算得到OLED衰退信息, 以便于对OLED亮度衰退进行有效的补偿。文章中分析了改进的电流型PWM驱动电路结构, 及其对OLED衰退补偿和亮度补偿的原理。通过模拟仿真, 得到几个影响OLED衰退补偿效果的关键参数。当OLED像素衰退电阻Roled小于40 MΩ时, 该电流型PWM驱动电路电流衰退度与传统2T1C驱动电路相比, 只为其衰退度的50%。

影像残留是TFT-LCD，特别是TN型产品常见的不良，对产品良率影响很大。本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残影进行分析。发现产品设计时Data线两侧段差过大，是导致残影发生的主要原因，通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残影，实验得出配向膜膜厚高于110 nm，摩擦强度高于5.5 N·m时无残影发生。通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5 h，摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h，并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场，从而降低残影。通过以上措施，对于15.6HD产品，良率提升了10%，为企业高效生产奠定基础。

通过对大量残影不良样品进行分析，找到了残影不良产生的原因，并基于分析结果设计了改善残影的实验。通过分析发现: 残影不良产生的原因是彩膜侧像素与黑矩阵之间的段差过大，在摩擦工程时段差过大区域形成了摩擦弱区，摩擦弱区内的液晶分子配向较弱，导致不良产生。为降低残影不良进行实验，结果显示: 在彩膜侧加覆盖层可以有效降低残影不良的发生率，但不适用于量产; 通过采用高预倾角的配向膜材料，同时控制配向膜工程到摩擦工程的时间，可使残影不良发生率由28.2%降低至0.2%，为企业的稳定高效生产奠定了基础。

随着液晶显示技术的发展,PPI越来越高,像素尺寸越来越小,穿透率的提升是一重要问题.负性液晶相对正性液晶具有高穿透率,较好的画面画质及较低的颜色偏差等优点,使得主流显示模式IPS、FFS使用负性液晶研究逐渐增多.但由于负性液晶自身特性,其影像残留较正性液晶更为严重,特别是模组粘合附近区域的局部面残.为了改善负性液晶局部影像残留,本文研究了实际样品影像残留严重区域与轻微区域不同测量数据,如温度、共电压(Vcom)等,发现影像残留严重区域与轻微区域的公共电压出现漂移现象,分析了影响残影的因素,并提出改善方案,实测结果证明本文改善局部残影的方法是有效的.

利用mini-cell作为评价平台，从配向膜材料自身特性角度，对配向膜材料与面残影之间的关联性进行了综合研究。一方面，配向膜材料自身优异的稳定性有助于维持电压保持率(VHR); 另一方面，配向膜材料自身的低电阻率特性有助于存储电荷的释放，利于实现较低的残余电流(RDC)。而当配向膜材料的RDC和高低温间VHR变化值同时处于较低水平时，可以获得面残影水平较低的TFT-LCD模块。因此，利用mini-cell对配向膜材料进行评估，通过比较RDC以及ΔVHR数值，可以间接实现对TFT-LCD的残影结果评估，为实际生产中产品残影的改善提供了基础理论指导，具有重要的指导性作用。

有机发光二极管(OLED)微显示器在长时间显示高亮、高对比度的静态画面之后会产生像素衰退不同, 发光亮度衰减存在较大差异, 更新画面后存在残影现象。为此, 提出了一种电流PWM像素驱动电路对OLED像素衰退做出一定的补偿。文章介绍了电流PWM像素驱动电路的结构及其工作原理, 分析了电流PWM像素驱动电路对OLED像素衰退补偿原理。通过实验得出该电路结构中提高OLED衰退补偿效果的几个主要因素。在像素衰退差异在30 MΩ以下时, 电流PWM驱动电路的像素衰退率只有传统驱动电路的50%。