合肥鑫晟光电科技有限公司，安徽 合肥 230012
影像残留是TFT-LCD，特别是TN型产品常见的不良，对产品良率影响很大。本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残影进行分析。发现产品设计时Data线两侧段差过大，是导致残影发生的主要原因，通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残影，实验得出配向膜膜厚高于110 nm，摩擦强度高于5.5 N·m时无残影发生。通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5 h，摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h，并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场，从而降低残影。通过以上措施，对于15.6HD产品，良率提升了10%，为企业高效生产奠定基础。
残影 扭曲向列型 配向弱区 内部电场 image-retention twisted nematic alignment weak area internal electric field
合肥鑫晟光电科技有限公司，安徽 合肥 230012
通过对大量残影不良样品进行分析，找到了残影不良产生的原因，并基于分析结果设计了改善残影的实验。通过分析发现: 残影不良产生的原因是彩膜侧像素与黑矩阵之间的段差过大，在摩擦工程时段差过大区域形成了摩擦弱区，摩擦弱区内的液晶分子配向较弱，导致不良产生。为降低残影不良进行实验，结果显示: 在彩膜侧加覆盖层可以有效降低残影不良的发生率，但不适用于量产; 通过采用高预倾角的配向膜材料，同时控制配向膜工程到摩擦工程的时间，可使残影不良发生率由28.2%降低至0.2%，为企业的稳定高效生产奠定了基础。
残影 扭曲向列型 预倾角 面板 slow charging twist nematic pretilt angle panel
1 中国电子科技集团公司 第五十五研究所,南京 210016
2 中国人民解放军 驻七七二厂军事代表室,南京 210009
通过对负显蓝膜超扭曲向列型(STN)产品对比度差、字体不白等不良缺陷进行分析,提出采用高扭曲角、高陡度的液晶材料可以提高产品的对比度,采用单体透过率高的偏光片可以改善字体不白的缺陷,提高这类负显产品的光电性能。
负显蓝膜 超扭曲向列型 对比度 negative blue mode display STN contrast ratio
报道了用氢化非晶硅(α-Si:H)pin二极管作光敏层，扭曲向列型液晶(TnLC)作电光调制层的光寻址空间光调制器(OASLM)的设计、制作与性能测试.结果表明制得的(OASLM)分辨率大于20Lp/MM；在300Lux白光写入时对比度高于25:1；白光写入灵敏度约3Lux。
氢化非晶硅 pin二极管 扭曲向列型液晶 光寻址空间光调制器
