黑Gap是大尺寸TFT-LCD产品常见的一种不良，它直接影响产品品质，降低产品竞争力。本文分析了黑Gap的发生原因及机理，指出面板放在卡夹中受到与卡夹接触点较强外力挤压后发生形变，柱状隔垫物受损，不能及时恢复导致黑Gap的发生。实验表明管控面板在卡夹中的存放时间，限制面板进行加热或降低加热温度，减少加热时间; 增加面板与卡夹接触面积，减小面板与卡夹的接触角; 增加柱状隔垫物与面板接触密度及辅助柱状隔垫物顶面柱径大小均可有效改善黑Gap。通过导入以上措施，使得黑Gap发生率由改善前的8.58%降低至0.1%，大大提高了产品品质。
黑Gap 卡夹 接触面积 柱状隔垫物 black Gap cassette contact area post spacer
Rubbing Mura是以接触式摩擦工艺生产TFT_LCD产品时常见的顽固缺陷，尤其在HADS产品上不良发生率更高。本文对Rubbing Mura产生的原因及机理进行分析，发现该不良由TFT基板上的源极线(Source Data，SD)附近的Rubbing弱区漏光引起。研究了Rubbing强度(Nip值)、Rubbing布型号、Rubbing布寿命、黑矩阵(Black Matrix，BM)加宽和SD减薄对HADS产品的Rubbing Mura的影响，选择最优的工艺条件，Rubbing Mura的不良发生率由2.4%降至0%，改善效果明显。
HADS产品 Rubbing弱区 工艺条件 Rubbing Mura rubbing Mura super dimension switch production weak zone of rubbing process conditions
为降低TFT-LCD生产过程中切换残影不良的发生率, 在考虑残影的主要影响因素基础上, 采用实验设计(DOE) 中的部分因子实验设计筛选该不良的显著因子, 结合生产实际开展切换残影的改善研究工作。研究结果表明: DOE方法能有效辨别残影不良的显著因子有覆盖层(Over coater, OC)、重叠部分(ITO-Vcom Overlay, OL)和摩擦扭转力(Rubbing Torque), 在实际生产的不良改善过程中, 彩膜玻璃(Color Filter, CF)增加OC、加大OL和提高Rubbing Torque值均能有效降低残影不良发生率; 研究结果为切换残影和改善TFT-LCD生产过程中其他不良提供了新思路。
切换残影 实验设计 覆盖层 重叠层 摩擦扭转力 image-retention design of experiment over coater overlay rubbing torque
1 长春理工大学 材料与工程学院， 吉林 长春 130022
2 河北太行机械有限公司, 河北 石家庄 050000
研究了Yb3+/Er3+共掺杂和Ce3+/Yb3+/Er3+三掺杂及其随着Al(PO3)3含量改变的氟磷玻璃的光谱性能。从能量匹配及能级结构角度出发分析了Ce3+和Al(PO3)3对其光谱性能的影响。结果表明：在Yb3+/Er3+比为4∶1不变而同步增加其含量时，其上转换发光出现了由绿光到黄光再到红光的变化；随着玻璃中Ce3+的引入，产生了Er3+的4I11/2→4I13/2能级间无辐射弛豫速率增加现象，且上转换发光都有一定程度的减弱。随着Al(PO3)3含量的改变，其减弱程度也发生相应的改变。同时，通过对其上转换机理的分析得出了红、绿、蓝发光的光子过程。
氟磷酸盐 上转换 稀土离子 fluorophosphate up-conversion rare earth ions
