锥形半导体激光器具有高功率、高光束质量等特点, 因此受到广泛关注并成为研究热点。从3种结构(传统结构、分布式布拉格反射(DBR)结构、侧向光栅条纹结构)的锥形半导体激光器出发, 对国内外近十年具有代表性研究成果进行综述, 介绍其理论研究和实验进展, 并对锥形半导体激光器的未来发展进行展望。

为了准确、稳定地测量分析光柱镭射纸张及其印刷品的颜色，在分析了纸张微观结构的基础上，选用积分球式分光光度计，在纸张(或印刷品)的不同光柱周期内进行采样，同时在纸张（或印刷品）固定位置处旋转不同角度采样。将采集到的数据进行数学统计分析，建立了两种光柱镭射纸和印刷品的颜色色度值测量和色差计算方法。与现有方法相比，该测量方法在提高了工作效率的同时，也较大地提高了测量精度。该方法可为包装印刷企业的纸张、印刷品质量检测提供高效且客观的评价手段。

：为保证光电轴角编码器在恶劣工作环境下的细分精度，提出一种基于Hilbert-Huang变换的误差补偿方法。针对编码器系统受正弦振动引起的测角故障，提出一种莫尔条纹误差信号的数学模型；采用经验模态分解算法，获取误差信号的本征模态函数，分别对本征模态函数进行希尔伯特变换解调分析，提取包含干扰特征的莫尔条纹信号；同时，基于光电轴角编码器的精码信号方波信息，获取精码信号的基波时域频率；提取与基波时域频率匹配的本征模态函数包络分量。以24位光电轴角编码器为实验对象，实验结果表明：编码器莫尔条纹信号动态细分误差峰值由约200″降低到1.54″左右，细分精度明显提高。

为了分析不同分光光度计测量光柱镭射纸颜色的精度，选用X-Rite 7000A积分球式、X-Rite MA68Ⅱ多角度、X-Rite Spectro Eye45/0三种不同测量条件的仪器分别对光柱镭射纸的光柱方向和垂直光柱方向进行测量，比较不同仪器测量结果的稳定性和可靠性。数据分析表明，在X-Rite 7000A的大孔径和包含镜面反射光的测量模式下，光柱镭射纸不同位置的光谱均方差较小，沿着光柱方向的色度值变化不大，而垂直于光柱方向的色度值满足线性变化的关系，并且在同一位置测试纸张旋转 180°测量所得的色度值基本相同。通过分析垂直于光柱方向不同位置的色度值，提出了一种推算光栅条纹相对刻划方向的方法。

为了提高光电轴角编码器的细分精度，提出一种光栅条纹光电信号正弦性偏差的自动补偿方法，依据编码器精码转换的方波信息实现精码信号的自适应采样，完成光电编码器精码时域信号向等间隔空域信号的转换；通过实际采集24位光电编码器周期光栅条纹光电信号，并对其离散幅值序列做频谱分析，揭示了高精度光电编码器信号正弦性偏差的主要谐波成分并建立波形方程；根据光栅条纹光电信号的数学模型及幅值细分原理，建立了信号细分误差的补偿模型；采用粒子群优化算法辨识波形方程中的7个待定参量，并对信号进行修正。应用细分误差补偿模型对补偿前后的细分误差进行分析，结果表明，编码器光电信号的细分误差峰值由0.923″降低到0.316″。该方法可实际应用于编码器系统，能够提高编码器的环境适应性和测角可靠性。

介绍了彩色面结构光栅投影轮廓术的基本原理,该原理在投影光栅方面采用正弦编码的投影光栅,这样可以采用快速的直接光栅条纹解调的方法,实现了对被测物体单视角数据的测量,并对标准台阶进行了测量。分析了测量过程中存在的误差及其产生的原因;并针对各种误差提出了相应的改进或克服方法;最后,使用该方法对具有复杂自由曲面的脚型进行了测量,实验结果表明:该方法能够快速、准确地获取被测物体的三维数据。

利用(国内最近研制成功的)带聚酰亚胺膜底衬的金透射光栅与软X射线条纹相机相配合,(在LF11#激光装置上)使用波长为0.53μm的激光打靶,测量了平面Au靶软X射线时间分辨能谱。测量结果观察到了金等离子体的O带辐射强度随时间增加的现象。文章计算了光栅的衍射效率,并讨论了影响测量谱的几个关键因素。