作者单位
摘要
西安工业大学 光电工程学院,陕西 西安 710021
为了获得红外低折射率材料的光学常数,采用电子束热蒸发技术在多光谱硫化锌基底上以不同的基底温度分别制备了单层氟化钇(YF3)和氟化镱(YbF3)薄膜。通过分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪分别测试其在可见至远红外波段的透射率光谱曲线,使用包络法和色散模型拟合相结合的方法对其在可见至红外波段的光学常数进行了反演,得到了其在0.4~14 μm波段内的折射率与消光系数。采用椭偏测试结果验证了YF3和YbF3薄膜在0.4~1.6 μm波段内的光学常数正确性;将拟合得到的光学常数代入TFCalc 膜系设计软件,计算得到的单层薄膜的透射率光谱曲线与实测的光谱曲线吻合较好。实验结果表明,该方法获得的在超宽光谱0.4~14 μm范围内的光学常数准确、可靠。
光学常数 超宽光谱 色散模型 包络法 椭圆偏振法 optical constant ultra-wide spectrum dispersion model envelope method elliptical polarization method 
红外与激光工程
2021, 50(11): 20210371
作者单位
摘要
宁波大学 物理科学与技术学院,浙江 宁波 315211
为获得薄膜金属玻璃在可见-近红外波段的光学常数,采用真空磁控溅射技术在Si基底上制备Zr基(ZrCuNiAl(64.13∶15.75∶10.12∶10%at))薄膜金属玻璃.使用椭圆偏振光谱仪测量了样品在三个不同入射角的椭偏参数,并用Drude-Lorentz双振子模型对测出的椭偏参数进行拟合,得到薄膜在可见-近红外波段的光学常数与膜厚.用掠入射X射线反射法进一步测量样品的膜厚以验证椭圆偏振光谱仪测量结果的可靠性.结果表明,两种方法测出的样品膜厚一致,Drude-Lorentz双振子模型很好地描述了Zr基薄膜金属玻璃样品在可见-近红外波段的光学特性.在可见-近红外波段,样品在同一波长的椭偏参数ΨΔ随入射角增大而减小,介电常数实部为负值且随波长增大而减小,介电常数虚部为正值且随波长增大而增大;样品折射率明显小于消光系数,且折射率在1 070 nm处出现极大值,消光系数则在1 070 nm附近出现拐点,表明金属玻璃兼具一般金属和玻璃的光学性能.本文研究结果对Zr基及其它薄膜金属玻璃光学特性的研究和测量具有一定指导作用.
Zr基金属玻璃 薄膜 光学常数 可见-近红外波段 椭圆偏振法 Drude-Lorentz双振子模型 磁控溅射 Zr-based metallic glass Thin films Optical constants Visible and near-infrared region Ellipsometry Drude-lorentz two-oscillator model Magnetron sputtering 
光子学报
2020, 49(10): 1031001
作者单位
摘要
1 中国航天科工飞航技术研究院天津津航技术物理研究所天津市薄膜光学重点实验室, 天津 300308
2 哈尔滨工业大学光电子技术研究所可调谐激光技术国家重点实验室, 黑龙江 哈尔滨 150080
3 中国航天科工集团公司深圳航天工业技术研究院, 广东 深圳 518048
利用离子束溅射沉积制备了光学薄膜。基于椭圆偏振测量技术,研究了折射率、膜层厚度和表面层厚度与测试光斑大小的关系。研究结果表明,随着样品表面测试光斑尺寸的增加,薄膜折射率变小,膜层厚度、表面层厚度增加。使用反射光谱法和轮廓仪分别验证了各光学常数的光斑效应。研究结果表明,光学薄膜的折射率与膜层厚度具有弱横向非均匀性,采用大尺寸测量光斑能弱化这种非均匀性。
薄膜 光学常数 椭圆偏振法 光斑效应 
光学学报
2017, 37(10): 1031001
作者单位
摘要
宁波大学, 理学院, 浙江 宁波 315211
从在线Low-E玻璃光学机理出发, 用椭圆偏振光谱仪对在线Low-E玻璃功能层和过渡层的可见-近红外波段的光学常数进行研究.测量了样品在三个不同入射角的椭偏参数, 分别用Lorentz双振子模型和Cauchy模型来描述Low-E玻璃功能层和过渡层的光学色散特性.通过拟合椭偏参数获得在线Low-E玻璃的光学常数及每层膜厚度, 并用扫描电镜对样品的膜厚进行表征.结果表明, Lorentz双振子模型和Cauchy模型能很好地解释在线Low-E玻璃的光学特性; 同时, 椭圆偏振法也为多层膜系统提供了一种测定光学常数和膜厚的可靠方法.
在线low-E玻璃 光学常数 椭圆偏振法 Lorentz双振子模型 Online Low-E glass Optical constants Ellipsometry Lorentz two-oscillator model 
光子学报
2015, 44(5): 0531001
作者单位
摘要
浙江大学光仪系
本文提出了根据多个周期的Δ、ψ轨迹来判别薄膜折射率非均匀性的原则。实验结果表明CeF_3、LaF_3、NdF_3薄膜基本上是均匀的。而热基板沉淀的Zns不但具有两侧表面层,还具有折射率渐增的中心层。文中还分析了用常规椭偏法测量ZnS等薄膜时误差的分布和大小。
椭圆偏振法 薄膜光学 
光学学报
1987, 7(3): 254

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!