在相机研制过程中，电路参数的每次调整都伴随着对相机输出满阱的测试，参数调整繁复，满阱测试的次数过多。为获得最佳的满阱输出性能，对电路各项参数进行精确匹配，提高满阱测试的效率，设计了一套自动化满阱性能测试平台。研究了影响电荷耦合器件满阱性能的因素，建立了光子转移曲线模型，提出了一种光子转移曲线快速取点法，并讨论了模型和方法在满阱测试中的应用。搭建了包括光源系统、成像电路、和温度采集系统在内的测试平台，并完成了自动化流程的软硬件设计。将该测试平台应用于在研相机的测试，验证了平台构造和测试方法的正确性，测量精度优于±1.6%，满足科学级相机的研制使用要求。

荧光屏时间特性是评价像增强器性能的重要参数之一。微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间目前尚缺乏测试手段，基于传统像增强器余辉时间的测试方案，研制了纳秒级荧光屏余辉时间测试系统。该系统通过采样速率250 MHz的高速信号发生器完成对激光二极管光脉冲的激励，经由下降时间为0.57 ns的光电倍增管完成对荧光屏光信号的光电转换，μA量级的微弱光电流信号经放大及单端转差分电路，在AD9684中完成AD转换，随后荧光屏数字亮度信息经现场可编程门阵列（field programmable gate array, FPGA）后存储至DDR（double data rate）单元内，经上位机发出指令实现DDR内存的读取，通过USB3.0高速传输协议至上位机中。在数据处理中采用卡尔曼滤波及快速寻找下降沿算法，实现对采集数据的噪声滤波和余辉时间的准确测量。测试结果表明，该纳秒级荧光屏余辉时间测试系统可对具有超快光学特性的像增强器进行有效测试，P47型荧光粉的余辉测试结果达到118. 094 4 ns，重复度为2.08%。

逐级增益是评价打拿极光电倍增管（photomultiplier tube, PMT）性能的重要参数之一，目前国内仅有一台逐级增益测试系统，依靠人工操作，测试效率不高。为提高逐级增益测试效率，设计了一套打拿极PMT逐级增益自动测试系统。该系统使用由可控光阑、电动挡板等组成的自动光源实现光源输出强度连续可调，并通过控制高压模块、分压器模块和继电器模块实现逐级电压的通断。利用精度为0.01 nA的电流计模块完成信号的采集、处理和传输，实现对逐级增益的自动测量。实验证明，该系统可有效测量打拿极PMT的逐级增益特性，测试重复性在2%以内，满足测试需求。