提出一种基于X射线吸收光谱（XAS）的全能谱拟合方法，先通过样品元素的衰减系数曲线和射线源的本底能谱曲线获得样品的理论吸收能谱，再将理论吸收能谱与实际穿过样品的吸收能谱进行拟合，由退火算法计算得到薄膜样品的元素面密度值。该方案有效降低了噪声与探测器响应函数引入的误差。实验结果表明，系统在单元素下的测量结果重复测量标准偏差较小，测量不确定度在10^-4 g/cm²量级，且能进行多元素薄膜面密度的测量，满足惯性约束聚变实验中对金属薄膜无损与高稳定的测量需求。

提出了一种将数字光场成像技术应用到X射线闪烁体成像系统的方法.分析了闪烁体的发光原理和光强分布，设计了基于相机阵列的X射线光场成像系统，并用计算机模拟了闪烁体发光模型并进行了仿真.在3ds Max中采用相机阵列捕捉闪烁体发出的光线，获取不同视角的图像，合成了模拟微透镜阵列成像的光场数据，通过数字重聚焦方法得到闪烁体不同发光平面的图像序列.实验结果表明：未采用光场成像技术的X射线光学成像系统，景深较小，只能使闪烁体的一部分聚焦，其余部分会降低图像分辨率；而利用光场成像技术，在不改变光学系统基本结构的基础上，扩大了光学系统的景深，使整个闪烁体都在聚焦范围内，可以减小对闪烁体厚度的要求，获得比较好的图像质量，为实际模型的建立提供理论依据.