粉煤灰、 锂渣和钢渣作为工业废渣, 等质量替代水泥时其利用率往往较低, 为了大量地使用这些工业废渣。 采用X射线单晶衍射仪、 同步热分析仪、 傅里叶红外光谱仪和电镜扫描分析方法, 研究了锂渣、 粉煤灰和钢渣替代细集料后砂浆的水化产物、 光谱特性、 微观形貌, 并探讨了砂浆抗折/抗压强度随替代率(0%, 30%, 50%, 70%和100%)增长的变化规律。 研究结果表明: 四种浆体的水化产物主要为CSH凝胶、 Ca(OH)2、 少量的AFt和未水化的颗粒(Al2O3, SiO2), 其中水泥-锂渣浆体、 水泥-粉煤灰浆体、 水泥-钢渣浆体中的未水化颗粒还含有一定的Li2O·Al2O3·SiO2, Ca1.56SiO3.5·xH2O和RO phas。 四种浆体以3 467, 3 438, 2 923, 2 348, 1 638, 1 429, 1 111, 1 000, 768, 696和462 cm-1为特征峰, 但其峰强有所不同, 其活性也不同, 参与二次水化反应的程度也不同, 因此, 水泥-钢渣浆体中Ca(OH)2的含量明显高于水泥-粉煤灰浆体和水泥-锂渣浆体的现象; 但不管是矿物掺合料替代水泥还是细集料, 都在浆体中发挥着火山灰活性和填充作用。 含三种100%矿物掺合料砂浆的抗折强度和抗压强度均高于纯水泥砂浆, 分别(锂渣、 粉煤灰和钢渣)约高37.77%/51.88%, 14.71%/11.70%, 91.95%/34.88%, 但其达到峰值的掺量不同。 因此, 采用矿物掺合料替代细集料是可行的, 能大幅度提高工业废渣在混凝土行业中的使用, 且能达到节能减排的效果。

本文以聚苯乙烯纳米颗粒作为测量对象,分别采用最为常见的扫描电子显微镜法(SEM)和动态光散射法(DLS)测量其粒径.结果表明:电子显微镜法可观察颗粒形貌及结构,但测量误差偏大;动态光散射法可精确测量颗粒粒径及其分布状态.分析讨论了这两种测量方法的优缺点,对纳米颗粒测量具有重要的指导作用.

扫描电镜能直观观察样品的表面结构, 但其高分辨形貌成像图固有的噪声不利于图像分析。针对集成电路器件扫描电镜成像图的去噪声问题, 采用了通过滑动条方式自适应设置图像二值化阈值, 将数学形态学处理方法与图像二值化相结合, 实现了对图像噪声的自动去除处理; 同时还设计了通过手动勾勒图像中的多边形区域实现去除噪声的功能; 为使图像达到更好的效果, 系统还可允许针对自动去噪后的图像自行选择是否进行手动去噪, 并设计实现了风格直观简洁, 易于操作的交互式用户界面。对多幅集成电路器件扫描电镜成像图进行去噪声处理的结果和对去噪前后的图像进行无参考图像质量评价的数据表明, 该方法有效地改善了扫描电镜图的信噪比, 获得了突出前景等有用信息。

光栅参数测量技术是衡量光栅制作水平的重要标准。本文从直接测量法和间接测量法两个角度对现阶段较成熟的光栅参数测量技术进行了研究。重点介绍了原子力显微镜(AFM)测量法、扫描电子显微镜(SEM)测量法、激光衍射(LD)测量法以及散射测量术的测量原理和研究进展，指出了这些方法各自的优缺点和适用范围。AFM测量法和SEM测量法均可测得光栅的局部形貌信息，可用于检测光栅表面形貌缺陷; LD测量法和散射测量术反映的是激光照射区域的平均结果，其中LD测量法能得到光栅周期参数，而椭偏测量术能得到光栅周期以外的其他形貌参数。这些方法测得的光栅参数结果比较吻合，其中LD测量法不确定度最小，AFM次之，SEM最大。文章最后对未来光栅参数测量技术的发展方向进行了论述。

文章以扫描电镜（SEM）在TFT-LCD中的应用为题，介绍了扫描电镜的原理、构造，并通过实验数据分析对TFT-LCD生产中相关缺陷的产生原因进行调查。