作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083
采用分子束外延技术(MBE)制备了碲化镉(CdTe)原位钝化的中波碲镉汞(HgCdTe)材料。原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)测试结果表明,分子束原位外延的CdTe可见cross-hatch,表面粗糙度为1~2 nm,CdTe和HgCdTe界面结合紧密。微波光导测试结果显示,77 K时,与表面处理后非原位CdTe钝化的HgCdTe材料相比,CdTe原位钝化的HgCdTe材料的少子寿命较大。制备了分子束外延CdTe原位钝化的中波HgCdTe光伏器件,和相同材料上的非原位CdTe/ZnS双层钝化制备的器件I-V特性相似。
碲化镉 原位钝化 原子力显微镜 扫描电子显微镜 电压电流特性 CdTe in-suit passivation atomic force microscopy(AFM) scanning electron microscopy(SEM) I-V characteristics 
红外与毫米波学报
2022, 41(2): 413
高丹 1,2,*梁静秋 1梁中翥 1田超 1,2[ ... ]王维彪 1
作者单位
摘要
1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室, 吉林 长春130033
2 中国科学院大学, 北京100049
针对AlGaInP DH-LED的pn结特性进行了理论分析, 得出电流密度J与电压V的关系。通过Matlab进行模拟分析, 结果表明: 当温度(300 K)一定时, 在电压较小的情况下, 电流密度成直线形式增大; 当电压增大到一定值时, 电流密度成对数形式增大; 当电压过大时, 电流密度几乎不增大。随着电压的升高, 器件产生焦耳热增多, 影响器件的工作特性, 最终缩短LED的寿命。综合考虑, 最后得出理论上的最佳发光驱动电压范围为2~2.33 V。
电压电流特性 pn结 简并半导体 AlGaInP AlGaInP current-voltage relationship pn junction degenerate semiconducor 
发光学报
2013, 34(9): 1213
作者单位
摘要
电子科技大学 光电信息学院, 四川 成都610054
对OLED器件施加扫描电压时,器件的瞬态电压-电流特性表现出滞后现象。并且随着扫描电压的方向、扫描速度的不同,器件瞬态电压-电流曲线也不相同。使用具有ITO/CuPc/NPD/Alq3/LiF/Al结构的OLED器件做电压扫描测试,并尝试用p型深受主型陷阱能级的存在,以及深能级较长的充放电时间特性对OLED器件中载流子输运过程的影响来定性解释上述滞后现象,获得了比较满意的结果,为器件性能的进一步优化找到了方向。
有机电致发光 电压-电流特性 p型深受主能级 前向扫描 OLED voltage-current characteristic p-type deep accepter-like trap forward sweep 
发光学报
2009, 30(1): 51

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