中国激光, 2018, 45 (6): 0604001, 网络出版: 2018-07-05
基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量 下载: 990次
High-Resolution Surface Topography Measurement Based on Frequency-Domain Analysis in White Light Interferometry
测量 空间频域 白光干涉 2π模糊; 相干信息 相位突变 measurement spatial frequency domain white-light interference 2π ambiguity; coherence information phase jump
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