1 福州大学 物理与信息工程学院,福建 福州 350108
2 福建江夏学院 电子信息科学学院,福建 福州 350108
3 中国福建光电信息科学与技术创新实验室,福建 福州 350108
随着微型氮化镓(GaN)发光二极管(LED)制造工艺的不断进步,Micro-LED显示有望成为新一代显示技术并在近眼显示、大尺寸高清显示器件、柔性屏幕等领域大放异彩。在Micro-LED显示众多技术环节中,晶圆级Micro-LED芯片的检测是实现坏点拦截,提升显示屏良品率、降低整机制造成本的关键环节。针对大数量(百万数量级)、小尺寸(<50 μm)的晶圆级Micro-LED芯片阵列,现有的电学检测手段存在检测效率低、成本高等缺点。因此,提高检测效率、提升检测准确度、降低检测成本是晶圆级Micro-LED检测技术的发展趋势。本文首先介绍了晶圆级Micro-LED芯片检测时所需要检测的几个指标,其次详细介绍并分析了现有的或已经提出的检测手段,最后对晶圆级Micro-LED芯片检测技术进行总结并展望了未来技术发展方向。
Micro-LED 缺陷检测 接触型检测 无接触检测 Micro-LED defect inspection contact inspection non-contact inspection
1 福州大学物理与信息工程学院,福建 福州 350116
2 中国福建光电信息科学与技术创新实验室,福建 福州 350116
微米级间距发光二极管(Micro-LED)在材料、器件、工艺和应用场景方面具有诸多独特优势,随着未来显示器件向发光、开关、传感等多功能集成的方向发展,Micro-LED往往需要小电流密度驱动,驱动模式面临着巨大的挑战。为了实现小电流输入对LED发光器件的调控,基于相同的GaN材料和工艺平台,提出一种集发光和调控为一体的新型多功能集成发光三极管(LET)器件。该器件为双极型晶体管和发光二极管的垂直集成结构,通过改变基区电压控制电子运动到发光有源区的数量进而调控器件的发光效果;通过双极型晶体管(BJT)的电流增益效果实现了相同光效的输入电流从毫安级别降到了微安级别,并在一定电压范围内实现了高度线性调控。该LET器件可通过小功率信号进行控制和驱动,有望成为高密度、高集成度智能显示的一种变革性技术。
集成光学 发光三极管 集成器件 电流增益 调控性能 激光与光电子学进展
2022, 59(17): 1713001