采用溶胶-凝胶(sol-gel)工艺制备了Sb∶SnO2/SiO2复合膜。通过原子力显微镜(AFM)观察了薄膜样品的表面形貌,利用紫外-可见光谱,p-偏振光反射比角谱研究了复合薄膜的光学特性。结果表明,薄膜中的晶粒具有纳米尺寸(～35 nm)的大小,比表面积大,孔隙率高;薄膜的透光率高,可见光波段近95%;其光学禁带宽度约3.67 eV。因此Sb∶SnO2/SiO2纳米复合膜可作为气敏薄膜的理想选择。通过对三种不同的气体C3H8,C2H5OH及NH3气敏特性的测试表明,Sb掺杂大大提高了SnO2薄膜对C2H5OH的灵敏度,纳米Sb∶SnO2/SiO2复合膜的气敏灵敏度高于纯SnO2薄膜及Sb掺杂的SnO2薄膜。

利用p-偏振双面反射法、原子力显微术及激光损伤实验,对经不同化学清洗的K9平板玻璃基片表面的光学特性进行了综合表征.实验结果表明,经酸洗的玻璃表面,其消光系数明显减小,而光洁度和激光损伤阈值明显提高;通过进一步的碱洗,玻璃表面的光学性能仍可得到一定的改善.另外,随玻璃基片清洗程序的不断深入,p-偏振双面反射法测得的玻璃表面层光学参量的变化趋势,与观测的表面粗糙度及激光损伤阈值的变化趋势一致.

研究了在大芯径、多模功率光纤中传输的激光束光束质量和偏振与光纤长度的关系.用芯径为0.6 mm的国产石英光纤及芯径为0.4 mm和0.6 mm的3M光纤做样品,实验结果表明输出光束的光束质量因子M2值是光纤长度的双曲正切复合函数.线偏振光经光纤后其偏振度随光纤长度的变化呈指数衰减的关系.

Wigner分布函数作为一个同时表达空间/频率变量的函数,在光学领域中有着广泛的应用.提出了二维信号Wigner分布函数的数值计算方法,并模拟了一些二维实信号(圆孔,圆环和方孔)的Wigner分布函数.

采用溶胶-凝胶金属氧化物半导体薄膜,作为表面等离子体激元共振效应的光化学传感器的传感介质。分析了金属Ag膜与传感薄膜的光学参数对传感器灵敏度的影响。通过在金属层与传感层之间优化设计中间层,进一步提高了传感器灵敏度。选择SnO2薄膜及SiO2薄膜作为传感层与中间层,对三种气体NH3、C2H5OH、C3H8进行气敏实验,结果表明结构优化的传感器具有更高的灵敏度。

运用一种新的测量单面镀膜膜层光学参数的方法, 对不同热处理的GeTe半导体薄膜样品的光学参数进行了测量, 准确地获得了被测薄膜材料的光学参数, 并采用椭圆偏振光谱测量作比较研究。 以此为基础, 对用椭偏仪测得的数据进行拟合计算, 得出了样品材料在250～830 nm波段范围的复折射率曲线。

p偏振光在镀膜平板玻璃上、下表面反射光强比γ的角度调制曲线的性状与膜层光学参数密切相关。分析了γ与膜层折射率、消光系数及膜厚的相对梯度随光学参数变化的关系,为基于p偏振光双面反射的薄膜传感器选择最佳参数提供了理论依据,计算表明该类型传感器对膜层折射率的测量分辨率高达10-7。对不同工艺条件下得到的溶胶-凝胶SnO2膜进行光学参数测定及初步气敏实验,结果表明p偏振光双面反射可作为高灵敏度光化学传感器的检测方法。

采用溶胶-凝胶(sol-gel)法制备SnO2薄膜, 通过对薄膜的不同处理方式(热处理和氨处理)所获得的SnO2薄膜的比较, 研究了氨处理SnO2薄膜的光学性质。 实验结果表明氨处理溶胶-凝胶SnO2薄膜不仅具有良好的增透特性, 同时也具有较好的机械强度和电学性能。

基于p-偏振光双面反射法,提出了一种新的测量单面涂膜不对称膜系光学参数的方法,理论上分析了反射光强比γ随膜层折射率、消光系数及膜厚变化的规律,实验上测量了两种不同入射方式下偶氮染料掺杂聚甲基丙烯酸甲脂(PMMA)薄膜反射光强比γ的角度调制曲线,通过数值模拟与结果修正,准确地获得了该薄膜的光学参数。实验结果与理论模拟符合得很好。

实验研究了小口径铜蒸气激光器(CVL)输出特性与缓冲气体压强的关系。实验测出放电管有效阻抗随氖压在2.0 kPa到10.0 kPa范围内升高而增加。存在最佳氖压值2.7 kPa,使激光输出功率最大。随着氖压升高输出激光脉冲持续时间先降低后增加,极值处氖压为4.7 kPa。输出光束截面空间强度分布在高压下边缘强中心弱的情形更为严重。